原理圖

IC測(cè)試儀電路
這款I(lǐng)C測(cè)試儀非常簡(jiǎn)單,由兩個(gè)主要單元組成:
PIC18芯片,其GPIO連接到DIP20插座和UART USB連接
可以配置GPIO的VB.net程序
PIC18引導(dǎo)時(shí),首先執(zhí)行配置代碼,設(shè)置內(nèi)部振蕩器,UART模塊和GPIO。一旦啟動(dòng),PIC就會(huì)等待一個(gè)循環(huán)并通過UART外設(shè)讀取命令。這些命令包括:
D - PC已完成發(fā)送所有數(shù)據(jù)并準(zhǔn)備測(cè)試IC
R - 重置緩沖區(qū)并準(zhǔn)備新的data
1 - 將引腳設(shè)置為輸入或邏輯輸出1
0 - 將引腳設(shè)置為輸出或邏輯輸出0
20個(gè)GPIO引腳連接到DIP20插座,其中包括PORTB,PORTC和PORTD,一旦所有數(shù)據(jù)都流入,PIC就會(huì)配置GPIO來測(cè)試IC。為了正確配置,需要配置TRIS和LAT寄存器,為此,PC流40字節(jié),其中前20個(gè)字節(jié)配置TRIS寄存器,后20個(gè)字節(jié)配置LAT寄存器。

配置完所有GPIO引腳后,PIC會(huì)回流20個(gè)字節(jié),代表GPIO引腳的狀態(tài)(通過讀取PORT寄存器來完成)。

此IC測(cè)試儀可用于測(cè)試功耗低于10mA的設(shè)備,包括7400和4000系列設(shè)備。 PIC18上的GPIO甚至可以直接為VCC和VSS線路供電,但請(qǐng)記住遵循下列規(guī)則:
VCC引腳 - 將PIC引腳配置為輸出并設(shè)置LAT bit to 1
VSS引腳 - 將PIC引腳配置為輸出并將LAT位設(shè)置為0
輸入引腳 - 將PIC引腳配置為輸出并設(shè)置LAT位到x,其中x是測(cè)試變量
輸出引腳 - 將PIC引腳配置為輸入
此IC測(cè)試儀無(wú)法測(cè)試開路集電極輸出
IC測(cè)試程序
控制我們的IC測(cè)試程序的程序是用VB.net編寫的,是一個(gè)表單應(yīng)用程序,它使GUI應(yīng)用程序變得非常容易。在這一點(diǎn)上我應(yīng)該注意,這遠(yuǎn)不是一個(gè)完整的程序,可以大大改進(jìn)!主窗口有兩個(gè)標(biāo)簽頁(yè):
IC測(cè)試 - 用于測(cè)試IC
創(chuàng)建測(cè)試 - 這是一個(gè)簡(jiǎn)單的應(yīng)用程序,可以編寫測(cè)試稍微容易了
IC測(cè)試
“連接”按鈕用于將VB.net程序連接到需要在編譯程序之前確定的FTDI COM端口(通過轉(zhuǎn)到設(shè)備可以輕松找到COM端口)經(jīng)理和尋找連接的端口)。建立連接后,“刷新”按鈕用于顯示代表IC測(cè)試的文件列表。默認(rèn)情況下,該項(xiàng)目帶有兩個(gè)IC:4081四通道AND門和4049十六進(jìn)制非門。選擇列表中的一個(gè)IC測(cè)試,并將IC放在20DIP插槽中,并將兩個(gè)引腳1放在同一位置。然后按“測(cè)試IC”,程序?qū)?zhí)行測(cè)試。
測(cè)試文件由每三行代表一次測(cè)試的行組成。第一行包含TRIS配置數(shù)據(jù)(20個(gè)字符1或0),第二行包含LAT配置數(shù)據(jù)(20個(gè)字符1或0),第三行包含PORT寄存器的預(yù)期結(jié)果(20個(gè)字符1或0)。
執(zhí)行測(cè)試時(shí),程序首先確定程序中的行數(shù),然后將該數(shù)除以3;這表示需要執(zhí)行的測(cè)試數(shù)。然后,執(zhí)行每個(gè)測(cè)試,并且如果任何單個(gè)測(cè)試失敗(例如,來自PIC的20個(gè)字節(jié)與文件中的行不匹配),則測(cè)試失敗并返回錯(cuò)誤代碼。如果所有結(jié)果都按預(yù)期返回,則IC已通過!
創(chuàng)建測(cè)試
“創(chuàng)建test“選項(xiàng)卡用于創(chuàng)建IC測(cè)試文件。雖然這些可以手動(dòng)編寫,但可視化哪些位控制哪些引腳以及它們的預(yù)期值應(yīng)該是非常棘手的。因此,創(chuàng)建測(cè)試頁(yè)面可用于執(zhí)行此操作。該頁(yè)面顯示了許多表示TRIS(GPIO的方向),LAT(GPIO需要輸出的值)和RES的復(fù)選框,這是該引腳的預(yù)期結(jié)果(開或關(guān))。
為了更好地理解如何使用它,讓我們?yōu)?081 IC創(chuàng)建一個(gè)測(cè)試。該IC有四個(gè)AND門,因此我們將進(jìn)行一個(gè)簡(jiǎn)單的測(cè)試,試圖打開AND門的所有輸出。下圖顯示了創(chuàng)建測(cè)試頁(yè)面上的引腳分布和覆蓋圖,因此您可以看到哪個(gè)GPIO連接到哪些引腳。


要打開AND門的輸出,我們需要打開兩個(gè)輸入,所以我們需要將相應(yīng)的引腳設(shè)置為輸出(將TRIS框設(shè)置為未標(biāo)記,表示0)。 AND門的輸出將由GPIO讀取,因此需要檢查這些TRIS位,這代表1.由于我們將向所有AND門輸入饋送1,我們還需要檢查它們相應(yīng)的LAT位(這使GPIO切換到VCC。
VCC和VSS都需要將其TRIS位清零,但只有VCC引腳(引腳20)的LAT位會(huì)被檢查,因?yàn)閂SS需要接地,這是通過將GPIO設(shè)置為0來完成的。下面是4081四通門的完整檢查設(shè)置,當(dāng)兩個(gè)輸入都打開時(shí),它檢查AND門功能。

需要將未使用的I/O設(shè)置為輸出,并且需要將其輸出位設(shè)置為1以及預(yù)期結(jié)果。要添加此測(cè)試,請(qǐng)單擊“添加測(cè)試”。但是我們可以通過更改復(fù)選框并單擊“添加測(cè)試”來為同一IC添加更多測(cè)試。因此,我們將添加第二個(gè)測(cè)試,檢查其中一個(gè)輸入關(guān)閉時(shí)AND輸出是否關(guān)閉。

現(xiàn)在我們有兩個(gè)測(cè)試,我們可以單擊“創(chuàng)建測(cè)試”,這將生成一個(gè)文本文件,其中包含代表兩個(gè)不同測(cè)試的六行數(shù)據(jù),系統(tǒng)只有在通過兩個(gè)測(cè)試時(shí)才會(huì)通過IC!

該項(xiàng)目可以使用大多數(shù)電路構(gòu)造方法構(gòu)建,并且非常容易構(gòu)建。電路板從FTDI 232 USB轉(zhuǎn)串口轉(zhuǎn)換器獲得電源,無(wú)需電源電路,PIC僅連接到編程器,串行端口和DIP 20,因此該項(xiàng)目非常容易制作使用電線。
適用于該項(xiàng)目的電路構(gòu)造技術(shù)包括條形板,面包板,矩陣板,甚至PCB。我在這個(gè)項(xiàng)目中使用了PCB,因?yàn)槲也惶矚g接線電路,我想測(cè)試一下我購(gòu)買的干膜焊膜。它效果很好!
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測(cè)試儀
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