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FinFET逐漸失效不可避免,英特爾研發(fā)全新設計的晶體管GAA-FET

牽手一起夢 ? 來源:Ai芯天下 ? 作者:佚名 ? 2020-04-01 16:01 ? 次閱讀
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前言:

不可否認,5nm制程的演進是各項技術和產業(yè)逐步成熟、變革的必經之路,亦是根基。

5nm是核心工藝的重要節(jié)點

5nm先進制程已不僅僅是代工廠商之間的戰(zhàn)爭,它亦是核心工藝和半導體材料走到極限的重要轉折節(jié)點。

當芯片制程演進到5nm,它晶體管的集成度和精細化程度都要比以往更高,可容納更復雜的電路設計,并將更豐富的功能融入其中。

但從目前行業(yè)的普遍應用上看,許多產品用28nm、14nm,甚至10nm就已綽綽有余,再費勁花更高的成本與精力來研發(fā)5nm制程,暫且看來就是個賠本的買賣。

話雖如此,當我們把目光放至未來,隨著5GAI技術的發(fā)展,以及全球大數(shù)據(jù)的爆發(fā)式增長,5G智能終端、VR/AR產品、機器人AI和超算等產品的成熟和應用,都將對芯片的性能、能耗和算力都有著更加嚴格的要求。

FinFET工藝盛行多年

FinFET和FD-SOI使摩爾定律得以延續(xù)傳奇,之后兩者卻走出了不同的發(fā)展道路。FinFET工藝先拔頭籌,英特爾最早于2011年推出了商業(yè)化的FinFET工藝技術,顯著提高了性能并降低了功耗,之后臺積電采用FinFET技術亦取得了巨大的成功,隨后FinFET大放異彩,成為全球主流晶圓廠的首選。

隨著制程工藝的升級,晶體管的制作也面臨著困難,英特爾最早在22nm節(jié)點上首發(fā)了FinFET工藝,當時叫做3D晶體管,就是將原本平面的晶體管變成立體的FinFET晶體管,提高了性能,降低了功耗。

FinFET晶體管隨后也成為全球主要晶圓廠的選擇,一直用到現(xiàn)在的7nm及5nm工藝。

隨著制程技術的升級,芯片的電晶體制作也面臨著瓶頸。英特爾最早在22納米的節(jié)點上首先使用了FinFET電晶體技術,不僅提高了芯片的性能,也降低了功耗,隨后,F(xiàn)inFET電晶體也成為全球主要晶圓廠制程發(fā)展的選擇,一直用到現(xiàn)在的7納米及5納米制程節(jié)點上。

FinFET與FD-SOI兩大工藝各有千秋,但隨著制程推進到5nm節(jié)點,工藝技術的發(fā)展又將面臨一個新的分水嶺。

在大多數(shù)業(yè)內人士看來,現(xiàn)階段包括FinFET和FD-SOI在內的芯片工藝,都將在5nm制程之后失效。

FinFET逐漸失效不可避免,英特爾研發(fā)全新設計的晶體管GAA-FET

與FinFET的不同之處在于,GAA設計通道的四個面周圍有柵極,減少漏電壓并改善了對通道的控制,這是縮小工藝節(jié)點時的基本步驟。通過使用更高效的晶體管設計,加上更小的節(jié)點,將能實現(xiàn)更好的能耗比。

資深人士對此也提及,工藝節(jié)點不斷前進的動能在于提升性能、降低功耗。而當工藝節(jié)點進階到3nm時,F(xiàn)inFET經濟已不可行,將轉向GAA。

值得注意的是,GAA技術也有幾種不同的路線,未來的細節(jié)有待進一步驗證。而且,轉向GAA無疑涉及架構的改變,業(yè)內人士指出這對設備提出了不同的要求,據(jù)悉一些設備廠商已在開發(fā)特殊的刻蝕、薄膜設備在應對。

目前,全球FinFET工藝已邁入5納米制程,F(xiàn)D-SOI工藝也邁進了12納米進程。但英特爾、臺積電、三星都在準備3納米甚至2納米工藝。據(jù)悉針對下一個節(jié)點3納米,正在開發(fā)一種全新設計的晶體管GAA-FET,和目前使用的FinFET又不一樣。

FinFET逐漸失效不可避免,英特爾研發(fā)全新設計的晶體管GAA-FET

FinFET逐漸失效不可避免

半導體工藝制程在進入32nm以下的節(jié)點后,每一步都歷盡艱辛。在如此小的尺度上,人們習以為常的傳統(tǒng)物理定律都會逐漸失去效果,量子效應逐漸成為制程前進的攔路虎。為此,科學家和工程師們在過去的數(shù)年間發(fā)明了各種各樣的增強技術來對抗繼續(xù)微縮尺度所帶來的不確定性。

包括High-K、特種金屬、SOI、FinFET、EUV等技術紛至沓來,終于將半導體工藝的典型尺寸推進至7nm時代、甚至5nm時代。但是如果要進一步向更小尺寸的工藝節(jié)點前行的話,人們又遇到了更多的麻煩。

現(xiàn)有半導體制造的主流工藝往往采用“鰭片晶體管”也就是FinFET技術進行,它成功地延續(xù)了22nm以下數(shù)代半導體工藝的發(fā)展。從技術發(fā)展角度來看,平面晶體管在尺寸縮小至22nm后,漏電流控制將變得很困難。這是因為勢壘隧道效應導致了電流泄露。

從22nm時代開始,F(xiàn)inFET就成為各家廠商用于縮小晶體管尺寸的法寶。不過再好的法寶也有失效的一天。

隨著晶體管尺度向5nm甚至3nm邁進,F(xiàn)inFET本身的尺寸已經縮小至極限后,無論是鰭片距離、短溝道效應、還是漏電和材料極限也使得晶體管制造變得岌岌可危,甚至物理結構都無法完成。

FinFET逐漸失效不可避免,英特爾研發(fā)全新設計的晶體管GAA-FET

GAA因成本昂貴+難度極高成難點

半導體工藝發(fā)展到現(xiàn)在,雖然單個晶體管成本下降,但是就整體工藝流片和投產而言,成本是一路上揚的,并且技術難度越來越高。

新世代工藝已經高度集中到三星、臺積電和英特爾三家廠商手中,其他廠商無論是錢不夠,還是技術不夠,都已經無法染指新的GAA工藝。

從65nm到5nm時代,28nm工藝的成本為0.629億美元,但到了5nm時代,成本將暴增至4.76億美元,在3nmGAA時代,這個數(shù)值將進一步提升。三星宣稱3nm GAA技術的成本比5nm會上升一些,可能會超過5億美元。

昂貴的價格相對應的是極高的工藝難度。三星給出的有關制造GAA晶體管的工藝過程顯示,GAA的制造和傳統(tǒng)的FinFET有一定的相似之處,但是其技術要求更高,難度也更大一些。

FinFET逐漸失效不可避免,英特爾研發(fā)全新設計的晶體管GAA-FET

GAA制造方式主要是通過外延反應器在集體上制造出超晶格結構,這樣的結構至少需要硅鍺材料或者三層硅材料堆疊而成,并且還需要形成STI淺槽隔離,接下來需要多晶硅偽柵成像、隔離層和內部隔離層成型、漏極和源極外延、溝道釋放、高K金屬柵極成型、隔離層中空、環(huán)形觸點成型等。

其中的難點在于如何環(huán)繞著納米線(片)溝道的柵極,其中STI淺槽隔離結構后期的隔離層等制造都非常困難。

除了制造本身外,GAA工藝要求EUV光刻的配合。因為現(xiàn)在半導體尺寸已經如此之小,甚至遠遠小于光源的波長,EUV已經是必須的方法。

但是目前EUV光刻機還不夠成熟,芯片產能和速度都不夠快,因此在早期可能只有一部分采用EUV光刻完成,其余的部分依舊會采用沉浸式光刻和多重成像技術。

結尾:

雖然目前包括三星、臺積電、英特爾都對GAA技術表示興趣或者已經開始試產,但是GAA技術究竟是不是5nm之后甚至3nm和更遠時代的最佳選擇,業(yè)內還是有一些不同意見,但就目前來看,GAA還是很接近的。

責任編輯:gt

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