電子顯微鏡下英特爾的14nm+++和臺積電的7nm
單純從名字上看，臺積電在工藝制成方面明顯領(lǐng)先于英特爾，不過情況似乎并不是這樣，此前英特爾也表示，臺積電的命名方式有爭議，并非按照實際物理數(shù)值。臺積電也表示，很早就不按照物理數(shù)值命名了。那么英特爾和臺積電的制程工藝差多少呢？ 一位加拿大博主拿來電子顯微鏡，專門對比了英特爾的14nm+++和臺積電的7nm，對應(yīng)產(chǎn)品為i9-10900K和銳龍9 3950X。結(jié)果比較有意思，雖然兩者命名差距很大，但從電子顯微鏡中看，兩者差別很小。
英特爾14nm+++和臺積電的7nm
英特爾14nm+++和臺積電的7nm 實際上英特爾14nm+++的晶體管柵格寬度為24nm，而臺積電7nm的晶體管柵格寬度為22nm，而且柵格高度也很相似。從數(shù)據(jù)上看臺積電7nm確實領(lǐng)先英特爾14nm+++，但領(lǐng)先幅度非常有限。如此看來，英特爾的10nm超越臺積電7nm是沒有問題的，看來在營銷方面，臺積電還是有一手啊。
原文標(biāo)題：電子顯微鏡下看英特爾14nm+++和臺積電7nm
文章出處：【微信公眾號：TSMC】歡迎添加關(guān)注！文章轉(zhuǎn)載請注明出處。
責(zé)任編輯：haq
聲明：本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人，不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用，如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題，請聯(lián)系本站處理。
舉報投訴
-
芯片
+關(guān)注
關(guān)注
463文章
54007瀏覽量
465932 -
英特爾
+關(guān)注
關(guān)注
61文章
10301瀏覽量
180418 -
臺積電
+關(guān)注
關(guān)注
44文章
5803瀏覽量
176285
原文標(biāo)題：電子顯微鏡下看英特爾14nm+++和臺積電7nm
文章出處：【微信號：TenOne_TSMC，微信公眾號：芯片半導(dǎo)體】歡迎添加關(guān)注！文章轉(zhuǎn)載請注明出處。
發(fā)布評論請先 登錄
相關(guān)推薦
熱點推薦
簡儀PCIe-9604DC模塊在掃描電子顯微鏡中的應(yīng)用
掃描電子顯微鏡（Scanning Electron Microscope，簡稱SEM）是電子顯微鏡的重要類別。它擅長捕捉樣品表面的微觀形貌，能清晰呈現(xiàn)納米級別的表面起伏、結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)，比如觀察金屬材料的斷口形態(tài)、生物細(xì)胞的表面紋理。這種“表面成像”能力使其成為材料失效分析、生
如何選擇合適的顯微鏡（光學(xué)顯微鏡/透射電鏡/掃描電子顯微鏡）
合適的顯微鏡成為許多科研工作者關(guān)心的問題。透射電子顯微鏡當(dāng)研究需要觀察納米尺度（通常小于100納米）的結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)時，透射電子顯微鏡（TEM）無疑是首選工具。這種顯微
共聚焦顯微鏡和電子顯微鏡有什么區(qū)別？
在現(xiàn)代科研與高端制作領(lǐng)域，微觀探索依賴高分辨率成像技術(shù)，共聚焦顯微鏡與電子顯微鏡是其中的核心代表。在微觀檢測中，二者均突破傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡局限，但在原理、性能及應(yīng)用場景上差異顯著，適配不同領(lǐng)域的需求
掃描透射電子顯微鏡的三種模式
很多人以為穿透式電子顯微鏡ＴＥＭ就是倍率比較高的掃描式電子顯微鏡ＳＥＭ，但其實ＴＥＭ擁有許多強(qiáng)大的應(yīng)用，是科技業(yè)不可或缺的研發(fā)檢測工具。
壓電物鏡定位器讓冷凍電子顯微鏡中的原子清晰可見
項技術(shù)的核心挑戰(zhàn)之一，便是在原子冷凍的狀態(tài)下，也能實現(xiàn)極高的成像精度。 一、冷凍電子顯微鏡：窺探原子結(jié)構(gòu)的眼睛 冷凍電子顯微鏡（Cryo-electron microscopy，簡稱cryo-EM）是一種利用
電子顯微鏡配哪樣的UPS不間斷電源比較好 優(yōu)比施UPS電源為您解答
在科研實驗室和高端制造領(lǐng)域，電子顯微鏡是不可或缺的重要設(shè)備。這類精密儀器對電力供應(yīng)的穩(wěn)定性和純凈度要求極高，任何電壓波動或電力中斷都可能導(dǎo)致設(shè)備損壞或數(shù)據(jù)丟失。因此，為電子顯微鏡配置合適的UPS
掃描電鏡與掃描電子顯微鏡：解析二者的關(guān)系與區(qū)別
在科研、工業(yè)檢測等領(lǐng)域，“掃描電鏡”和“掃描電子顯微鏡”這兩個術(shù)語經(jīng)常被提及。對于剛接觸相關(guān)領(lǐng)域的人來說，很容易對它們產(chǎn)生困惑，不清楚二者之間究竟存在怎樣的聯(lián)系和區(qū)別。其實，從本質(zhì)上來說，二者有著
透射電子顯微鏡(TEM)的工作原理
什么是透射電子顯微鏡？透射電子顯微鏡（TEM）的原理根基在于電子與物質(zhì)的相互作用。電子槍發(fā)射出的電子束，經(jīng)由電磁透鏡系統(tǒng)聚焦與加速，達(dá)到高能
什么是透射電子顯微鏡？
透射電子顯微鏡透射電子顯微鏡（簡稱透射電鏡）是一種利用加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，通過電子與樣品原子的碰撞產(chǎn)生立體角散射來成像的儀器。散射角的大小與樣品的密度、厚度密切相關(guān)
透射電子顯微鏡在金屬材料的研究
價值的指導(dǎo)。透射電子顯微鏡的工作原理與強(qiáng)大功能透射電子顯微鏡是一種借助高能電子束穿透樣品，并通過電磁透鏡進(jìn)行成像與分析的精密設(shè)備。其工作原理基于電子與物質(zhì)之間的相互
電子顯微鏡中的磁透鏡設(shè)計
十九世紀(jì)末，科學(xué)家首次觀察到軸對稱磁場對陰極射線示波器中電子束產(chǎn)生的聚焦作用，這種效應(yīng)與光學(xué)透鏡對可見光的聚焦作用驚人地相似。基于此，Ruska等人在1938年發(fā)明了利用電子束作為光源的電子顯微鏡。與光
什么是透射電子顯微鏡（TEM）？
透射電子顯微鏡透射電子顯微鏡簡稱TEM，是一種高分辨率的微觀分析儀器，自1933年發(fā)明以來，已成為探索微觀世界的強(qiáng)大工具。其工作原理是在高真空環(huán)境下，電子槍發(fā)射
帶你一文了解掃描透射電子顯微鏡
掃描透射電子顯微鏡（STEM）掃描透射電子顯微鏡（STEM）是一種融合了透射電子顯微鏡（TEM）和掃描電子顯微鏡（SEM）部分特點的先進(jìn)顯微
透射電子顯微鏡(TEM)的優(yōu)勢及應(yīng)用
在現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)的諸多領(lǐng)域中，透射電子顯微鏡（TransmissionElectronMicroscope,TEM）以其卓越的性能和廣泛的應(yīng)用，成為了材料科學(xué)、生命科學(xué)以及納米科技研究中不可或缺的重要
聚焦離子束掃描電子顯微鏡（FIB-SEM）的用途
離子束掃描電子顯微鏡（FIB-SEM）是將聚焦離子束（FIB）技術(shù)與掃描電子顯微鏡（SEM）技術(shù)有機(jī)結(jié)合的高端設(shè)備。什么是FIB-SEM？FIB-SEM系統(tǒng)通過聚焦離子束（FIB）和掃描電子顯微鏡
工商網(wǎng)監(jiān)
評論