美國(guó)高精度非接觸式測(cè)厚儀，采用白光干涉原理，可快速測(cè)量12μm－80mm透光材料的厚度，精度為0．1μm，測(cè)單層和多層厚度（20層），可選多探頭配置，內(nèi)部自校準(zhǔn)，NIST追溯。

工作原理

該光學(xué)探頭將1310nm不可見紅外光通過透明、半透明或有色材料反射回OptiGauge，并將每個(gè)內(nèi)部表面的反射發(fā)送回OptiGauge， 在OptiGauge中，先進(jìn)的軟件以易于操作的圖形界面提供實(shí)時(shí)分析。

主要特點(diǎn)

? 測(cè)量范圍 12 μm －16 mm

? 精度±0．1 μm

? 單層和多層測(cè)量

? 探針靈活配置

? 連續(xù)內(nèi)部校準(zhǔn)

? NIST追溯

? 臺(tái)式或機(jī)架安裝

典型應(yīng)用

? 醫(yī)療— 球囊、導(dǎo)管（管壁、內(nèi)徑、外徑）

? 玻璃— 汽車、浮板、平板、電子顯示、光學(xué) （厚度、內(nèi)層）

? 眼科 — 隱形眼鏡、人工晶狀體 （CT， SAG）

? 工業(yè) — 薄膜、涂層、包裝、粘合劑、阻擋層 （厚度）

OptiGauge? 核心單元

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