美國Hinds Instruments研發(fā)基于PEM光彈調(diào)制原理的Exicor高精度應力雙折射測量系統(tǒng)、Microlmager應力測量顯微鏡、穆勒矩陣測量儀、偏振測量儀、各向異性測量儀、消光比測量儀、PEM光彈調(diào)制器、鎖相放大器等。

美國Hinds的雙折射測量技術已經(jīng)被世界范圍內(nèi)的行業(yè)領導者采用，以無與倫比的精度、分辨率和重復性測量表征材料中的應力雙折射。能夠在0．001nm分辨率下測量光阻，最低噪聲為0．005nm， 這些系統(tǒng)是強大的、動態(tài)的和可擴展的，可以滿足您的的應用需求。我們提供跨光譜（DUV， VIS和NIR）的測量系統(tǒng)， 并能夠測量幾乎所有的光學材料。

Hinds 儀器的Exicor雙折射測量系統(tǒng)型號150AT是Exicor＆reg；雙折射測量系統(tǒng)系列產(chǎn)品的工作平臺。該系統(tǒng)具有足夠的多功能性，在生產(chǎn)車間和研發(fā)實驗室環(huán)境中均可勝任。該模型廣泛用于研究和工業(yè)中測量組件； 如光掩膜和光刻膠、DVD空白、塑料薄膜、透鏡毛坯、激光晶體、手機顯示窗、注塑件等等。臺式設計和直觀的自動掃描軟件使該產(chǎn)品成為高價值精密光學元件和商品光學元件（高達150mm X 150mm）的日常評估的最佳選擇。

前沿靈敏度和重復性

使用Hinds儀器專利光彈性調(diào)制器技術，該系統(tǒng)提供最高水平雙折射靈敏度。此外，PEM提供高速操作，以50千赫的速率進行調(diào)制。前沿靈敏度和重復性很容易提供亞納米級的雙折射測量，對許多應用至關重要。

專為簡單、直接的操作而設計

一個大至6“x 6”（可選大尺寸）的光學樣品可以通過手動或自動映射和圖形顯示進行表征。一旦將樣本放置在翻譯階段，直觀的軟件就可以指導操作員完成步驟測量過程。用戶界面軟件計算延遲值和快軸角度，并以各種格式顯示它們。該軟件還提供文件管理和校準功能。

應用

質(zhì)量控制計量
低水平雙折射測量的有

平滑玻璃

科學光學元件

激光晶體

DVDs

光刻組件的質(zhì)量驗證，包括

光掩模

熔石英光學元件

氟化鈣鏡片毛坯和窗口

主要特點

在低水平雙折射測量中具有

同時測量雙折射幅度和角度

精確度可重復性

高速測量

光學系統(tǒng)中無移動部件

可變尺寸光學元件的自動映

光彈調(diào)制器技術

簡單、便于用戶使用的操作