ADC，Analog-to-Digital Converter（模數(shù)轉(zhuǎn)換器），其應用非常廣泛，比如溫度、濕度、壓力、聲音等傳感器領域。

ADC的類型很多，STM32內(nèi)部集成的ADC為逐次逼近型。STM32雖然是通用MCU芯片，但它內(nèi)部集成的ADC也非常出色，不比一些專用ADC芯片差。

1

STM32 ADC 基礎內(nèi)容

STM32內(nèi)部集成的ADC與型號有關，有16位、12位ADC，內(nèi)部集成ADC多達4個，通道數(shù)多達40個，甚至更多。

1. ADC分辨率

分辨率決定了ADC的轉(zhuǎn)換精度，按理說分辨率越高越好，但價格更貴。

STM32內(nèi)部集成的ADC最高16位，2的16次方，即65536的分辨率。只有少數(shù)STM32才集成16位分辨率的ADC，絕大部分支持12位。

當然，有時出于提高轉(zhuǎn)換速率的考慮，可以軟件配置成10 位、 8 位或 6 位的分辨率。

2. ADC采樣率

采樣率指每秒進行AD轉(zhuǎn)換的次數(shù)，STM32的采樣率由ADCK時鐘，以及分頻比決定。

不同型號的STM32，其ADCCLK時鐘也有差異，具體可參看芯片對應的手冊。

3. ADC通道

STM32的每個ADC有數(shù)條復用模擬輸入通道，具體通道數(shù)因不同系列及型號而異。片內(nèi)溫度傳感器、內(nèi)部參考電壓、VBAT還可以與內(nèi)部模擬通道相連，便于測量和使用。

4. ADC數(shù)據(jù)對齊

STM32的AD轉(zhuǎn)換后存儲數(shù)據(jù)的對齊方式可通過軟件配置成左對齊、右對齊。比如規(guī)則組12位分辨率左右對齊如下：

這里數(shù)據(jù)對齊還與規(guī)則組/注入組、分辨率等有關。

5.ADC觸發(fā)方式

STM32觸發(fā)ADC轉(zhuǎn)換的方式有很多種，軟件觸發(fā)、外部事件（如定時器事件、 EXTI 中斷事件）觸發(fā)轉(zhuǎn)換。

外部事件觸發(fā)還分為上升沿和下降沿觸發(fā)：

STM32 ADC基礎內(nèi)容及配置參數(shù)比較多，更多細節(jié)請查閱芯片對應的參考手冊。

嵌入式專欄

2

STM32 ADC 參數(shù)配置

STM32 ADC配置的參數(shù)相對較多，只要理解了ADC的基礎內(nèi)容，再結(jié)合STM32CubeMX或官方提供的例程，使用ADC就較容易了。

比如：最基礎的單通道配置（默認配置）：

1.STM32CubeMX

2.標準外設庫

ADC_InitTypeDef ADC_InitStructure;ADC_CommonInitTypeDef ADC_CommonInitStructure; RCC_APB2PeriphClockCmd(RCC_APB2Periph_ADC1, ENABLE); ADC_CommonInitStructure.ADC_Mode = ADC_Mode_Independent;ADC_CommonInitStructure.ADC_Prescaler = ADC_Prescaler_Div4;ADC_CommonInitStructure.ADC_DMAAccessMode = ADC_DMAAccessMode_Disabled;ADC_CommonInitStructure.ADC_TwoSamplingDelay = ADC_TwoSamplingDelay_5Cycles;ADC_CommonInit(&ADC_CommonInitStructure); ADC_InitStructure.ADC_Resolution = ADC_Resolution_12b;ADC_InitStructure.ADC_ScanConvMode = DISABLE;ADC_InitStructure.ADC_ContinuousConvMode = DISABLE;ADC_InitStructure.ADC_ExternalTrigConvEdge = ADC_ExternalTrigConvEdge_None;ADC_InitStructure.ADC_ExternalTrigConv = ADC_ExternalTrigConv_T1_CC1;ADC_InitStructure.ADC_DataAlign = ADC_DataAlign_Right;ADC_InitStructure.ADC_NbrOfConversion = 1;ADC_Init(ADC1, &ADC_InitStructure); ADC_RegularChannelConfig(ADC1, ADC_Channel_0, 1, ADC_SampleTime_3Cycles); ADC_Cmd(ADC1,ENABLE);

這里結(jié)合STM32F4，STM32CubeMX和標準外設庫描述了最基礎的參數(shù)配置。

STM32CubeMX圖形化工具配置起來很簡單，但前提需要理解各參數(shù)的含義。

每項獨立的參數(shù)其實不難理解，難在各項參數(shù)復合使用，比如：多通道、外部事件定時器觸發(fā)、DMA等。

3

STM32 ADC 常見問題

STM32內(nèi)部集成ADC是一個常用的模塊，單通道簡單采集電壓比較容易，但多通道、高頻次等一些特殊情況下，對軟件和硬件的要求更高。

些特殊情況下，對軟件和

問題一：參考電壓電阻問題

?STM32部分型號芯片具有VREF+、 VREF-參考電壓引腳。而且，參考電壓必須低于VDDA電壓。

?

實際應用存在 VREF+ 與 VDDA 之間通過電阻（比如10K）連接的情況，這樣就會因電阻分壓導致測量值存在偏差。

解決辦法：VREF+與VDDA通過0Ω電阻連接，同樣，VREF-與VDDS也要通過0歐電阻連接。

問題二：輸入引腳浮空問題

有工程師會會習慣性在外部信號和STM32引腳間加一個二極管。

如果外部電壓為0時，在STM32引腳處的狀態(tài)即為浮空狀態(tài)，讀取出來的電壓就是一個不確定值（通常為1/2VDD電壓）。

解決辦法：去掉二極管，同時增加外圍抗干擾電路。

問題三：多通道序列采集問題

在多通道采集時，采集電壓都為序列中第一個的電壓，通常是因為未理解規(guī)則組序列轉(zhuǎn)換，因軟件配置不對導致的問題。

解決辦法：首先要使能掃描模式，再次要正確配置規(guī)則組序列。（同樣的問題在使用DMA情況下也容易出現(xiàn)，需要正確理解連續(xù)轉(zhuǎn)換這些細節(jié)問題）。

問題四：通道間串擾問題

使用 ADC 常規(guī)通道的掃描模式采集多路模擬信號時，可能存在各路信號轉(zhuǎn)換相同結(jié)果的情況（實際各路電壓不同）。

問題原因是相鄰通道之間透過采樣電容Cs發(fā)生了藕合。

當 ADC 的采樣電容在兩個通道之間進行切換時，電路類似如下圖：

解決辦法：增大 ADC 相鄰兩個通道采樣之間的延時：ADC_TwoSamplingDelay.

問題五：采樣時間與外部輸入阻抗不匹配

在做AD轉(zhuǎn)換時，我們需考慮信號輸入電路的阻抗，整體上，該阻值越大，為保證轉(zhuǎn)換精度，所需采樣時間就越長，STM32芯片可編程的采樣時間是有限的，顯然這個外部輸入阻抗也是有上限的。關于這點，在STM32芯片數(shù)據(jù)手冊里有關ADC特性的章節(jié)有詳細解釋，可以閱讀。

解決辦法：根據(jù)實際輸入阻抗和具體應用來配置合適的采樣時間。

責任編輯：lq