如何利用一個(gè)DFT計(jì)算另一個(gè)DFT？
這是我今天下午寫(xiě)的一篇小文章，類(lèi)似的技巧在解題時(shí)經(jīng)常用到，值得廣大考研學(xué)生認(rèn)真學(xué)習(xí)。文中或許有考慮不周或計(jì)算錯(cuò)誤的地方，請(qǐng)讀者不吝批評(píng)指正?！髡?/p>
編輯：jq
聲明：本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫(xiě)或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人，不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用，如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題，請(qǐng)聯(lián)系本站處理。
舉報(bào)投訴
-
DFI
+關(guān)注
關(guān)注
0文章
3瀏覽量
2217
原文標(biāo)題：如何由一個(gè)DFT計(jì)算另一個(gè)DFT
文章出處：【微信號(hào)：digital_signals，微信公眾號(hào)：數(shù)字信號(hào)處理輔導(dǎo)】歡迎添加關(guān)注！文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。
發(fā)布評(píng)論請(qǐng)先 登錄
相關(guān)推薦
熱點(diǎn)推薦
揭秘芯片測(cè)試：如何驗(yàn)證數(shù)十億個(gè)晶體管
工程。如果讓人類(lèi)拿著顯微鏡一個(gè)接一個(gè)地檢查，測(cè)試一顆芯片可能需要數(shù)百年。然而在現(xiàn)代工廠中，這必須在幾秒鐘內(nèi)完成。這就是可測(cè)性設(shè)計(jì)（
芯片測(cè)試覆蓋率99%就夠了嗎？給DFT設(shè)計(jì)提個(gè)醒
。模擬故障模型復(fù)雜，測(cè)試項(xiàng)（如增益、帶寬、THD）的通過(guò)/失敗標(biāo)準(zhǔn)是一個(gè)范圍。覆蓋率難以像數(shù)字電路那樣量化。常用方法是基于故障仿真，注入典型工藝偏差和缺陷模型（如電阻開(kāi)路、電容短路），評(píng)估現(xiàn)有測(cè)試項(xiàng)能否
發(fā)表于 02-06 11:06
TDE1708DFT智能功率開(kāi)關(guān)：特性、應(yīng)用與設(shè)計(jì)要點(diǎn)
TDE1708DFT智能功率開(kāi)關(guān)：特性、應(yīng)用與設(shè)計(jì)要點(diǎn) 在電子工程師的日常設(shè)計(jì)工作中，功率開(kāi)關(guān)是不可或缺的元件。今天，我們就來(lái)詳細(xì)探討一下TDE1708DFT智能功率開(kāi)關(guān)，了解它的特性、應(yīng)用場(chǎng)景以及
fft算法c語(yǔ)言的實(shí)現(xiàn)
()
先把這三個(gè)公式放在這里，接下來(lái)用。
這些特性使得可以將長(zhǎng)DFT計(jì)算分解為幾個(gè)短序列的DFT計(jì)算的組合，從而減少
發(fā)表于 01-27 06:10
【「龍芯之光 自主可控處理器設(shè)計(jì)解析」閱讀體驗(yàn)】+可測(cè)試性設(shè)計(jì)章節(jié)閱讀與自己的一些感想
，也分享下 自己的一些感想。 先介紹了兩個(gè)術(shù)語(yǔ)DFT可測(cè)試性 設(shè)計(jì)，ATE自動(dòng)測(cè)試設(shè)備，DFT目的是測(cè)試出制造問(wèn)題而不是邏輯 bug，因?yàn)?b class='flag-5'>DFT
發(fā)表于 01-15 23:30
液晶屏 智能顯示模塊有多個(gè)畫(huà)面時(shí)怎么切換到另一個(gè)畫(huà)面？
請(qǐng)問(wèn) 液晶屏智能顯示模塊有多個(gè)畫(huà)面時(shí)怎么切換到另一個(gè)畫(huà)面？
發(fā)表于 10-25 10:46
在PSoC? 41xx 系列的代碼執(zhí)行期間是否可以將運(yùn)算放大器重新分配給另一個(gè)引腳？
您能否確認(rèn)在PSoC? 41xx 系列的代碼執(zhí)行期間是否可以將運(yùn)算放大器重新分配給另一個(gè)引腳？ 目標(biāo)是讓一個(gè)設(shè)備配備 2 個(gè)運(yùn)算放大器來(lái)測(cè)量和放大 2
發(fā)表于 08-15 07:05
如何用Arduino Nano/UNO R3開(kāi)發(fā)板給另一個(gè)Arduino IDE不能下載的Arduino Nano/UNO R3開(kāi)發(fā)板重新燒錄引導(dǎo)程序bootlaoder
本文介紹了如何用能夠Arduino IDE下載的Arduino Nano/UNO R3開(kāi)發(fā)板給另一個(gè)Arduino IDE不能下載的Arduino Nano/UNO R3開(kāi)發(fā)板重新燒錄引導(dǎo)程序bootlaoder
DFT算法與FFT算法的優(yōu)劣分析
一概述 在諧波分析儀中，我們常常提到的兩個(gè)詞語(yǔ)，就是DFT算法與FFT算法，那么一款功率分析儀/諧波分析儀采用DFT算法或者FFT算法，用戶
有哪些芯片工程師才懂的梗？
今天聊點(diǎn)有意思的，就是芯片行業(yè)那些梗。下面這些“?！保挥性贔ab、EDA、IP、SoC、驗(yàn)證、后端、封測(cè)等各個(gè)細(xì)分崗位上摸爬滾打過(guò)的人，才能秒懂，外行聽(tīng)了恐怕只會(huì)一臉黑人問(wèn)號(hào)。1.DFT不是離散
利用橫河示波器DLM3000抑制電源噪聲
電源噪聲主要來(lái)源也有兩方面，一個(gè)是因電源供電而引發(fā)的噪聲，另一個(gè)則是因接地問(wèn)題而引起的噪聲。
借助DFT技術(shù)實(shí)現(xiàn)競(jìng)爭(zhēng)力最大化
通過(guò)改進(jìn)和優(yōu)化設(shè)計(jì)與制造的各個(gè)方面，半導(dǎo)體行業(yè)已經(jīng)能夠?qū)崿F(xiàn) IC 能力的巨大進(jìn)步。可測(cè)試性設(shè)計(jì) (DFT)——涵蓋從在 RTL 中插入測(cè)試邏輯，到對(duì)現(xiàn)場(chǎng)退回產(chǎn)品進(jìn)行失效分析等全流程，是半導(dǎo)體企業(yè)獲得
請(qǐng)問(wèn)如何在同一個(gè)FX3上實(shí)現(xiàn)兩個(gè)GPIF接口？
我們按照 AN75779 應(yīng)用說(shuō)明在 FX3 上成功實(shí)現(xiàn)了自定義圖像傳感器接口。 現(xiàn)在我們想添加另一個(gè) GPIF 接口，這將允許同一個(gè) FX3 設(shè)備從 FPGA 接收數(shù)據(jù)并發(fā)送到 USB 主機(jī)，但不
發(fā)表于 05-13 06:35
AD5934 250 kSPS、12位阻抗轉(zhuǎn)換器網(wǎng)絡(luò)分析儀技術(shù)手冊(cè)
采樣，然后由片上DSP進(jìn)行離散傅里葉變換(DFT)處理。DFT算法在每個(gè)頻率上返回一個(gè)實(shí)部(R)數(shù)據(jù)字和一
請(qǐng)問(wèn)canmv-k230支持雙核嗎？如何調(diào)用另一個(gè)核心工作？
系統(tǒng)使用的是Canmv-K230-micropython-V1.2.2版本.
K230是雙核芯片，在使用canmv-k230上沒(méi)找到關(guān)于另一個(gè)核心的調(diào)用方法。
請(qǐng)問(wèn)如何調(diào)用另一個(gè)核心工作？
你好
發(fā)表于 04-23 06:35
工商網(wǎng)監(jiān)
評(píng)論