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如何解決芯片引起設(shè)備過熱的問題

旺材芯片 ? 來源:半導(dǎo)體行業(yè)觀察 ? 作者:IEEE ? 2021-10-15 09:28 ? 次閱讀
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來源:半導(dǎo)體行業(yè)觀察編譯自「IEEE」

眾所周知,將晶體管緊密地封裝在一起會引起設(shè)備過熱的問題。

但現(xiàn)在,科學(xué)家們已經(jīng)開發(fā)出一種人造材料,它是有史以來最好的一種材料,可以在一個方向上傳導(dǎo)熱量,同時在其他方向上保持熱量與周圍環(huán)境隔絕。這項(xiàng)研究有朝一日可能會幫助微芯片在不因過熱而中斷的情況下變得更強(qiáng)大。

隨著電子產(chǎn)品的不斷小型化,在給定的空間中會產(chǎn)生更多的熱量,這使得熱控制成為電子設(shè)計(jì)中的一個關(guān)鍵挑戰(zhàn)。“如果你的電腦或筆記本電腦過熱,這可能是一個安全問題,”該研究的主要作者,芝加哥大學(xué)的分子工程師Shi En Kim說。

熱管理的最新進(jìn)展包括所謂的各向異性熱導(dǎo)體。在這些材料中,熱量在一個方向上比其他方向流動得更快。

許多天然晶體結(jié)構(gòu)是強(qiáng)各向異性的熱導(dǎo)體——例如,對于石墨,熱量沿其快軸傳導(dǎo)的速度比慢軸快約 340 倍。然而,這些天然材料通常難以用于大規(guī)模制造技術(shù),并且可能缺乏設(shè)備所需的各種電學(xué)或光學(xué)特性。相比之下,大多數(shù)人工結(jié)構(gòu)材料都是不良的各向異性熱導(dǎo)體,在室溫下通常具有小于 20 的快慢熱流比。

現(xiàn)在,科學(xué)家們創(chuàng)造了一種人造材料,其在室溫下的快慢熱流比高達(dá)約 880,這是有史以來最高的熱流比之一。他們在 9 月 30 日的《自然》雜志上詳細(xì)介紹了他們的發(fā)現(xiàn)。

該技術(shù)的秘訣在于使用由原子級薄層堆疊膜組成的材料——二硫化鉬。在這種情況下,這些層通過稱為范德華相互作用的弱電力保持在一起,這種力通常會使膠帶發(fā)粘。其他分層范德華材料包括石墨和所謂的過渡金屬二硫?qū)倩铩?/p>

二硫化鉬在兩個維度上有效地堆疊漏斗熱量,但不是第三個維度。絕緣效應(yīng)背后的關(guān)鍵是相鄰薄膜的晶格如何相對于彼此旋轉(zhuǎn)。(想象一堆棋盤,每塊棋盤都旋轉(zhuǎn),這樣它的方格就不會與相鄰的方格對齊。)

在這些堆棧中,熱的主要載體是聲子(phonons),即由晶體晶格結(jié)構(gòu)中的振動組成的準(zhǔn)粒子。當(dāng)相鄰的硫化鉬薄膜堆疊起來使其晶格對齊時,聲子很容易向各個方向流動,盡管在層內(nèi)效率更高。然而,當(dāng)這些晶格相對于彼此旋轉(zhuǎn)時,聲子只能在層內(nèi)有效地流動。

當(dāng)科學(xué)家使用這些疊層涂覆僅 15 納米高和 100 納米寬的金電極時,他們發(fā)現(xiàn)電極可以承載更多電流而不會過熱并阻止熱量到達(dá)設(shè)備表面?!拔覀兿嘈盼覀兊牟牧峡捎糜陔娮赢a(chǎn)品的熱管理,”Kim 說。

Kim 指出,他們之所以選擇用二硫化鉬進(jìn)行試驗(yàn),是因?yàn)樗麄冎伴_發(fā)了生長這種材料的大薄膜的方法。原則上,由其他原子級薄材料(例如石墨烯)制成的堆??梢员憩F(xiàn)得同樣或更好。她指出,未來的研究還可以調(diào)查由兩種或多種不同材料堆疊而成的所謂異質(zhì)結(jié)構(gòu)的性能。

Kim 警告說,對于他們的實(shí)驗(yàn),“我們的薄膜是手工堆疊的,這不是一種非常可擴(kuò)展的制造非常厚薄膜的方法。最終這些材料可能會有實(shí)際應(yīng)用,但需要解決一些問題以使其生產(chǎn)可擴(kuò)展?!?/p>

責(zé)任編輯:haq

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原文標(biāo)題:解決芯片發(fā)熱問題的新方法

文章出處:【微信號:wc_ysj,微信公眾號:旺材芯片】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。

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