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VNA校準(zhǔn)助力完成高精度網(wǎng)絡(luò)分析測試

是德科技KEYSIGHT ? 來源:是德科技KEYSIGHT ? 作者:是德科技KEYSIGHT ? 2022-02-28 09:33 ? 次閱讀
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即使再好的測試設(shè)備也會存在瑕疵,從而導(dǎo)致測量結(jié)果不太理想。這些導(dǎo)致測量誤差的缺陷中,有一些是隨著時間和溫度的變化而可重復(fù)和可預(yù)測的,并且可以消除,而另一些則是隨機(jī)的,無法消除。

誤差修正對測量結(jié)果的影響非常顯著。下圖中,如果沒有誤差修正,帶通濾波器的測量結(jié)果顯示出相當(dāng)大的損耗和紋波。經(jīng)雙端口校準(zhǔn)后的跡線消除了系統(tǒng)誤差的影響而更加平滑,并且更準(zhǔn)確的表示了被測件 (DUT) 的實際性能。

VNA校準(zhǔn)助力完成高精度網(wǎng)絡(luò)分析測試

所有測量系統(tǒng),包括那些使用網(wǎng)絡(luò)分析儀的系統(tǒng),都可能受到三種測量誤差的困擾:

? 系統(tǒng)性誤差

? 隨機(jī)誤差

? 漂移誤差

系統(tǒng)誤差是由測試設(shè)備和測試設(shè)置的缺陷引起的。這些誤差不隨時間而變化,它們可以通過校準(zhǔn)來表征,并在測量過程中以數(shù)學(xué)方法來消除。網(wǎng)絡(luò)測量中遇到的系統(tǒng)誤差與信號泄漏、信號反射和頻率響應(yīng)有關(guān)。有六種類型的系統(tǒng)誤差:

?與信號泄漏有關(guān)的方向性和串?dāng)_誤差

?與反射有關(guān)的源和負(fù)載阻抗失配

?由測試接收機(jī)內(nèi)的反射和傳輸跟蹤引起的頻率響應(yīng)誤差

( 完整的兩端口誤差模型包括所有六個用于表示正向的誤差和另外的六個反向誤差,總共有十二個誤差項。這就是為什么經(jīng)常將兩端口校準(zhǔn)稱為十二項誤差修正)

VNA校準(zhǔn)助力完成高精度網(wǎng)絡(luò)分析測試

隨機(jī)誤差隨時間而隨機(jī)變化。由于它們不可預(yù)測,因此無法通過校準(zhǔn)將其移除。造成隨機(jī)誤差的主要因素包括儀器噪聲(例如IF本底噪聲)、開關(guān)可重復(fù)性和連接器可重復(fù)性等。使用網(wǎng)絡(luò)分析儀時,通??梢酝ㄟ^提高源功率、減小IF帶寬或使用多次掃描的跡線平均等方法來降低噪聲誤差。

漂移誤差是指經(jīng)過校準(zhǔn)的測試系統(tǒng)的性能發(fā)生的變化。這主要是由溫度變化引起的,可以通過額外的校準(zhǔn)來消除。漂移率決定了需要額外校準(zhǔn)的頻率。但是,通過構(gòu)建環(huán)境溫度穩(wěn)定的測試環(huán)境,通??梢詫⑵普`差降至最低。雖然可以指定測試設(shè)備在0°C 至+55°C 的溫度范圍內(nèi)運(yùn)行,而更可控的溫度范圍(例如 +25°C ± 5°C)可以通過最大限度地減少漂移誤差來提高測量精度,并減少或消除對定期重新校準(zhǔn)的依賴。

針對用戶使用網(wǎng)絡(luò)分析儀校準(zhǔn)過程中的各種疑問與關(guān)切,Keysight的測試專家錄制了一系列視頻講座,幫助大家了解矢網(wǎng)為什么要做校準(zhǔn)、如何進(jìn)行校準(zhǔn)、校準(zhǔn)過程中需要注意的各種常見問題等等,助力完成高精度的網(wǎng)絡(luò)分析測試。

?矢網(wǎng)VNA為什么要做校準(zhǔn)

?VNA校準(zhǔn)的基本原理是什么

?VNA的校準(zhǔn)件是從哪里來的

?TRL校準(zhǔn)初探

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我們致力于幫助企業(yè)、服務(wù)提供商和政府客戶加速創(chuàng)新,創(chuàng)造一個安全互聯(lián)的世界。自 1939 年惠普公司成立,到 2014 年 11 月 1 日是德科技作為一家新電子測試測量公司獨(dú)立運(yùn)營,我們繼續(xù)秉承不變的企業(yè)家精神和激情開啟新航程,鼓舞全球創(chuàng)新者,幫助他們實現(xiàn)超乎想象的目標(biāo)。我們的解決方案旨在幫助客戶在 5G、汽車、物聯(lián)網(wǎng)、網(wǎng)絡(luò)安全等領(lǐng)域不斷創(chuàng)新。

原文標(biāo)題:VNA的校準(zhǔn),為什么這么重要?

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審核編輯:湯梓紅

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