電路特性分析測(cè)試的簡(jiǎn)單介紹
用于諸如放大器、混頻器和濾波器等電路的晶圓級(jí)測(cè)量的測(cè)試系統(tǒng)的規(guī)范化會(huì)頗具挑戰(zhàn)性，特別是當(dāng)單個(gè)晶圓可容納多種電路類型時(shí)，為驗(yàn)證這些結(jié)構(gòu)所需進(jìn)行的測(cè)試是廣泛且復(fù)雜的，包括 S 參數(shù)、DC 參數(shù)、噪聲指數(shù)、增益壓縮和互調(diào)失真。測(cè)量和校準(zhǔn)準(zhǔn)確度是至關(guān)重要的，尤其是在必須使多個(gè)流程之間的測(cè)試相互吻合的場(chǎng)合。
MeasureOne 優(yōu)勢(shì)
- 有保證的系統(tǒng)配置、安裝和支持
- 準(zhǔn)確和可重復(fù)的晶圓級(jí)產(chǎn)品特性分析
- 經(jīng)過(guò)預(yù)先驗(yàn)證的系統(tǒng)配置
- 按照規(guī)定的驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行安裝
- 由專門的聯(lián)系人提供客戶支持
- 由解決方案專家?guī)椭鷮?shí)現(xiàn)優(yōu)化
解決方案組件
- Cascade 200 mm或300 mm半自動(dòng)探針臺(tái)系統(tǒng)，WinCal XE校準(zhǔn)軟件，Infinity探針和ISS標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)片
- Keysight Technologies PNA 或 PNA-X、B1500A、WaferPro-XP、IC-CAP 軟件和 DC 功率分析儀
審核編輯：符乾江
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發(fā)表于 06-10 13:19
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