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汽車電子零部件的BCI試驗(yàn)與EMC整改措施

AGk5_ZLG_zhiyua ? 來(lái)源:ZLG致遠(yuǎn)電子 ? 作者:ZLG開(kāi)發(fā)者社區(qū) ? 2022-06-23 15:24 ? 次閱讀
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BCI試驗(yàn)是汽車電子零部件必須測(cè)試而又難以通過(guò)的試驗(yàn)項(xiàng)目之一,如果不夠熟悉,就很難對(duì)問(wèn)題進(jìn)行有效定位及診斷,從而浪費(fèi)大量的時(shí)間在不斷嘗試各種無(wú)效的整改措施。本文提供實(shí)際整改案例,以供大家共同學(xué)習(xí)。

汽車NFC進(jìn)入/啟動(dòng)模塊有什么功能,估計(jì)有一部分同學(xué)是不了解的,這里先簡(jiǎn)單介紹一下:簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō)就是,我們平時(shí)刷手機(jī)坐公交、坐地鐵、開(kāi)門(mén)禁這個(gè)過(guò)程,用的就是NFC近場(chǎng)通訊技術(shù)。而手機(jī)NFC車鑰匙也很好理解,就是你以后開(kāi)車再也不需要著拿著車鑰匙了,只需要用手機(jī)NFC刷一下汽車的車門(mén)門(mén)禁,就能完成汽車的解鎖或閉鎖車門(mén)、點(diǎn)火啟動(dòng)車輛等全部操作了。

汽車電子零部件-BCI(大電流注入)試驗(yàn)

為了避免出現(xiàn)NFC鑰匙不靈敏或受干擾的情況,汽車NFC進(jìn)入模塊往往需要進(jìn)行多項(xiàng)相關(guān)的汽車電子零部件的EMC試驗(yàn),而B(niǎo)CI(大電流注入)試驗(yàn)則是其中一項(xiàng)。也是許多汽車電子零部件必須通過(guò)又難以通過(guò)的EMC試驗(yàn)項(xiàng)目??赡苡胁糠滞瑢W(xué)對(duì)汽車電子零部件的BCI(大電流注入)試驗(yàn)不是十分的了解,這里還是先作簡(jiǎn)單的介紹:大電流注入BCI法(Bulk Current Injection)試驗(yàn)是評(píng)估汽車電子零部件的輻射抗擾試驗(yàn)之一,試驗(yàn)場(chǎng)地一般在電磁屏蔽室中進(jìn)行,其原理是BCI信號(hào)發(fā)生器通過(guò)BCI電流注入鉗,將RF射頻干擾(測(cè)試頻段1MHz~400MHz,模式分為CW和AM)耦合到被測(cè)試的汽車零部件的線束上,然后RF射頻干擾通過(guò)汽車線束耦合至被測(cè)試的汽車電子零部件上,BCI試驗(yàn)配置如下圖所示。

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BCI試驗(yàn)異?,F(xiàn)象

某型號(hào)NFC進(jìn)入/啟動(dòng)模塊(以下簡(jiǎn)稱“NFC讀卡模塊”),依據(jù)上汽SMTC 3 800 006《電子電器零件/系統(tǒng)電磁兼容測(cè)試規(guī)范》標(biāo)準(zhǔn),對(duì)NFC讀卡模塊進(jìn)行射頻抗干擾-大電流注入法(BCI)試驗(yàn)時(shí),發(fā)現(xiàn)在12MHz~14MHz、24MHz~28MHz及150MHz~250MHz頻段容易出現(xiàn)NFC讀卡失敗的情況。

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模擬BCI異?,F(xiàn)象

由于公司EMC實(shí)驗(yàn)室暫無(wú)相關(guān)BCI試驗(yàn)設(shè)備,為了快速定位相關(guān)異常問(wèn)題,考慮到BCI試驗(yàn)與CS射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度(IEC 61000-4-6)試驗(yàn)的干擾類似,于是采用CS試驗(yàn)對(duì)NFC讀卡模塊前期先進(jìn)行摸底試驗(yàn)。試驗(yàn)方法如下:NFC讀卡模塊采用12V電池供電,將其接口線纜(共3根BAT+、GND和LIN)通過(guò)電磁耦合夾進(jìn)行CS干擾(80%AM調(diào)制,1kHz正弦波調(diào)幅,試驗(yàn)頻段150kHz~80MHz,試驗(yàn)等級(jí)10V)耦合。LIN信號(hào)線通過(guò)LIN轉(zhuǎn)USB盒連接至筆記本電腦端,NFC卡通過(guò)3~4cm的亞克力板放置在NFC讀卡模塊上,筆記本電腦端采用上位機(jī)軟件監(jiān)控NFC讀卡的情況。

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EMC風(fēng)險(xiǎn)分析

根據(jù)以上摸底試驗(yàn)的結(jié)果來(lái)分析,異常頻段在12MHz~14MHz和24MHz~28MHz頻段,通過(guò)查看NFC讀卡模塊的原理圖和相關(guān)芯片的數(shù)據(jù)手冊(cè),發(fā)現(xiàn)干擾頻段正好落在NFC讀芯片的讀卡頻率13.56MHz及時(shí)鐘頻率27.12MHz上。

為了確定干擾的路徑是以傳導(dǎo)還是輻射為主,進(jìn)行了以下的實(shí)驗(yàn)(實(shí)驗(yàn)現(xiàn)場(chǎng)如下圖所示):將2#讀卡模塊的接口線纜通過(guò)電磁耦合夾進(jìn)行耦合,2#讀卡模塊不上電,此時(shí)將1#讀卡模塊放置在2#讀卡模塊旁邊約3cm~5cm距離,將1#讀卡模塊上電,并通過(guò)筆記本電腦測(cè)試上位機(jī)軟件監(jiān)控1#讀卡模塊的NFC讀卡情況,對(duì)2#模塊的接口線纜通過(guò)電磁耦合夾注入CS干擾,此時(shí)發(fā)現(xiàn)1#讀卡模塊仍然在12MHz~14MHz及24MHz~28MHz頻段出現(xiàn)讀卡失敗的情況。當(dāng)將1#讀卡模塊調(diào)整至2#讀卡模塊距離7cm以上時(shí),1#讀卡模塊則不會(huì)受到CS的干擾。因此可以確定CS干擾主要通過(guò)空間輻射至1#讀卡模塊的讀卡天線上,導(dǎo)致1#讀卡模塊出現(xiàn)NFC讀卡失敗的情況。

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EMC整改措施

針對(duì)上述近風(fēng)險(xiǎn)分析,對(duì)該產(chǎn)品分別進(jìn)行以下的整改,具體整改措施如下表所示:

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經(jīng)過(guò)上述整改后,至第三方實(shí)驗(yàn)室再次進(jìn)行BCI試驗(yàn),雖有部分頻段有較為明顯的改善,但依然在27MHz、56MHz、68MHz及190MHz等出現(xiàn)讀卡失敗的情況。后通過(guò)的CS試驗(yàn)發(fā)現(xiàn),NFC讀卡模塊安裝和不安裝塑料外殼試驗(yàn)時(shí),CS試驗(yàn)的試驗(yàn)結(jié)果差異比較大,試驗(yàn)結(jié)果如下表對(duì)比表格。

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通過(guò)大量重復(fù)上述試驗(yàn),試驗(yàn)結(jié)果一致,基本確定該塑料外殼對(duì)NFC讀卡模塊有明顯的影響。查看該產(chǎn)品塑膠外殼的材料物性表,該塑料采用型號(hào)為BC 30 000000的PA6材料,其電氣特性如下圖所示。

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PA(聚酰胺),俗稱尼龍,是工程塑料中常用的品種之一,通過(guò)查閱塑膠材料的相關(guān)網(wǎng)站和文獻(xiàn),PA6的分子結(jié)構(gòu)中含有大量的酰胺基,其分子末端為胺基,是一種強(qiáng)極性聚合物,其強(qiáng)極性的特點(diǎn)使得PA6吸水率大而導(dǎo)致其介電常數(shù)較大。通常非極性塑膠材料,如PE(聚乙烯)、PP(聚丙烯)、PS(聚苯乙烯)等介電常數(shù)約為2~3。而強(qiáng)極性材料的PA6特別在吸濕后,其介電常數(shù)會(huì)明顯增大。

而介電常數(shù)通常受三個(gè)因素(電場(chǎng)頻率、溫度和濕度)所影響,具體如下表所述。

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如上所述,當(dāng)塑膠外殼的介電常數(shù)εr受CS或BCI干擾頻率所影響而發(fā)生改變時(shí),從而導(dǎo)致了PCB板材的特性阻抗Z0也同時(shí)發(fā)生變化,繼而導(dǎo)致PCB上的NFC印制讀卡天線的阻抗出現(xiàn)改變,最終導(dǎo)致NFC讀卡出現(xiàn)失敗的情況。其中PCB微帶線的特性阻抗公式如下所示:

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EMC整改總結(jié)

1、對(duì)于汽車電子零部件進(jìn)行BCI試驗(yàn),可以在線纜接口處共模電感等濾波措施,可以有效減少高頻BCI的傳導(dǎo)干擾。

2、EMC整改除了硬件措施的整改外,還可以調(diào)整敏感芯片或mcu芯片的寄存器參數(shù)或軟件算法,來(lái)提高系統(tǒng)的抗干擾能力。

3、產(chǎn)品的EMC性能很多時(shí)候體現(xiàn)在很不起眼的設(shè)計(jì)細(xì)節(jié)上,如本案例的外殼材料的選擇上,電子工程師往往很容易忽略,導(dǎo)致EMC問(wèn)題難以定位或解決。

原文標(biāo)題:【Z站推薦】EMC整改案例:汽車NFC進(jìn)入模塊BCI整改

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審核編輯:湯梓紅

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