91欧美超碰AV自拍|国产成年人性爱视频免费看|亚洲 日韩 欧美一厂二区入|人人看人人爽人人操aV|丝袜美腿视频一区二区在线看|人人操人人爽人人爱|婷婷五月天超碰|97色色欧美亚州A√|另类A√无码精品一级av|欧美特级日韩特级

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

3D IC先進(jìn)封裝對EDA的挑戰(zhàn)及如何應(yīng)對

半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)縱橫 ? 來源:半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)縱橫 ? 作者:半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)縱橫 ? 2022-08-18 10:48 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

在SoC的設(shè)計(jì)階段需要克服可靠性問題,而在2.5D和3D方面則需要解決系統(tǒng)級封裝和模塊仿真的問題。

隨著人工智能、大數(shù)據(jù)、云計(jì)算、異構(gòu)計(jì)算等行業(yè)的快速發(fā)展,先進(jìn)封裝技術(shù)已經(jīng)占據(jù)了技術(shù)與市場規(guī)模上的制高點(diǎn),3D IC是電子設(shè)計(jì)從芯片設(shè)計(jì)走向系統(tǒng)設(shè)計(jì)的一個(gè)重要支點(diǎn),也是整個(gè)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的轉(zhuǎn)折點(diǎn),相關(guān)EDA解決工具也是必備的戰(zhàn)略技術(shù)點(diǎn),不過隨著封裝技術(shù)的演進(jìn)對EDA也提出了更大的挑戰(zhàn)。

3D IC先進(jìn)封裝對EDA的挑戰(zhàn)及如何應(yīng)對

隨著集成電路制程工藝逼近物理尺寸極限,2.5D/3D封裝,芯粒(Chiplet)、晶上系統(tǒng)(SoW)等先進(jìn)封裝成為了提高芯片集成度的新方向,并推動(dòng)EDA方法學(xué)創(chuàng)新。這也使得芯片設(shè)計(jì)不再是單芯片的問題,而逐漸演變成多芯片系統(tǒng)工程。新的問題隨之出現(xiàn),先進(jìn)封裝中的大規(guī)模數(shù)據(jù)讀取顯示,高密度硅互連拼裝、高性能良率低功耗需求對EDA算法引擎提出了更高的要求。

芯和半導(dǎo)體技術(shù)總監(jiān)蘇周祥在2022年EDA/IP與IC設(shè)計(jì)論壇中提出,在SoC的設(shè)計(jì)階段需要克服可靠性問題,而在2.5D和3D方面需要解決的問題則是系統(tǒng)級封裝和模塊仿真。

容易出現(xiàn)以下問題:

多個(gè)點(diǎn)工具形成碎片化的2.5D/3D IC 解決方案:每個(gè)點(diǎn)工具都有自己的接口與模型;各個(gè)工具之間的交互寫作不順暢、缺少自動(dòng)化;

在2.5D/3D IC 設(shè)計(jì)過程中,不能再設(shè)計(jì)初期就考慮Power/Signal/Thermal的影響,而且不能協(xié)同分析;

多個(gè)點(diǎn)工具形成了很多不同的接口,文本與文件格式的轉(zhuǎn)換,各種不同的格式轉(zhuǎn)換使精度收到損失。

作為應(yīng)對,2.5D/3D IC先進(jìn)封裝需要一個(gè)新的EDA平臺。在架構(gòu)方面,需要考慮包括系統(tǒng)級連接、堆棧管理、層次化設(shè)計(jì);物理實(shí)現(xiàn)需要:包括協(xié)同設(shè)計(jì)環(huán)境、跨領(lǐng)域工程變更、多芯片3D布局規(guī)劃和布線、統(tǒng)一數(shù)據(jù)庫;分析解決需要包括片上和封裝電磁分析、芯片封裝聯(lián)合仿真、多物理分析、與布局布線工具無縫集成;驗(yàn)證方面,則需要芯片工藝約束、封裝制造設(shè)計(jì)規(guī)則、芯片3D組裝約束、芯片數(shù)據(jù)通信協(xié)議。

3D封裝的發(fā)展?jié)摿薮?br />

隨著對性能有極致追求,需要把晶體管的密度做得越來越高,速度越來越快。另外數(shù)據(jù)處理應(yīng)用中,數(shù)據(jù)交互將對帶寬、吞吐量和速度提出更高的要求,會(huì)導(dǎo)致芯片會(huì)越來越復(fù)雜、越來越大,要求遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過了目前的工藝節(jié)點(diǎn)能夠滿足的PPA目標(biāo)和成本,這種情況下用 Chiplet和3D IC技術(shù)的應(yīng)用就首當(dāng)其沖。

目前,云計(jì)算、大數(shù)據(jù)分析、神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)訓(xùn)練、人工智能推理、先進(jìn)智能手機(jī)上的移動(dòng)計(jì)算甚至自動(dòng)駕駛汽車,都在推動(dòng)計(jì)算向極限發(fā)展。面對更多樣化的計(jì)算應(yīng)用需求,先進(jìn)封裝技術(shù)成為持續(xù)優(yōu)化芯片性能和成本的關(guān)鍵創(chuàng)新路徑。

2021 年全球封裝市場規(guī)模約達(dá) 777 億美元。其中,先進(jìn)封裝全球市場規(guī)模約 350 億美元。預(yù)計(jì)到 2025年先進(jìn)封裝的全球市場規(guī)模將達(dá)到 420 億美元,2019-2025 年全球先進(jìn)封裝市場的 CAGR 約 8%。相比同期整體封裝市場和傳統(tǒng)封裝市場,先進(jìn)封裝市場增速更為顯著。

2.5D/3D IC類型及生態(tài)標(biāo)準(zhǔn)

2.5D/3D IC當(dāng)前先進(jìn)封裝的類型主要包括:

臺積電 3D Fabric:CowoS、INFO

英特爾:EMIB、Foveros

三星:I-Cube

ASE:FOCos

Amkor:SWIFT

2.5D/3D IC先進(jìn)封裝數(shù)據(jù)接口的生態(tài)標(biāo)準(zhǔn)有:

Die-Die Interface

Protocol

Security

Bring up

Form Factors

Testability

ESD

Packaging

Collateral/Models

結(jié)語

最后,先進(jìn)封裝可以推動(dòng)半導(dǎo)體向前發(fā)展,高技術(shù)門檻提高板塊估值。后摩爾時(shí)代CMOS技術(shù)發(fā)展速度放緩,成本卻顯著上升。2.5D/3D IC先進(jìn)封裝可以通過小型化和多集成的特點(diǎn)顯著優(yōu)化芯片性能和繼續(xù)降低成本,未來封裝技術(shù)的進(jìn)步將成為芯片性能推升的重要途徑,2.5D/3D IC先進(jìn)封裝的功能定位升級,已成為提升電子系統(tǒng)級性能的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。

審核編輯 :李倩

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • 半導(dǎo)體
    +關(guān)注

    關(guān)注

    339

    文章

    30717

    瀏覽量

    263919
  • 封裝技術(shù)
    +關(guān)注

    關(guān)注

    12

    文章

    599

    瀏覽量

    69297
  • eda
    eda
    +關(guān)注

    關(guān)注

    72

    文章

    3113

    瀏覽量

    182819

原文標(biāo)題:3D IC先進(jìn)封裝的發(fā)展趨勢和對EDA的挑戰(zhàn)

文章出處:【微信號:ICViews,微信公眾號:半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)縱橫】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。

收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評論

    相關(guān)推薦
    熱點(diǎn)推薦

    先進(jìn)封裝時(shí)代,芯片測試面臨哪些新挑戰(zhàn)

    摩爾定律放緩后,2.5D/3D 封裝、Chiplet 成行業(yè)新方向,卻給測試工程師帶來巨大挑戰(zhàn)。核心難題包括:3D 堆疊導(dǎo)致芯粒 I/O 端
    的頭像 發(fā)表于 02-05 10:41 ?304次閱讀

    3D IC設(shè)計(jì)中的信號完整性與電源完整性分析

    對更高性能和更強(qiáng)功能的不懈追求,推動(dòng)半導(dǎo)體行業(yè)經(jīng)歷了多個(gè)變革時(shí)代。最新的轉(zhuǎn)變是從傳統(tǒng)的單片SoC轉(zhuǎn)向異構(gòu)集成先進(jìn)封裝IC,包括3D IC。這
    的頭像 發(fā)表于 02-03 08:13 ?1.2w次閱讀
    <b class='flag-5'>3D</b> <b class='flag-5'>IC</b>設(shè)計(jì)中的信號完整性與電源完整性分析

    一文掌握3D IC設(shè)計(jì)中的多物理場效應(yīng)

    EDA半導(dǎo)體行業(yè)正處在一個(gè)關(guān)鍵轉(zhuǎn)折點(diǎn),摩爾定律的極限推動(dòng)著向三維集成電路(3D IC)技術(shù)的轉(zhuǎn)型。通過垂直集成多個(gè)芯粒,3D IC 在性能、
    的頭像 發(fā)表于 12-19 09:12 ?554次閱讀
    一文掌握<b class='flag-5'>3D</b> <b class='flag-5'>IC</b>設(shè)計(jì)中的多物理場效應(yīng)

    西門子EDA重塑3D IC設(shè)計(jì):突破高效協(xié)同、可靠驗(yàn)證、散熱及應(yīng)力管理多重門

    上進(jìn)行堆疊,極大地提高了芯片的集成度和性能,成為未來集成電路產(chǎn)業(yè)的重要發(fā)展方向。然而,3D IC在設(shè)計(jì)過程中也面臨著諸多技術(shù)挑戰(zhàn)。 高效協(xié)同平臺, 重塑異構(gòu)復(fù)雜設(shè)計(jì)范式 3D
    的頭像 發(fā)表于 10-23 14:32 ?6050次閱讀
    西門子<b class='flag-5'>EDA</b>重塑<b class='flag-5'>3D</b> <b class='flag-5'>IC</b>設(shè)計(jì):突破高效協(xié)同、可靠驗(yàn)證、散熱及應(yīng)力管理多重門

    3D封裝架構(gòu)的分類和定義

    3D封裝架構(gòu)主要分為芯片對芯片集成、封裝封裝集成和異構(gòu)集成三大類,分別采用TSV、TCB和混合鍵合等先進(jìn)工藝實(shí)現(xiàn)高密度互連。
    的頭像 發(fā)表于 10-16 16:23 ?1877次閱讀
    <b class='flag-5'>3D</b><b class='flag-5'>封裝</b>架構(gòu)的分類和定義

    AD 3D封裝庫資料

    ?AD ?PCB 3D封裝
    發(fā)表于 08-27 16:24 ?7次下載

    華大九天推出芯粒(Chiplet)與2.5D/3D先進(jìn)封裝版圖設(shè)計(jì)解決方案Empyrean Storm

    隨著“后摩爾時(shí)代”的到來,芯粒(Chiplet)與 2.5D/3D 先進(jìn)封裝技術(shù)正成為突破晶體管微縮瓶頸的關(guān)鍵路徑。通過異構(gòu)集成將不同的芯片模塊化組合,依托2.5
    的頭像 發(fā)表于 08-07 15:42 ?4702次閱讀
    華大九天推出芯粒(Chiplet)與2.5<b class='flag-5'>D</b>/<b class='flag-5'>3D</b><b class='flag-5'>先進(jìn)</b><b class='flag-5'>封裝</b>版圖設(shè)計(jì)解決方案Empyrean Storm

    適用于先進(jìn)3D IC封裝完整的裸片到系統(tǒng)熱管理解決方案

    摘要半導(dǎo)體行業(yè)向復(fù)雜的2.5D3DIC封裝快速發(fā)展,帶來了極嚴(yán)峻的熱管理挑戰(zhàn),這需要從裸片層級到系統(tǒng)層級分析的復(fù)雜解決方案。西門子通過一套集成工具和方法來
    的頭像 發(fā)表于 07-03 10:33 ?1200次閱讀
    適用于<b class='flag-5'>先進(jìn)</b><b class='flag-5'>3D</b> <b class='flag-5'>IC</b><b class='flag-5'>封裝</b>完整的裸片到系統(tǒng)熱管理解決方案

    先進(jìn)封裝工藝面臨的挑戰(zhàn)

    先進(jìn)制程遭遇微縮瓶頸的背景下,先進(jìn)封裝朝著 3D 異質(zhì)整合方向發(fā)展,成為延續(xù)摩爾定律的關(guān)鍵路徑。3D
    的頭像 發(fā)表于 04-09 15:29 ?1251次閱讀

    3D閃存的制造工藝與挑戰(zhàn)

    3D閃存有著更大容量、更低成本和更高性能的優(yōu)勢,本文介紹了3D閃存的制造工藝與挑戰(zhàn)。
    的頭像 發(fā)表于 04-08 14:38 ?2418次閱讀
    <b class='flag-5'>3D</b>閃存的制造工藝與<b class='flag-5'>挑戰(zhàn)</b>

    3D封裝與系統(tǒng)級封裝的背景體系解析介紹

    3D封裝與系統(tǒng)級封裝概述 一、引言:先進(jìn)封裝技術(shù)的演進(jìn)背景 隨著摩爾定律逐漸逼近物理極限,半導(dǎo)體行業(yè)開始從單純依賴制程微縮轉(zhuǎn)向
    的頭像 發(fā)表于 03-22 09:42 ?2109次閱讀
    <b class='flag-5'>3D</b><b class='flag-5'>封裝</b>與系統(tǒng)級<b class='flag-5'>封裝</b>的背景體系解析介紹

    西門子EDA工具如何助力行業(yè)克服技術(shù)挑戰(zhàn)

    西門子EDA工具以其先進(jìn)的技術(shù)和解決方案,在全球半導(dǎo)體設(shè)計(jì)領(lǐng)域扮演著舉足輕重的角色。本文將從汽車IC3D IC
    的頭像 發(fā)表于 03-20 11:36 ?2327次閱讀

    西門子Innovator3D IC平臺榮獲3D InCites技術(shù)賦能獎(jiǎng)

    此前,2025年33日至6日,第二十一屆年度設(shè)備封裝會(huì)議(Annual Device Packaging Conference,簡稱DPC 2025)在美國亞利桑那州鳳凰城成功舉辦。會(huì)上,西門子 Innovator
    的頭像 發(fā)表于 03-11 14:11 ?1546次閱讀
    西門子Innovator<b class='flag-5'>3D</b> <b class='flag-5'>IC</b>平臺榮獲<b class='flag-5'>3D</b> InCites技術(shù)賦能獎(jiǎng)

    Marvell展示2納米芯片3D堆疊技術(shù),應(yīng)對設(shè)計(jì)復(fù)雜性挑戰(zhàn)!

    隨著現(xiàn)代科技的迅猛發(fā)展,芯片設(shè)計(jì)面臨著前所未有的挑戰(zhàn)。特別是在集成電路(IC)領(lǐng)域,隨著設(shè)計(jì)復(fù)雜性的增加,傳統(tǒng)的光罩尺寸已經(jīng)成為制約芯片性能和功能擴(kuò)展的瓶頸。為了解決這一問題,3D堆疊技術(shù)應(yīng)運(yùn)而生
    的頭像 發(fā)表于 03-07 11:11 ?1138次閱讀
    Marvell展示2納米芯片<b class='flag-5'>3D</b>堆疊技術(shù),<b class='flag-5'>應(yīng)對</b>設(shè)計(jì)復(fù)雜性<b class='flag-5'>挑戰(zhàn)</b>!

    3D IC背后的驅(qū)動(dòng)因素有哪些?

    3D多芯片設(shè)計(jì)背后的驅(qū)動(dòng)因素以及3D封裝的關(guān)鍵芯片到芯片和接口IP要求。3D多芯片設(shè)計(jì)的市場預(yù)測顯示,硅片的設(shè)計(jì)和交付方式將發(fā)生前所未有的變化。IDTechEx預(yù)測到2028年Chip
    的頭像 發(fā)表于 03-04 14:34 ?1092次閱讀
    <b class='flag-5'>3D</b> <b class='flag-5'>IC</b>背后的驅(qū)動(dòng)因素有哪些?