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如何使用探頭定位近場EMI故障點

PRBTEK ? 來源:PRBTEK ? 作者:PRBTEK ? 2023-02-24 11:57 ? 次閱讀
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使用磁場和電場探頭

純電場或純磁場輻射很少存在于任何電路板上。對于調(diào)查來說,分別使用兩種探頭來了解騷擾的本質(zhì),并確定問題的根本原因是非常重要的。一般情況下,磁場泄漏是由PCB線路和電纜引起的,而電場泄漏是由相鄰線路和信號平面之間的電壓差引起的。不同的信號路徑設(shè)計會導(dǎo)致不同區(qū)域不同類型的場所占據(jù)主要優(yōu)勢。因此,在測量分析過程中,同時觀察兩個領(lǐng)域的分析功能可以帶來更多的靈活性。

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圖1:磁場探頭(左)和電場探頭(右)在進行信號捕獲時的行為

近場掃描方式

小步進或著近場探頭的微小重定位可能會影響場強讀數(shù),從而增加重復(fù)測量比對的困難度,特別是當(dāng)輻射強度相對基底噪聲只有幾個dB的差異時。探頭支架或夾具能夠在測試過程中提供一個穩(wěn)定的位置。這對于保持探頭的距離和穩(wěn)定探頭方向,從而盡量減小測量中的變化,是非常有必要的。

觀察隨機和雜散信號

進行近場信號觀測時,EMI的輻射往往是隨機的。當(dāng)探頭在被測件上面移動時,它能夠以一個非常短的間隔進行信號的拾取,而且可以一致地進行復(fù)現(xiàn)。最大保持功能被證明在這種復(fù)雜的觀測情況下是十分有用的。

峰值檢測和包絡(luò)模式下的最大保持功能能夠幫助工程師捕獲并且保持住所檢測到信號的最大峰值,從而在被測件不同模塊間進行信號測量排查時提供一個快速的視覺參考。如果創(chuàng)建一個模板來模擬標(biāo)準(zhǔn)的限制線,你還可以設(shè)置示波器在信號觸碰到模板時進行報警聲提示或者停止捕獲。這一功能對于當(dāng)你盯著被測件,并在上面來回移動近場探頭進行探查時十分有用,因為此時你的注意力是保持在電路板上而非儀器屏幕。

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圖2:一些示波器在包絡(luò)模式下帶有類似于頻譜儀最大保持的功能,此時測試中頻譜波形的最大最小值都會被描繪出來。你也可以創(chuàng)建一個模板(上圖中的灰色部分)來模擬標(biāo)準(zhǔn)的測試限制線。

在近場EMI調(diào)試測試中,總會有一些新的想法和權(quán)衡方法來減輕排查工作。設(shè)立任何近場測量時,可以使用上面的指南作為參考。以上就是關(guān)于知用Cybertek 電壓探頭的選型指南,如您使用中還有其他問題,歡迎登錄西安普科電子科技。

審核編輯:湯梓紅

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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