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芯片“爆米花”現(xiàn)象探究

新陽檢測中心 ? 來源: 新陽檢測中心 ? 作者: 新陽檢測中心 ? 2023-02-27 16:05 ? 次閱讀
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No.1什么是“爆米花”現(xiàn)象?

答:爆米花現(xiàn)象,是濕敏器件在受潮后,經(jīng)過高溫熱處理環(huán)節(jié)時,如回流焊、波峰焊等,導致器件內(nèi)部氣體膨脹,進而將器件撐起,甚至破壞塑封膠體或基板。并且在冷卻過程中,由于器件內(nèi)部材料熱脹冷縮速率不一致,進而使其出現(xiàn)“破裂”。

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爆米花效應常出現(xiàn)在以塑封BGA芯片上,但近年來,PBGA的封裝組件也屢有發(fā)生。在PBGA的封裝中,不僅銀膠會吸水,而且連載板的BT基材也會吸水,一旦出現(xiàn)管理不良,爆米花現(xiàn)象就較易出現(xiàn)。

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No.2“爆米花”現(xiàn)象出現(xiàn)的機理是?

答:典型共晶SnPb回流峰值溫度為220℃ ,水蒸氣壓力約17396㎜。無鉛焊SnAgCu的熔點217℃,即便一塊相對小的記憶卡或手機板也需要230~235℃的峰值溫度,而大而復雜的產(chǎn)品可能需要250~260℃。此點水蒸氣壓力為35188 ㎜,是220℃時的兩倍 ,因此任何焊接前吸潮的器件在回流焊過程中都會造成損壞的威脅。

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No.3“爆米花”現(xiàn)象如何檢測?

答:目前關于芯片“爆米花”現(xiàn)象的檢測,聲學掃描無疑是很好的方式。它利用超聲波的特性進行檢測,對器件內(nèi)部存在的空氣層非常敏感,故而可以快速地定位問題點,幫助排查失效原因。

參考文獻:最實用的掃描聲學顯微鏡(SAT)操作與應用指南

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No.4“爆米花”現(xiàn)象如何預防?

答:嚴格的物料管理制度

1?設計在明細表中應注明元件潮濕敏感度

2?工藝要對潮濕敏感元件做時間控制標簽

3?對已受潮元件進行去潮處理

SMD元件的潮濕敏感等級

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檢查包裝內(nèi)附的濕度顯示卡,當指示濕度>20%(在23±5℃時讀?。f明器件已經(jīng)受潮。在貼裝前,需對器件進行去潮處理。

輕度受潮時,再流焊緩慢升溫有一定效果。此外,還可以使用電熱鼓風干燥箱去潮,根據(jù)潮濕敏感度等級在125±1℃下烘烤12~48h或125±5℃下烘烤24h。

去潮處理注意事項

a. 應把器件碼放在耐高溫(大于150℃) 防靜電塑料托盤中進行烘烤;

b. 烘箱要確保接地良好,操作人員手腕帶接地良好的防靜電手鐲;

c. 操作過程中要輕拿輕放,注意保護器件的引腳,引腳不能有任何變形和損壞。

對于有防潮要求器件的存放和使用

開封后的器件和經(jīng)過烘烤處理的器件必須存放在相對濕度≤20%的環(huán)境下,如干燥箱或干燥塔中,貼裝時隨取隨用;

開封后,在環(huán)境溫度≤30℃,相對濕度≤60%的環(huán)境下,在規(guī)定時間內(nèi)完成貼裝;

當天沒有貼完的器件,應存放在23±3℃,相對濕度≤20%的環(huán)境下。

選擇具有優(yōu)良活性焊劑的SnAgCu焊膏

通過優(yōu)化再流焊工藝,將峰值溫度降到最低(230~240℃),在接近Sn63/Pb37,在回流峰值僅高于Sn63/Pb37溫度10℃的情況下,將由于吸潮器件失效的風險減到最少。

新陽檢測中心有話說:

本篇文章介紹了芯片“爆米花”現(xiàn)象,部分資料來源于網(wǎng)絡,侵權刪。如需轉載本篇文章,后臺私信獲取授權即可。若未經(jīng)授權轉載,我們將依法維護法定權利。原創(chuàng)不易,感謝支持!

新陽檢測中心將繼續(xù)分享關于PCB/PCBA、汽車電子及相關電子元器件失效分析、可靠性評價、真?zhèn)舞b別等方面的專業(yè)知識,點擊關注獲取更多知識分享與資訊信息。

審核編輯黃宇

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