這兩種方法都有其優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn)。高端電流檢測(cè)的優(yōu)點(diǎn)是能夠檢測(cè)與電流相關(guān)的故障，例如可能影響負(fù)載的短路或開(kāi)路。此外，通過(guò)高端電流檢測(cè)，負(fù)載可以直接參考地，我們將在后面探討。高端電流檢測(cè)的主要缺點(diǎn)是共模電壓相對(duì)較高（基于電源電壓），因此需要高共模放大器。

與高端電流檢測(cè)相反，在低端，共模以地為參考，因此可以使用更便宜、更容易獲得的低壓放大器。如前所述，低側(cè)電流檢測(cè)的一個(gè)缺點(diǎn)是分流電阻位于負(fù)載和地之間，這可能會(huì)導(dǎo)致接地環(huán)路問(wèn)題，因?yàn)樨?fù)載可能與電路的其余部分不完全相同。

如前所述，對(duì)于低側(cè)電流監(jiān)控，基本上任何單電源、低壓放大器都可以工作，因?yàn)楣材ｋ妷阂缘貫閰⒖肌Ｔ谶@種情況下，選擇最佳放大器取決于價(jià)格與所需性能，因?yàn)榉糯笃鞯氖д{(diào)電壓、失調(diào)漂移、共模和電源抑制以及瞬態(tài)響應(yīng)都可能是關(guān)鍵考慮因素。

對(duì)于高端電流檢測(cè)，放大器必須能夠支持更高的共模范圍，并處理電源線上可能發(fā)生的任何電壓瞬變。系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員可以再次使用配置為差動(dòng)放大器的標(biāo)準(zhǔn)運(yùn)算放大器，如圖2所示。但是，此方法存在一些局限性。首先，輸入電阻相對(duì)較低，由外部電阻決定，更不用說(shuō)輸入電流不匹配，這將限制共模抑制。說(shuō)到這一點(diǎn)，共模抑制也會(huì)受到電阻匹配程度的限制，這會(huì)導(dǎo)致性能不佳。

由于這些限制，放大器制造商已經(jīng)創(chuàng)建了用于高端電流檢測(cè)的專(zhuān)用放大器，例如Microchip的MCP6C02高端電流檢測(cè)放大器。MCP6C02是一款單放大器，專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)用于檢測(cè)通過(guò)分流電阻器的電流，并將該測(cè)量值轉(zhuǎn)換為成比例的輸出電壓。輸入引腳可支持高達(dá) 65V 的額定電壓、68V 的工作電壓。輸出電壓范圍將由一個(gè)單獨(dú)的電源引腳決定，該引腳的范圍為2.0V至5.5V，以便于與低壓ADC或MCU接口。MCP6C02 提供 20、50 和 100 V/V 三種固定增益選項(xiàng)。外部基準(zhǔn)引腳允許輸出電壓發(fā)生直流偏移，這使得MCP6C02能夠根據(jù)需要監(jiān)控兩個(gè)方向的電流。

審核編輯：郭婷