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快速集成USB測(cè)試套件以快速開始驗(yàn)證

星星科技指導(dǎo)員 ? 來源:synopsys ? 作者:Karim Aoua ? 2023-05-26 16:26 ? 次閱讀
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當(dāng)今設(shè)計(jì)的SoC日益復(fù)雜,驗(yàn)證復(fù)雜性呈指數(shù)級(jí)增長,這不僅是由于設(shè)計(jì)的復(fù)雜性,也是由于協(xié)議的復(fù)雜性。由于陡峭的學(xué)習(xí)曲線,新興的新協(xié)議使其更加困難。編寫測(cè)試用例以涵蓋整個(gè)協(xié)議成為 3-4 人年的工作,適用于 USB、PCIe 和以太網(wǎng)等復(fù)雜協(xié)議。Synopsys 提供 System Verilog/UVM 源代碼測(cè)試套件來驗(yàn)證復(fù)雜的協(xié)議。提供源代碼,測(cè)試可以擴(kuò)展,并輕松定制。通過使用 Synopsys 測(cè)試套件快速啟動(dòng)驗(yàn)證并加速覆蓋收斂,您可以節(jié)省工作量和時(shí)間。在這篇博客中,我們將概述USB測(cè)試套件,重點(diǎn)是易于集成和使用。

USB VIP 測(cè)試套件為一種類型的 USB DUT 提供了一個(gè)通用的測(cè)試平臺(tái)。例如,有一個(gè)用于設(shè)備 DUT 的通用測(cè)試平臺(tái)tb_dut_usb_device和一個(gè)用于主機(jī) DUT 的通用測(cè)試平臺(tái)tb_dut_usb_host。還提供了針對(duì)其他可能類型的USB DUT的不同測(cè)試平臺(tái)。連接到設(shè)備 VIP 的主機(jī) DUT 的測(cè)試平臺(tái)提供主機(jī)驅(qū)動(dòng)程序,用于將數(shù)據(jù)對(duì)象轉(zhuǎn)換為特定于 DUT 的 API 序列。還有一個(gè)用于通用 xHCI 寄存器模型和內(nèi)存操作的 xHCI 驅(qū)動(dòng)程序,例如創(chuàng)建命令 TRB 并將其寫入命令環(huán)、按命令門鈴并觀察命令完成事件 TRB。連接到主機(jī) VIP 的設(shè)備 DUT 的測(cè)試平臺(tái)提供了一個(gè)設(shè)備驅(qū)動(dòng)程序,用于將數(shù)據(jù)對(duì)象轉(zhuǎn)換為特定于 DUT 的 API 序列。

與 DUT 的預(yù)期連接是使用頂部模塊中的特定“連接參數(shù)”實(shí)現(xiàn)的??梢栽跍y(cè)試平臺(tái)中運(yùn)行預(yù)期的“連接類型”的測(cè)試。特定測(cè)試通過配置對(duì)象配置測(cè)試平臺(tái)環(huán)境。測(cè)試平臺(tái)級(jí)環(huán)境(TB_Env)基本上由兩個(gè)子環(huán)境組成:Host_Env和Device_Env,也是TB_Env級(jí)虛擬序列器和TB_Env級(jí)序列集合。主機(jī)/設(shè)備環(huán)境由主機(jī)/Device_Env級(jí)虛擬序列器和主機(jī)/Device_Env級(jí)序列集合組成。因此,在TB_Env級(jí)別編寫的序列可以面向主機(jī)/Device_Env級(jí)別的虛擬序列器。此主機(jī)/Device_Env級(jí)別的虛擬排序器由usb_transfer_sequencer、usb_service_sequencer和virtual_usb_sequencer組成。在主機(jī)/設(shè)備驅(qū)動(dòng)程序中,接收的傳輸/服務(wù)要么使用 xHCI 模型(主機(jī) DUT 作為 USB 控制器)進(jìn)行處理,要么可以重定向到連接到 VIP 代理的排序器的主機(jī)/Device_Env中的virtual_usb_sequencer,傳輸/服務(wù)的處理由 VIP 完成。

要將 Synopsys USB VIP 測(cè)試套件集成到 DUT 中,使用以下 SystemVerilog 接口

應(yīng)用程序接口 – 此接口使用 AXI/AHB 接口對(duì)控制器執(zhí)行 CSR(讀/寫),并對(duì)內(nèi)存進(jìn)行 DMA 訪問 (_mem)。

設(shè)備/主機(jī)接口 – 這是將 USB VIP 連接到 DUT 的 USB 接口。

設(shè)備特定接口 – 驅(qū)動(dòng)程序使用此接口輪詢 DUT 的中斷、事件和狀態(tài),從而控制 USB 測(cè)試套件驅(qū)動(dòng)程序。

下圖是具有以下設(shè)置的USB控制器DUT測(cè)試平臺(tái)示例:

被測(cè)器類型:USB 設(shè)備

DUT 包括 PHY:否

應(yīng)用界面:安巴AXI

USB 2.0 接口:{UTMI|ULPI} 和 USB 3.0 接口:{PIPE3}

wKgaomRwbUGAX8NnAAaRJYhUPuU496.png

USB 測(cè)試套件 VIP 與 DUT 集成

除 USB 測(cè)試套件外,Synopsys 還提供適用于各種總線、接口和內(nèi)存協(xié)議的測(cè)試套件。所有測(cè)試套件都易于集成和使用,并作為擴(kuò)展和自定義的源代碼提供。

審核編輯:郭婷

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