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白光干涉儀的應(yīng)用場景

中圖儀器 ? 2022-04-25 14:18 ? 次閱讀
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中圖儀器SuperViewW系列白光干涉儀采用的是非接觸式光學(xué)測量,在獲得實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)的同時(shí),不會(huì)對產(chǎn)品造成任何損傷,從而有效節(jié)約了生產(chǎn)成本,提高了生產(chǎn)效率,并且在線檢測,沒有滯后性,從而減少不合格品,對表面缺陷檢測亦如此。

3.jpg

如一張經(jīng)由VCUT微刻刀加工過的塑料薄片放到顯微鏡下,看到的是一面布滿點(diǎn)狀顆粒,另一面則被條狀溝槽所填滿,構(gòu)成了塑料片表面的微觀世界。

塑料薄片.png

使用中圖儀器SuperView W1光學(xué)3D表面輪廓儀對這張塑料片上下表面進(jìn)行掃描,點(diǎn)顆粒和溝槽輪廓一覽無余。

塑料薄片微觀1.jpg

點(diǎn)顆粒是凸點(diǎn),而溝槽則是弧形波,進(jìn)一步使用儀器的輪廓分析功能對凸點(diǎn)和弧形波進(jìn)行測量,得到它們的尺寸數(shù)據(jù)。

pYYBAGJmM92AQt0oAACBjWuqj4o389.jpgpoYBAGJmM92AJ55MAACQ1J0sFj4365.jpg

單個(gè)凸點(diǎn)截面直徑約42μm、高3.8um、夾角160°,分布周期97μm;單個(gè)弧形波高約1.6μm、寬約35μm,周期35μm。

SuperViewW系列三維輪廓測量儀分辨率0.1μm,重復(fù)性0.1%,具有測量精度高、功能全面、操作便捷、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),專用于精密零部件之重點(diǎn)部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測量。測量單個(gè)精密器件的過程用時(shí)2分鐘以內(nèi),確保了高款率檢測。并且其特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精密器件表面的測量。

pYYBAGJP6lGAKiPYAAJLG98yv2k850.jpg

參數(shù)

產(chǎn)品型號(hào):SuperView W1系列

產(chǎn)品名稱:光學(xué)3D表面輪廓儀

影像系統(tǒng):1024×1024

光學(xué)ZOOM:0.5×,(0.75×,1×可選)

干涉物鏡:10×,(2.5×,5×,20×,50×,100×可選)

XY平臺(tái):尺寸320×200mm,行程140×110mm,電動(dòng)、手動(dòng)同時(shí)具備,均為光柵閉環(huán)反饋

Z軸行程:100mm,電動(dòng)

Z向掃描范圍:10mm

Z向分辨率:0.1nm

水平調(diào)整:±5°手動(dòng)

粗糙度RMS重復(fù)性:0.005nm

臺(tái)階高測量:準(zhǔn)確度0.3%,重復(fù)性0.08% 1σ

主要特點(diǎn):非接觸式無損檢測,一鍵分析、測量速度快、效率高

生產(chǎn)企業(yè):深圳市中圖儀器股份有限公司

注釋:更多詳細(xì)產(chǎn)品信息,請聯(lián)系我們獲取

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