inTEST 熱流儀電源管理芯片高低溫沖擊測(cè)試
電源管理芯片由于多是在狹小空間內(nèi)工作, 散熱的條件不好, 大多是在高溫的環(huán)境中長(zhǎng)時(shí)間工作, 電源芯片經(jīng)常經(jīng)歷快速升溫的情況, 甚至經(jīng)歷在電壓不穩(wěn)時(shí)快速變溫的情況, 所以電源芯片在出廠時(shí)需要經(jīng)過(guò)測(cè)試芯片在快速變溫過(guò)程中的穩(wěn)定性, 這點(diǎn)十分重要. 上海伯東美國(guó) inTEST ThermoStream 高低溫沖擊測(cè)試機(jī)提供 -100°C 至 +225°C 快速溫度沖擊范圍, 滿足各類電源管理芯片的高低溫沖擊測(cè)試.

在電源管理芯片可靠性測(cè)試方面, 上海伯東美國(guó) inTEST ThermoStream ATS 系列熱流儀有著不同于傳統(tǒng)高低溫箱的獨(dú)特優(yōu)勢(shì):
變溫速率快, 每秒快速升溫 / 降溫18°C
通過(guò) ISO 9001, CE, RoHS 認(rèn)證
實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)待測(cè)元件真實(shí)溫度, 可隨時(shí)調(diào)整沖擊氣流溫度
針對(duì) PCB 電路板上眾多元器件中的某一單個(gè)IC(模塊), 單獨(dú)進(jìn)行高低溫沖擊, 而不影響周邊其它器件
滿足研發(fā)和大規(guī)模量產(chǎn)要求
可與愛(ài)德萬(wàn) advantest, 泰瑞達(dá) teradyne, 惠瑞捷 verigy 等各類測(cè)試儀聯(lián)用.

電源管理芯片高低溫沖擊測(cè)試案例: 應(yīng)用于電子消費(fèi)品行業(yè)的電源芯片, 下圖為實(shí)際的被測(cè)電源芯片, 焊在 PCB 板上. 需要在通電的情況下進(jìn)行溫度測(cè)試.
測(cè)試溫度范圍﹣60℃ - 150℃, 進(jìn)行 12組不同形式的循環(huán)溫度設(shè)定.
使用型號(hào):inTEST ATS-545

電源管理芯片高低溫沖擊測(cè)試案例:應(yīng)用于汽車電子行業(yè)的電源管理芯片, 在電測(cè)試時(shí), 同時(shí)搭配測(cè)試儀, 設(shè)定不同的溫度數(shù)值, 檢查不同溫度下電源芯片各項(xiàng)功能是否正常. 通過(guò)使用上海伯東美國(guó) inTEST 熱流儀, 大幅提高工作效率, 并能及時(shí)評(píng)估研發(fā)過(guò)程中的潛在問(wèn)題.
測(cè)試溫度范圍:-40℃- 80℃
使用型號(hào):inTEST ATS-710E

電源管理芯片高低溫沖擊測(cè)試案例:應(yīng)用于電力系統(tǒng)的電源管理芯片, 因客戶研發(fā)場(chǎng)地受限, 無(wú)法使用空壓機(jī), 最終選用 ATS-535 全球唯一內(nèi)部集成空壓機(jī)的高低溫沖擊機(jī)進(jìn)行測(cè)試.
測(cè)試溫度范圍:-60℃-150℃
使用型號(hào):inTEST ATS-535

電源管理芯片 Power Management Integrated Circuits 是在電子設(shè)備系統(tǒng)中擔(dān)負(fù)起對(duì)電能的變換, 分配, 檢測(cè)及其他電能管理職責(zé)的芯片. 在電源的設(shè)計(jì)中, 需要用到各種形式的管理芯片, 在電測(cè)試下, 隨著電源溫度的變化, 需要保證芯片的正常運(yùn)轉(zhuǎn), 一般芯片的溫度越高, 可靠度越低, 失效率就會(huì)變高. 因此在芯片的設(shè)計(jì)之初就要考慮溫度問(wèn)題.

70年代成立至今, 美國(guó) inTEST Thermal Solutions 超過(guò) 50 年的研發(fā)生產(chǎn)經(jīng)驗(yàn), 經(jīng)過(guò)多年市場(chǎng)實(shí)踐的高可靠性和穩(wěn)定性, 滿足各類電子芯片的測(cè)試要求. inTEST 已收購(gòu) Thermonics 和 Temptronic. 上海伯東是美國(guó) inTEST 中國(guó)總代理.

鑒于客戶信息保密, 若您需要進(jìn)一步的了解 inTEST 高低溫沖擊測(cè)試機(jī)詳細(xì)信息或討論, 請(qǐng)聯(lián)絡(luò)上海伯東葉女士