1.測試對象

HD-G2UL-EVM基于HD-G2UL-CORE工業(yè)級核心板設計，一路千兆網口、一路CAN-bus、

3路TTLUART、LCD、WiFi、CSI攝像頭接口等，接口豐富，適用于工業(yè)現(xiàn)場應用需求，亦方便用戶評估核心板及CPU的性能。

HD-G2UL-CORE系列工業(yè)級核心板基于RZ/G2UL微處理器配備Cortex?-A55(1GHz)CPU、16位DDR3L/DDR4接口。此外，這款微處理器還配備有大量接口，如攝像頭輸入、顯示輸出、USB2.0和千兆以太網，因此特別適用于入門級工業(yè)人機界面(HMI)和具有視頻功能的嵌入式設備等應用。

圖1.1HD-G2UL-EVM評估板

1.測試目的

低溫存儲測試的主要目的是測試設備的可靠性和穩(wěn)定性。

低溫存儲測試可以模擬設備在極端溫度條件下的工作環(huán)境，例如極寒的氣候或高空環(huán)境。測試過程中，設備將處于非常低的溫度下，可能會導致某些部件或系統(tǒng)出現(xiàn)故障或性能下降。通過測試設備在這種條件下的性能和可靠性，可以幫助制造商確定是否需要改進設計或使用更可靠的組件。

在低溫存儲測試之后，啟動開發(fā)板的目的是檢查設備是否能夠正常啟動并運行。這可以驗證設備在低溫條件下的可靠性和穩(wěn)定性，以及設備在此條件下的操作是否符合預期。如果設備無法正常啟動或運行，測試結果將指示可能需要改進設計或使用更可靠的組件。

總之，低溫存儲測試和啟動開發(fā)板的目的是為了驗證設備的可靠性和穩(wěn)定性，并確定是否需要改進設計或使用更可靠的組件。

2.測試結果

表2.1測試結果

3.測試準備

1.2套HD-G2UL-EVM評估板、網線、Type-C數(shù)據線，電腦主機。

2.高低溫試驗箱。

4.測試環(huán)境

圖4.1測試環(huán)境

5.測試過程

5.1-40℃低溫啟動

將環(huán)境溫度設置-40℃，如圖5.1所示。被測試樣機低溫存儲2小時，2小時后上電啟動。

圖5.1高低溫試驗箱

上電后兩套HD-G2UL-EVM評估板啟動正常，未出現(xiàn)系統(tǒng)異常死機等情況。此時環(huán)境溫度-40℃，兩套評估板CPU溫度分別為-18.5℃和-19.5℃，如圖5.3圖5.3所示。

圖5.2

圖5.3

6.關于HD-G2UL-EVM-IOT

6.1硬件參數(shù)

HD-G2UL-EVM-IOT板載的外設功能：

集成1路10M/100M/1000M自適應以太網接口

集成Wi-Fi

集成3路TTLUART接口

集成1路CAN-bus接口

集成3路USBHost(2路TypeA、1路白色帶扣USB直插插座)

支持1路TF卡接口

支持液晶顯示接口（RGB信號）

支持4線電阻觸摸屏與電容屏接口

1路攝像頭接口（MIPICSI）

支持音頻（耳機、MIC）

支持實時時鐘與后備電池

支持蜂鳴器與板載LED

支持GPIO

1路TTLUART調試串口

直流+5V電源供電

HD-G2UL-EVM-CORE核心板硬件資源參數(shù)：

?

注：受限于主板的尺寸與接口布局，核心板部分資源在IoT底板上引出。