白光干涉儀如何選擇鏡頭丨科普篇
聲明：本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫(xiě)或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人，不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用，如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題，請(qǐng)聯(lián)系本站處理。
舉報(bào)投訴
-
干涉儀
+關(guān)注
關(guān)注
0文章
148瀏覽量
10736 -
白光干涉儀
+關(guān)注
關(guān)注
0文章
237瀏覽量
3358
發(fā)布評(píng)論請(qǐng)先 登錄
相關(guān)推薦
熱點(diǎn)推薦
以設(shè)計(jì)鑄品質(zhì)！優(yōu)可測(cè)白光干涉儀AM-8000榮膺2025德國(guó)紅點(diǎn)獎(jiǎng)
優(yōu)可測(cè)白光干涉儀AM-8000打破了傳統(tǒng)精密儀器“輕設(shè)計(jì)” 的固有認(rèn)知，憑借技術(shù)沉淀與創(chuàng)新設(shè)計(jì)，斬獲2025德國(guó)紅點(diǎn)獎(jiǎng)！
白光干涉儀在晶圓深腐蝕溝槽的 3D 輪廓測(cè)量
摘要：本文研究白光干涉儀在晶圓深腐蝕溝槽 3D 輪廓測(cè)量中的應(yīng)用，分析其工作原理及適配深腐蝕溝槽特征的技術(shù)優(yōu)勢(shì)，通過(guò)實(shí)際案例驗(yàn)證測(cè)量精度，為晶圓深腐蝕工藝的質(zhì)量控制與器件性能優(yōu)化提供技術(shù)支持
白光干涉儀在肖特基二極管晶圓的深溝槽 3D 輪廓測(cè)量
摘要：本文研究白光干涉儀在肖特基二極管晶圓深溝槽 3D 輪廓測(cè)量中的應(yīng)用，分析其工作原理及適配深溝槽結(jié)構(gòu)的技術(shù)優(yōu)勢(shì)，通過(guò)實(shí)際案例驗(yàn)證其測(cè)量精度，為肖特基二極管晶圓深溝槽制造的質(zhì)量控制與性能優(yōu)化提供
電壓放大器：相位調(diào)制零差干涉儀性能評(píng)價(jià)實(shí)驗(yàn)的關(guān)鍵驅(qū)動(dòng)力
實(shí)驗(yàn)名稱： 相位調(diào)制零差干涉儀性能評(píng)價(jià)及實(shí)驗(yàn) 實(shí)驗(yàn)?zāi)康模?測(cè)試相位調(diào)制零差干涉儀在測(cè)量鏡靜止時(shí)，由環(huán)境參數(shù)變化引起測(cè)量干涉儀與參考干涉儀之間干涉
白光干涉儀與激光干涉儀的區(qū)別及應(yīng)用解析
在精密測(cè)量領(lǐng)域，干涉儀作為基于光的干涉原理實(shí)現(xiàn)高精度檢測(cè)的儀器，被廣泛應(yīng)用于工業(yè)制造、科研實(shí)驗(yàn)等場(chǎng)景。其中，白光干涉儀與激光干涉儀是兩類(lèi)具有
白光干涉儀與原子力顯微鏡測(cè)試粗糙度的區(qū)別解析
表面粗糙度作為衡量材料表面微觀形貌的關(guān)鍵指標(biāo)，其精準(zhǔn)測(cè)量在精密制造、材料科學(xué)等領(lǐng)域具有重要意義。白光干涉儀與原子力顯微鏡（AFM）是兩類(lèi)常用的粗糙度測(cè)試工具，二者基于不同的測(cè)量原理，在測(cè)試范圍、精度及適用性上存在顯著差異。明確這些差異對(duì)于
白光干涉儀可以測(cè)量什么？精準(zhǔn)測(cè)量粗糙度、臺(tái)階高度、形貌、平面度、膜厚、PV、曲率#優(yōu)可測(cè) #優(yōu)可測(cè)白光干涉儀
干涉儀
優(yōu)可測(cè)
發(fā)布于 :2025年08月07日 09:12:38
引進(jìn)白光干涉儀管控微流控芯片形貌，性能大幅提升
白光干涉儀納米級(jí)管控微流控芯片表面粗糙度，以及微流道高度和寬度，提升微流控產(chǎn)品性能與質(zhì)量，滿足不同客戶需求。
VirtualLab Fusion：用于光學(xué)檢測(cè)的斐索干涉儀
摘要
斐索干涉儀是工業(yè)上常見(jiàn)的光學(xué)計(jì)量設(shè)備，通常用于高精度測(cè)試光學(xué)表面的質(zhì)量。在VirtualLab Fusion中通道配置的幫助下，我們建立了一個(gè)Fizeau干涉儀，并將其用于測(cè)試不同的光學(xué)表面
發(fā)表于 05-28 08:48
Aigtek電壓放大器在光纖干涉儀噪聲抑制研究中的應(yīng)用
實(shí)驗(yàn)名稱： 基于光纖干涉儀的低頻段頻率噪聲抑制研究 實(shí)驗(yàn)內(nèi)容： 光纖干涉儀作為一種可以精細(xì)鑒別激光相位的結(jié)構(gòu)裝置，被廣泛地應(yīng)用于激光相位噪聲的測(cè)試測(cè)量工作。運(yùn)用逆向思維，利用光纖干涉儀輸出的攜帶激光
光學(xué)實(shí)驗(yàn)教具應(yīng)用：邁克爾遜干涉儀實(shí)驗(yàn)
1. 實(shí)驗(yàn)概述
邁克爾遜干涉儀是光學(xué)干涉儀中最常見(jiàn)的一種，其原理是一束入射光分為兩束后各自被對(duì)應(yīng)的平面鏡反射回來(lái)，這兩束光從而能夠發(fā)生干涉。干涉中兩束光的不同光程可以通過(guò)調(diào)節(jié)
發(fā)表于 05-08 08:51
FRED應(yīng)用：天文光干涉儀
干涉儀中光線的光程差會(huì)隨著角度的增大而增大。探測(cè)器上生成的干涉圖樣的一些例子如圖2所示。
圖2.左：角度范圍為1弧秒的恒星在探測(cè)器上的白光干涉圖樣，
發(fā)表于 04-29 08:52
納米級(jí)形貌快速測(cè)量，優(yōu)可測(cè)白光干涉儀助力摩擦磨損學(xué)科發(fā)展
研究摩擦學(xué)，能帶來(lái)什么價(jià)值？從摩擦磨損到亞納米級(jí)精度，白光干涉儀如何參與摩擦學(xué)發(fā)展？
優(yōu)可測(cè)旗艦白光干涉儀新品發(fā)布：一鍵對(duì)焦一鍵調(diào)平，測(cè)量效率提升7倍！#優(yōu)可測(cè) #優(yōu)可測(cè)白光干涉儀 #白光干涉儀
干涉儀
優(yōu)可測(cè)
發(fā)布于 :2025年03月29日 08:49:30
一鍵對(duì)焦+一鍵調(diào)平，測(cè)量效率提升7倍 | 優(yōu)可測(cè)全新旗艦白光干涉儀發(fā)布
測(cè)量精度小于1納米，性能進(jìn)入全球一梯隊(duì)，優(yōu)可測(cè)旗艦白光干涉儀發(fā)布
工商網(wǎng)監(jiān)
評(píng)論