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關(guān)于ESD靜電浪涌測(cè)試在連接器端子失效分析中的應(yīng)用啟示

優(yōu)爾鴻檢測(cè) ? 2023-07-05 10:04 ? 次閱讀
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信號(hào)HDMI連接器接地pin腳出現(xiàn)燒毀不良 圖源:華南檢測(cè)中心

本文案例,從信號(hào)板HDMI連接器接地pin腳出現(xiàn)燒毀不良現(xiàn)象展開,通過第三方實(shí)驗(yàn)室提供失效分析報(bào)告,可以聚焦失效可能原因,比如,可能輸入電流過大、電流負(fù)載過大、遭遇雷擊影響,建議產(chǎn)品進(jìn)行整機(jī)開機(jī)時(shí)進(jìn)行模擬雷擊浪涌測(cè)試、on-board短路測(cè)試模擬電流負(fù)載,或者從材料優(yōu)化著手,增加Mylar絕緣片,在連接器端子附近保護(hù)鋼片表面特定位置進(jìn)行絕緣處理,預(yù)防保護(hù)鋼片短路。

連接器端子失效現(xiàn)象描述

信號(hào)板HDMI連接器接地第17pin(后續(xù)簡(jiǎn)稱17pin)功能不良,初步觀察發(fā)現(xiàn)該17 Pin已經(jīng)燒掉,17 Pin彎曲處特別是上保護(hù)鋼片附近位置有燒壞,并有明顯凹坑,但臨近18 Pin完好,排除17 Pin、18 Pin短路可能性。

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HDMI連接器端子失效現(xiàn)象3D顯微觀察圖源:華南檢測(cè)中心

連接器端子失效分析流程

圍繞不良現(xiàn)象進(jìn)行分析可能原因,分別從連接器設(shè)計(jì)、ESD靜電釋放影響、高壓擊穿試驗(yàn)、金屬短路等角度進(jìn)行驗(yàn)證試驗(yàn)分析,主要流程如下:

1,連接器設(shè)計(jì)排查:先針對(duì)連接器端子間pitch設(shè)計(jì)符合性符合性進(jìn)行排查,確認(rèn)端子間PIN設(shè)計(jì)是否相符,對(duì)連接器奇數(shù)Pin與保護(hù)鋼間距進(jìn)行尺寸測(cè)量,幫助確認(rèn)間距設(shè)計(jì)符合性。

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連接器端子間pitch間距尺寸測(cè)量 圖源:華南檢測(cè)中心

2,ESD靜電排查,主要評(píng)估ESD靜電釋放對(duì)連接器端子燒壞的可能影響,借助ESD測(cè)試庫(kù)存良品,參考HDMI 1.3版測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),并未發(fā)現(xiàn)擊穿現(xiàn)象。

3,過電流測(cè)試,先將HDMI 連接器17pin與18pin短接,再在另外兩端設(shè)定電壓5V,調(diào)節(jié)電流從0.5A到3A再加到5A,持續(xù)一段時(shí)間,觀察HDMI 連接器pin并未出現(xiàn)燒壞狀況,只是外殼發(fā)熱、連接器端子表面也發(fā)熱。接下來,進(jìn)行on-board 短路測(cè)試模擬負(fù)載狀況,通過仿真信號(hào)接受端Sink Source,如果前面輸入端Source Device輸入電流過大,超過0.5A,確認(rèn)會(huì)不會(huì)燒壞端子。

4,金屬短路:借助3D顯微鏡觀察,發(fā)現(xiàn)HDMI連接器開口,即插cable端口位置17pin表面存在燒壞殘留物質(zhì),結(jié)合3D X-Ray掃描檢測(cè)分析,發(fā)現(xiàn)17pin塑料孔內(nèi)無端子,插cable端口位置殘留物為端子本身燒壞殘留物。

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HDMI連接器端子失效位置X Ray掃描檢測(cè)圖源:華南檢測(cè)中心

連接器端子失效分析結(jié)論和建議

結(jié)合上述試驗(yàn)分析數(shù)據(jù),針對(duì)HDMI連接器燒壞原因,可以確認(rèn)結(jié)論如下:首先為輸入電流過大,可能性最大來自客戶輸入端Device,該Device提供電流過大導(dǎo)致燒壞,引發(fā)客戶端Cable端子異常有短路現(xiàn)象;其次,可能原因?yàn)樵獾嚼讚簦ㄗh使用整機(jī)進(jìn)行浪涌測(cè)試,就是模擬在打雷的情形下進(jìn)行正常開機(jī)工作,或者負(fù)載過大,建議進(jìn)行on-board 短路測(cè)試,仿真信號(hào)接受端Sink Source,如果前面輸入端Source Device的輸入電流過大超過某個(gè)設(shè)定值,確認(rèn)會(huì)不會(huì)燒壞端子;最后,建議優(yōu)化材料設(shè)計(jì),比如增加Mylar絕緣片,在連接器端子附近保護(hù)鋼片表面特定位置進(jìn)行絕緣處理,預(yù)防保護(hù)鋼片短路等等。

總而言之,關(guān)于連接器失效現(xiàn)象種類各異,進(jìn)行原因機(jī)理失效分析所展開實(shí)驗(yàn)室流程,也會(huì)各有不同。本文從信號(hào)板HDMI連接器端子燒毀失效現(xiàn)象入手,分享來自第三方實(shí)驗(yàn)室分析案例,希望能拋磚引玉,與文共勉。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
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