電子設(shè)備本身有不同類型的噪聲源，包括熱噪聲、散粒噪聲、白噪聲和1/f(閃爍)噪聲。1/f噪聲是電流(ISD)或功率(PSD)譜密度與頻率成反比的低頻電子噪聲。許多類型的電子元件都表現(xiàn)出1/f噪聲，包括半導體器件、某些類型的電阻器、石墨烯等二維材料，甚至化學電池。器件尺寸越來越小，噪聲成為限制器件靈敏度的關(guān)鍵因素；除了熱噪聲外，1/f噪聲就成為衡量材料和器件性能的一個關(guān)鍵指標；實際工作中我們會通過嘗試不同的工藝或器件結(jié)構(gòu)來降低1/f噪聲。

器件的1/f噪聲是通過測量電流作為時間的函數(shù)，然后將數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為頻域來確定的?？焖俑道锶~變換(FFT)是一種將時域數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為頻域數(shù)據(jù)的常用方法。

泰克的半導體參數(shù)分析儀4200A可以通過SMU或PMU測試電流，主機軟件包含F(xiàn)FT功能，可以將時域波形轉(zhuǎn)換為頻域波形，讓我們方便進行1/f噪聲測試。

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直播預告

本期云上大講堂，泰克高級應用工程師 趙凱將為大家介紹：

■1/f噪聲的概念和測試方法

■使用4200A進行1/f噪聲測試

?測試系統(tǒng)的底噪

?1/f噪聲測試頻率范圍的設(shè)定

?SMU和PMU測試示例

?提升1/f噪聲測試精度的方法

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直播日程安排

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時間

2023年7月27日（周四）1430

講師介紹

趙凱

泰克高級應用工程師

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