2023年6月2日，IME西部微波會于成都圓滿落下帷幕。IME西部微波會是針對RF、微波、天線、微波毫米波集成電路、太赫茲、無線通信技術和電磁場理論的技術會議和展覽，匯集了中國創(chuàng)新前沿和領先科技公司的工程師，為來自5G/6G、消費電子、智能制造、集成電路、安防、航空、軍用等行業(yè)的觀眾帶來新資訊和新產品。

科測試測量團隊在此次展會中向來者展示了前沿技術——虹科射頻信號采集與仿真測試方案。虹科在展會現場與各位客戶朋友進行了一對一的溝通交流，并以最真誠、最專業(yè)的態(tài)度為參會人員提供測試行業(yè)的最新資訊及專業(yè)解決方案。虹科期待與您的下一次見面！

現場照片

√虹科展品一覽虹科高速數據采集方案

虹科提供高速數字化儀、任意波形發(fā)生器和數字 I/O 產品。數字化儀產品組合涵蓋采樣率在5 MS/s 和 5 GS/s 之間的中高速范圍，帶寬可達1GHz以上。AWG可提供 40 MS/s 至 1.25 GS/s 的輸出速率和超過 500 MHz 的帶寬。虹科高速數據采集方案專為高連續(xù)數據吞吐量而設計，可用于創(chuàng)建在 GHz 范圍內進行連續(xù)、無縫記錄的流媒體系統(tǒng)。

虹科信號生成方案

虹科提供最佳的信號激勵解決方案，如快速脈沖發(fā)生器、任意波形發(fā)生器和數據模式發(fā)生器，更新速率為6.16 GS/s，垂直分辨率為16位，提供2、4或8通道型號，最高可產生2 GHz正弦波可以滿足從數字邏輯和半導體表征、航空航天和國防合規(guī)性測試、混合信號系統(tǒng)測試到信號完整性實驗的廣泛應用。

虹科基礎元件老化測試系統(tǒng)

虹科基礎元件老化測試系統(tǒng)主要用于元件老化測試，通過給元件施加電壓，同時施加高溫和高濕的環(huán)境，來加速元件的老化并測試可靠性。系統(tǒng)采用模塊化設計，支持通道擴展，自帶全程實時監(jiān)控和電流超限（短路或斷路）保護功能，可以自動化測試并生成測試報告，高達1000+通道，能夠進行萬片以上元件的測試。

虹科電流電壓采集模塊

虹科電壓電流采集模塊提供8通道20位電流監(jiān)測通道，可實現電壓，電流，功率，電能和電量的同時測量，模塊提供多種通訊接口，包括RS485,CAN和USB，可以方便地實現數據通訊。產品體積小巧，適用于汽車電子，消費電子，航空航天等多領域中電流的監(jiān)測和電能電量的測試。

虹科射頻微波開關

虹科PXI微波開關模塊包含低插入損耗和隔離度高的高性能開關，包括簡單的多路復用器、集成矩陣以及大規(guī)模多路復用器，可選50Ω或75Ω模塊。遠程版本的微波開關占用一個PXI插槽，與主機機箱分開安裝，可以通過提供的控制電纜連接到模塊。