91欧美超碰AV自拍|国产成年人性爱视频免费看|亚洲 日韩 欧美一厂二区入|人人看人人爽人人操aV|丝袜美腿视频一区二区在线看|人人操人人爽人人爱|婷婷五月天超碰|97色色欧美亚州A√|另类A√无码精品一级av|欧美特级日韩特级

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

我國成功研制新型光學(xué)晶體滿足半導(dǎo)體晶圓檢測等需求

旺材芯片 ? 來源:旺材芯片 ? 2023-08-09 17:31 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

激光是二十世紀(jì)人類最重大的發(fā)明之一。

最近,中國科學(xué)院科研團(tuán)隊(duì)成功研制出一種新型非線性光學(xué)晶體全波段相位匹配晶體,實(shí)現(xiàn)了整個(gè)透光范圍內(nèi)的激光輸出,它可以滿足我國半導(dǎo)體晶圓檢測等領(lǐng)域的重大需求。

非線性光學(xué)晶體是獲得不同波長激光的物質(zhì)條件和源頭。

在晶體中實(shí)現(xiàn)應(yīng)用波段相位匹配被普遍認(rèn)為是重要的技術(shù)挑戰(zhàn)之一,決定最終激光輸出的功率和效率。

其中,利用晶體各向異性的雙折射相位匹配技術(shù)是應(yīng)用最廣泛的彌補(bǔ)相位失配的有效途徑。

中科院新疆理化所晶體材料研究中心潘世烈科研團(tuán)隊(duì),在提出非線性光學(xué)晶理想狀態(tài)假設(shè)的理論基礎(chǔ)上,經(jīng)過不斷實(shí)踐,成功創(chuàng)制出新非線性光學(xué)晶體,即全波段相位匹配晶體。

該研究揭示了全波段相位匹配晶體的物理機(jī)制,并指導(dǎo)獲得一例非線性光學(xué)晶體(GFB)。

它首次通過全波段雙折射相位匹配技術(shù),對晶體材料透過范圍內(nèi)任意波長的相位匹配,實(shí)現(xiàn)了深紫外激光輸出,可以滿足半導(dǎo)體晶圓檢測等領(lǐng)域的重大需求。

中科院科研團(tuán)隊(duì)介紹,該類晶體可采用水溶液法生長出高質(zhì)量、超大尺寸晶體,使其有望成為應(yīng)用于我國大科學(xué)裝置的新晶體材料。

此項(xiàng)成果已于近日在國際學(xué)術(shù)期刊《自然·光子學(xué)》在線發(fā)表。






聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • 激光器
    +關(guān)注

    關(guān)注

    18

    文章

    2959

    瀏覽量

    64610
  • 半導(dǎo)體芯片
    +關(guān)注

    關(guān)注

    61

    文章

    943

    瀏覽量

    72635
  • 半導(dǎo)體晶圓
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    49

    瀏覽量

    5629

原文標(biāo)題:我國成功研制新型光學(xué)晶體,可滿足半導(dǎo)體晶圓檢測等領(lǐng)域重大需求

文章出處:【微信號(hào):wc_ysj,微信公眾號(hào):旺材芯片】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。

收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評(píng)論

    相關(guān)推薦
    熱點(diǎn)推薦

    瑞樂半導(dǎo)體——RTD Wafer測溫系統(tǒng)#檢測 #測溫 #制造過程

    瑞樂半導(dǎo)體
    發(fā)布于 :2025年12月16日 20:35:51

    半導(dǎo)體行業(yè)轉(zhuǎn)移清洗為什么需要特氟龍夾和花籃?

    半導(dǎo)體芯片的精密制造流程中,從一片薄薄的硅片成長為百億晶體管的載體,需要經(jīng)歷數(shù)百道工序。在半導(dǎo)體芯片的微米級(jí)制造流程中,
    的頭像 發(fā)表于 11-18 15:22 ?394次閱讀
    <b class='flag-5'>半導(dǎo)體</b>行業(yè)<b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圓</b>轉(zhuǎn)移清洗為什么需要特氟龍<b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圓</b>夾和花籃?

    共聚焦顯微鏡在半導(dǎo)體檢測中的應(yīng)用

    半導(dǎo)體制造工藝中,經(jīng)棒切割后的硅尺寸檢測,是保障后續(xù)制程精度的核心環(huán)節(jié)。共聚焦顯微鏡憑借其高分辨率成像能力與無損
    的頭像 發(fā)表于 10-14 18:03 ?602次閱讀
    共聚焦顯微鏡在<b class='flag-5'>半導(dǎo)體</b>硅<b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圓</b><b class='flag-5'>檢測</b>中的應(yīng)用

    半導(dǎo)體行業(yè)案例:切割工藝后的質(zhì)量監(jiān)控

    切割,作為半導(dǎo)體工藝流程中至關(guān)重要的一環(huán),不僅決定了芯片的物理形態(tài),更是影響其性能和可靠性的關(guān)鍵因素。傳統(tǒng)的切割工藝已逐漸無法滿足日益嚴(yán)苛的工藝要求,而新興的激光切割技術(shù)以其卓越的
    的頭像 發(fā)表于 08-05 17:53 ?904次閱讀
    <b class='flag-5'>半導(dǎo)體</b>行業(yè)案例:<b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圓</b>切割工藝后的質(zhì)量監(jiān)控

    半導(dǎo)體研制出高品質(zhì)12英寸SiC

    近日,半導(dǎo)體傳來重大喜訊,在半導(dǎo)體材料研發(fā)領(lǐng)域取得了新的里程碑式突破。繼 2025 年上半年成功量產(chǎn) 8 英寸碳化硅襯底后,公司持續(xù)加大研發(fā)投入,不斷優(yōu)化工藝,于 7 月 21 日
    的頭像 發(fā)表于 07-25 16:54 ?882次閱讀

    半導(dǎo)體檢測與直線電機(jī)的關(guān)系

    檢測是指在制造完成后,對進(jìn)行的一系列物理
    的頭像 發(fā)表于 06-06 17:15 ?880次閱讀
    <b class='flag-5'>半導(dǎo)體</b><b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圓</b><b class='flag-5'>檢測</b>與直線電機(jī)的關(guān)系

    wafer厚度(THK)翹曲度(Warp)彎曲度(Bow)數(shù)據(jù)測量的設(shè)備

    測量。 (2)系統(tǒng)覆蓋襯底切磨拋,光刻/蝕刻后翹曲度檢測,背面減薄厚度監(jiān)測關(guān)鍵工藝環(huán)節(jié)。 作為半導(dǎo)體工業(yè)的“地基”,其高純度、單晶結(jié)構(gòu)
    發(fā)表于 05-28 16:12

    隱裂檢測提高半導(dǎo)體行業(yè)效率

    相機(jī)與光學(xué)系統(tǒng),可實(shí)現(xiàn)亞微米級(jí)缺陷檢測,提升半導(dǎo)體制造的良率和效率。SWIR相機(jī)隱裂檢測系統(tǒng)
    的頭像 發(fā)表于 05-23 16:03 ?818次閱讀
    <b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圓</b>隱裂<b class='flag-5'>檢測</b>提高<b class='flag-5'>半導(dǎo)體</b>行業(yè)效率

    RFID技術(shù)在半導(dǎo)體卡塞盒中的應(yīng)用方案

    ?隨著半導(dǎo)體制造工藝的生產(chǎn)自動(dòng)化需求以及生產(chǎn)精度、流程可控性的需求,卡塞盒作為承載
    的頭像 發(fā)表于 05-20 14:57 ?759次閱讀
    RFID技術(shù)在<b class='flag-5'>半導(dǎo)體</b><b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圓</b>卡塞盒中的應(yīng)用方案

    提供半導(dǎo)體工藝可靠性測試-WLR可靠性測試

    隨著半導(dǎo)體工藝復(fù)雜度提升,可靠性要求與測試成本及時(shí)間之間的矛盾日益凸顯。級(jí)可靠性(Wafer Level Reliability, WLR)技術(shù)通過直接在未封裝
    發(fā)表于 05-07 20:34

    半導(dǎo)體制造流程介紹

    本文介紹了半導(dǎo)體集成電路制造中的制備、制造和
    的頭像 發(fā)表于 04-15 17:14 ?2943次閱讀
    <b class='flag-5'>半導(dǎo)體</b><b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圓</b>制造流程介紹