選擇合適的晶振測試儀主要取決于您的具體需求和測試環(huán)境。以下是一些考慮因素：

頻率范圍：根據(jù)需要測試的晶振頻率范圍，選擇能夠覆蓋該范圍的測試儀。

精度和分辨率：高精度和分辨率的測試儀可以提供更準(zhǔn)確的測試結(jié)果。考慮您對測試結(jié)果的要求，選擇能夠滿足您需求的測試儀。

測試功能：不同的晶振測試儀可能提供不同的測試功能，例如阻抗測量、負(fù)載電容測量、PPM測量、Q值測量等。根據(jù)您的需求，選擇具有所需測試功能的測試儀。

操作便捷性：考慮儀器的操作界面、操作步驟以及報告生成等便捷性。一個易于使用的測試儀可以節(jié)省您的測試時間。

預(yù)算：根據(jù)您的預(yù)算，選擇適合您經(jīng)濟(jì)狀況的晶振測試儀。

一、產(chǎn)品簡介

晶振測試儀GDS-80系列是高性價比的晶振測試系統(tǒng)，采用網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)，實(shí)現(xiàn)智能化測量，符合IEC-444標(biāo)準(zhǔn)。測量頻率范圍10KHz-200KHz,1MHz-200MHz，附USB接口進(jìn)行數(shù)據(jù)通迅。

晶振測試儀GDS-80系列采用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法實(shí)現(xiàn)串聯(lián)諧振頻率的測量，采用直接阻抗法來測試負(fù)載諧振頻率和負(fù)載電容，它測量精度高，速度快。具有串聯(lián)諧振頻率Fs、負(fù)載諧振頻率FL、串聯(lián)諧振電阻Rs、負(fù)載諧振電阻RL、負(fù)載電容CL、動態(tài)電容C1、動態(tài)電感L1、品質(zhì)因數(shù)Q、靜電容C0、頻率牽引力Ts等參數(shù)測量功能，負(fù)載電容在1-100P范圍內(nèi)任意編程設(shè)置，從滿足不同負(fù)載電容的晶振測試，智能網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)運(yùn)算克服了市場上晶振測試設(shè)備使用實(shí)體電容法測試精度差，無法測試電參數(shù)的缺點(diǎn)、解除了手工校對的麻煩，讓晶振測試變得更輕松。

依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)：

SJ/Z 9154.1-87/ IEC 444-1(1989)《用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法測量石英晶體元件參數(shù)第一部分：用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法測量石英晶體元件諧振頻率和諧振電阻的基本方法》；

SJ/Z 9154.2-87/ IEC 444-2(1980)《用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法測量石英晶體元件參數(shù)第二部分測量石英晶體元件動態(tài)電容的相位偏置法》；

GB∕T22319.11-2018/IEC 60444-11:2010《石英晶體元件參數(shù)的測量第11部分：采用自動網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)和誤差校正確定負(fù)載諧振頻率和有效負(fù)載電容的標(biāo)準(zhǔn)方法》；

二、主要技術(shù)指標(biāo)

中心頻率范圍： 10KHz-200KHz,1MHz-200MHz任意設(shè)定

掃描范圍：±1000ppm（默認(rèn)±400ppm）

負(fù)載電容：1-100P任意設(shè)定

串聯(lián)諧振頻率Fs測量范圍：±1000ppm（默認(rèn)±400ppm） 測量精度：±5ppm

串聯(lián)諧振電阻Fr：1MHz-100MHz：1Ω-1000Ω（2±10%*R Ω）

10KHz-200KHz：10K-300K （2±10%*R KΩ）

負(fù)載電容CL測量范圍：1-200PF

時基誤差：±1ppm

負(fù)載諧振頻率FL測量精度：±5ppm+時基誤差+0.5Pf*頻率牽引力Ts

配件：插件式100歐π網(wǎng)絡(luò)測試座（標(biāo)配），貼片式100歐π網(wǎng)絡(luò)測試座（選配），插件式表晶測試座（選配），貼片式表晶測試座（選配），2520/3225/5032/7050貼片晶振適配套件（選配），通信軟件（僅GDS-80P/S）。

審核編輯 黃宇