測試流通的 49S/24M 20pF 20ppm、49S/8M 20pF 20ppm、49S/16M 20pF 20ppm的參數(shù)，各 5件。具體測試數(shù)據(jù)如下：“圖1”。隨機(jī)選擇FCom的相同頻率，相同的標(biāo)稱參數(shù)測試如下圖2所示。

結(jié)果發(fā)現(xiàn)，友商的頻率通常是負(fù)的。雖然友商標(biāo)稱±20ppm的產(chǎn)品精度符合標(biāo)準(zhǔn)，但一般控制在±10ppm以上，有的高達(dá)±18ppm，這對于FCom來說已經(jīng)是不合格產(chǎn)品了。標(biāo)稱±20ppm的FCom產(chǎn)品精度一般控制在±10ppm以內(nèi)。

同時，友商產(chǎn)品的DLD2值過大。DLD2值是測試晶振在運(yùn)行過程中的最大電阻值和最小電阻值之間的差值。具體反應(yīng)是晶振與IC諧振時電阻值的變化，功率在0.01μW到100μW之間。如果晶振的 DLD2值過大，晶振可能會在運(yùn)行過程中停止振蕩。例如，友商的一款產(chǎn)品的DLD2值達(dá)到了5.7歐姆，說明晶振的電阻值不穩(wěn)定，產(chǎn)品的一致性不夠。FCom產(chǎn)品的 DLD2值都在 1歐姆以內(nèi)，比友商的產(chǎn)品更加一致。

此外，友商晶振的FDLD2值過大。FDLD2值反映了晶振與IC諧振時頻率輸出的穩(wěn)定性。參數(shù)值越小越好。該值越小，晶振頻率越穩(wěn)定。FCom晶振的 FDLD2值均設(shè)置在 2ppm以內(nèi)。

DLD2值和FDLD2較大的主要原因如下：

一. 晶片材料問題，如晶片上的亮點雜質(zhì)。

二. 晶振廠在生產(chǎn)過程中對晶片的表面處理并不純凈。

三. 當(dāng)晶振在密封焊接時，內(nèi)部有水分。

比較兩個品牌使用的材料，F(xiàn)Com的 49S晶體振蕩器外殼使用二次氧化光亮外殼，在生產(chǎn)過程中的 49S晶振檢查顯示其外殼采用啞光工藝。從成本角度來看，二次氧化處理的光亮外殼成本略高，但保質(zhì)期更長。特別是晶振在大氣環(huán)境中使用時，晶振的表面可以保持光滑，長時間不氧化，而啞光外殼更容易氧化。

從以上可以看出，F(xiàn)Com的產(chǎn)品在生產(chǎn)過程中使用更純凈的晶片原材料，生產(chǎn)工藝更先進(jìn)，防止晶片在生產(chǎn)過程中受到水分污染。產(chǎn)品的一致性高于其他競爭對手的產(chǎn)品。此外，F(xiàn)Com還考慮了產(chǎn)品的可靠性和耐用性。此外，F(xiàn)Com還考慮了產(chǎn)品的可靠性和耐用性。它在產(chǎn)品外殼上使用更耐用的二次氧化工藝，以加長產(chǎn)品的使用壽命。