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可靠性試驗(yàn)(HALT)及可靠性評(píng)估技術(shù)

jt_rfid5 ? 來(lái)源:半導(dǎo)體封裝工程師之家 ? 2023-11-13 16:32 ? 次閱讀
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什么是可靠性試驗(yàn)?

可靠性試驗(yàn)是指通過(guò)試驗(yàn)測(cè)定和驗(yàn)證產(chǎn)品的可靠性。研究在有限的樣本、時(shí)間和使用費(fèi)用下,找出產(chǎn)品薄弱環(huán)節(jié)。可靠性試驗(yàn)是為了解、評(píng)價(jià)、分析和提高產(chǎn)品的可靠性而進(jìn)行的各種試驗(yàn)的總稱。

大部分人有一個(gè)認(rèn)識(shí):提高產(chǎn)品的可靠性,會(huì)增加成本。

為什么開(kāi)展可靠性試驗(yàn)

1、現(xiàn)階段,我國(guó)裝備與國(guó)際先進(jìn)設(shè)備相比,面臨一個(gè)重要問(wèn)題:長(zhǎng)期質(zhì)量的差距。

2、產(chǎn)品可靠性不足引發(fā)事故,造成生命財(cái)產(chǎn)損失。

3、電力產(chǎn)品的新特點(diǎn),給可靠性提出新的挑戰(zhàn)。

4、“一帶一路” 對(duì)中國(guó)產(chǎn)品走向世界提出了更嚴(yán)酷的可靠性需求。

5、國(guó)家和大客戶對(duì)可靠性的需求和要求不斷增強(qiáng)。

國(guó)家層面:

中國(guó)制造2025明確提出:使重點(diǎn)產(chǎn)品的環(huán)境可靠性,使用壽命達(dá)到國(guó)際同類產(chǎn)品先進(jìn)水平。國(guó)家十三五科技規(guī)劃中,設(shè)立了繼電保護(hù)可靠性技術(shù)和應(yīng)用的研究課題。

大客戶層面:

國(guó)家電網(wǎng):在就地化保護(hù)入網(wǎng)檢測(cè)中,首次引入可靠性試驗(yàn),驗(yàn)證產(chǎn)品可靠性設(shè)計(jì)水平和壽命指標(biāo)。在關(guān)于新型一、二次設(shè)備(例如:電子式互感器)的科研項(xiàng)目中,增加了可靠性驗(yàn)證和壽命評(píng)估等相關(guān)研究課題。

南方電網(wǎng):在自動(dòng)化產(chǎn)品入網(wǎng)檢測(cè)中,要求廠家開(kāi)展和提供關(guān)鍵元器件可靠性試驗(yàn),明確選型原則。在配電自動(dòng)化終端方面深化研究,提出高可靠免維護(hù)的目標(biāo),并引入環(huán)境和可靠性理念和手段進(jìn)行驗(yàn)證。

有哪些可靠性試驗(yàn)方法

可靠性試驗(yàn)分類方法很多,可以從標(biāo)準(zhǔn)角度歸納并分析。

1、定時(shí)截尾試驗(yàn)

定時(shí)截尾試驗(yàn)是指事先規(guī)定一個(gè)試驗(yàn)時(shí)間,當(dāng)試驗(yàn)達(dá)到所規(guī)定的時(shí)間就停止。樣本中出現(xiàn)故障的樣品數(shù)是隨機(jī)的,事先無(wú)法知道。

案例:假設(shè)在一批數(shù)量為N的產(chǎn)品中,任意抽取數(shù)量為n的樣本,規(guī)定試驗(yàn)截止時(shí)間為T0。按上述方法進(jìn)行可靠性試驗(yàn),設(shè)出現(xiàn)故障的序號(hào)為r,記錄第r個(gè)故障發(fā)生的時(shí)刻Tr。如果到規(guī)定的截尾時(shí)刻T0還沒(méi)有出現(xiàn)r個(gè)故障,即Tr≥T0,則判定可靠性試驗(yàn)合格或接受;如果在規(guī)定的試驗(yàn)截止時(shí)間T0以前,已出現(xiàn)r個(gè)故障,即Tr

2、序貫試驗(yàn)

又稱序貫分析,對(duì)現(xiàn)有樣本一個(gè)接著一個(gè)或一對(duì)接著一對(duì)地展開(kāi)試驗(yàn),循序而連貫地進(jìn)行,直至出現(xiàn)規(guī)定的結(jié)果便適可而止結(jié)束試驗(yàn)。

特點(diǎn):這種試驗(yàn)既可避免盲目加大試驗(yàn)樣本數(shù)而造成浪費(fèi),又不致于因試驗(yàn)樣本個(gè)數(shù)太少而得不到結(jié)論-節(jié)約樣本(比一般試驗(yàn)方法節(jié)約樣本30~50%)。常用的序貫試驗(yàn)法有對(duì)分法、0.618法、分?jǐn)?shù)法、拋物線法、爬山法和分批試驗(yàn)法等。

3、可靠性增長(zhǎng)試驗(yàn)

通過(guò)對(duì)產(chǎn)品施加真實(shí)的或模擬的綜合環(huán)境應(yīng)力,暴露產(chǎn)品的潛在缺陷并采取糾正措施,使產(chǎn)品的可靠性達(dá)到預(yù)定要求的一種試驗(yàn),它是一個(gè)有計(jì)劃的試驗(yàn)-分析-改進(jìn)(TAAF)的過(guò)程。

注意:可靠性增長(zhǎng)活動(dòng)不是針對(duì)設(shè)計(jì)低劣的產(chǎn)品的,而是針對(duì)經(jīng)過(guò)認(rèn)真設(shè)計(jì)仍然由于某些技術(shù)原因達(dá)不到要求的產(chǎn)品。

切記:可靠性增長(zhǎng)的核心是消除影響設(shè)計(jì)缺陷。但是,把可靠性水平寄托在增長(zhǎng)活動(dòng)上的態(tài)度是錯(cuò)誤的。

4、加速試驗(yàn)

5、高加速試驗(yàn)(HALT)

高加速壽命試驗(yàn)(簡(jiǎn)稱HALT試驗(yàn))是由美國(guó)軍方所延伸出的設(shè)計(jì)質(zhì)量驗(yàn)證與制造質(zhì)量驗(yàn)證的定性試驗(yàn)方法,利用快速高、低溫變換的震蕩體系來(lái)揭示電子和機(jī)械裝配件設(shè)計(jì)缺陷和不足。

HALT試驗(yàn)箱可提供-100℃~+200℃的溫度區(qū)間,溫變速率可達(dá)到70℃~100℃/min。同時(shí),提供六軸向隨機(jī)振動(dòng)(振動(dòng)強(qiáng)度0~75Grms,頻率范圍1Hz~1MHz。),在低頻范圍內(nèi)傳遞較高的振動(dòng)能量,激發(fā)大型產(chǎn)品潛在的缺陷。

HALT優(yōu)勢(shì)1:快速檢測(cè)缺陷,消除故障機(jī)會(huì)。

HALT優(yōu)勢(shì)2:評(píng)估失效率和MTBF,驗(yàn)證標(biāo)準(zhǔn)。

基本概念

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評(píng)估方法

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評(píng)估案例

1、評(píng)估案例一:ALT評(píng)估(加速系數(shù)已知)

試驗(yàn)需求:產(chǎn)品的貯存和使用時(shí)間不小于20年;產(chǎn)品的年平均失效率為0.2%。

試驗(yàn)方法:利用溫度試驗(yàn)箱為被測(cè)樣品施加恒定溫度應(yīng)力環(huán)境

(1)加速應(yīng)力試驗(yàn)組數(shù)和樣品數(shù):恒定應(yīng)力加速壽命試驗(yàn)的組數(shù)選為1組,20 個(gè)樣品;試驗(yàn)樣品采用同一批次生產(chǎn)的;

(2)應(yīng)力水平:恒定溫度應(yīng)力選為90℃;加速系數(shù)取AF=25=32;

(3)將試品放入指定溫度箱并安裝固定好,上電檢查試品運(yùn)行和各項(xiàng)性能指標(biāo)是否正常,記錄相關(guān)參數(shù)跟檢測(cè)時(shí)間;

(4)試驗(yàn)從常溫開(kāi)始,緩慢增加(避免溫度沖擊)到指定溫度應(yīng)力值(90℃), 保持相應(yīng)恒定溫度應(yīng)力值,誤差不超過(guò)±5K;

(5)定時(shí)檢測(cè)試品運(yùn)行情況和各項(xiàng)性能指標(biāo)是否正常,記錄相關(guān)參數(shù)跟檢測(cè)時(shí)間;

(6)試品出現(xiàn)失效后,記錄相關(guān)參數(shù)跟檢測(cè)時(shí)間,繼續(xù)試驗(yàn),直到失效樣品數(shù)占投入樣品的比例不小于50%,停止試驗(yàn)。

數(shù)據(jù)分析與結(jié)果判定:

(1)統(tǒng)計(jì)累積失效率F(t);

(2)在威布爾概率紙上描點(diǎn)作圖;

(3)利用威布爾概率紙進(jìn)行分析,可以得到:a. 確定產(chǎn)品的失效分布規(guī)律;b. 確定產(chǎn)品的壽命特征值(中位壽命、特征壽命、可靠壽命等)。

2、評(píng)估案例二:ALT評(píng)估(加速系數(shù)未知)

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3、評(píng)估案例三:HALT評(píng)估

美國(guó)OPS AlacarteReliability Consultants的 “HALT-to-AFR計(jì)算器”,對(duì)被試對(duì)象在現(xiàn)場(chǎng)的實(shí)際失效率和MTBF進(jìn)行評(píng)估,方便用戶甄別不同廠家產(chǎn)品的優(yōu)劣屬性和程度,篩選優(yōu)秀供應(yīng)商。

配網(wǎng)傳感器HALT試驗(yàn)

1、測(cè)試背景

近年來(lái),在國(guó)家電網(wǎng)公司的關(guān)心支持和電力行業(yè)智能配電專委會(huì)的密切配合下,配電一二次專項(xiàng)工作組積極開(kāi)展了有關(guān)工作,組織有關(guān)科研單位和生產(chǎn)企業(yè)研制開(kāi)發(fā)了12kV智能配電柱上開(kāi)關(guān),并且在多個(gè)省/市和地區(qū)較大規(guī)模試點(diǎn)應(yīng)用,在支撐精益化線損管理、就地故障處理和專業(yè)化運(yùn)維等方面取得了較為明顯的成效。

2、測(cè)試目的

(1)摸底配電網(wǎng)10kV交流傳感器的可靠性設(shè)計(jì)水平;

(2)分析產(chǎn)品在不同環(huán)境和應(yīng)力條件下的失效規(guī)律、失效模式和失效機(jī)理;

(3)為企業(yè)改進(jìn)和完善產(chǎn)品提供依據(jù),提升產(chǎn)品性能和可靠性。

3、樣品信息

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4、試驗(yàn)方案

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溫度應(yīng)力測(cè)試結(jié)果:

廠家E:低溫操作極限和高溫操作極限均滿足HALT試驗(yàn)的期望值,反映出廠家在設(shè)計(jì)產(chǎn)品時(shí),充分考慮了低溫和高溫適應(yīng)性,預(yù)留的設(shè)計(jì)裕度較大,在快速溫變和低溫環(huán)境下表現(xiàn)出很好的可靠性。

廠家D:在低溫操作極限滿足HALT試驗(yàn)的要求,在快速溫變和低溫環(huán)境下表現(xiàn)出較好的可靠性;高溫操作極限雖符合T/CES 018-2018 的要求,但低于HALT試驗(yàn)的期望值,產(chǎn)品在高溫下的可靠性設(shè)計(jì)裕度有進(jìn)一步提升的空間。

其余廠家:在-40℃和+80℃溫度下失效,反應(yīng)出產(chǎn)品可靠性設(shè)計(jì)裕度不足。

原因可能包括兩個(gè):(1)產(chǎn)品對(duì)低溫和高溫的適應(yīng)性不夠,精度受溫度影響較大;(2)產(chǎn)品對(duì) 60℃以上的溫度變化率適應(yīng)性差,精度受影響大,且產(chǎn)品出現(xiàn)功能紊亂,在溫度穩(wěn)定后無(wú)法恢復(fù)正常。

振動(dòng)實(shí)驗(yàn)結(jié)果:5個(gè)廠家的產(chǎn)品在振動(dòng)步進(jìn)應(yīng)力上均表現(xiàn)良好,操作極限滿足HALT試驗(yàn)的期望值。經(jīng)過(guò)6軸隨機(jī)振動(dòng)環(huán)境的規(guī)定時(shí)間測(cè)試,這些傳感器產(chǎn)品的精度未受到明顯影響。

可能的原因:傳感器本身電子元器件少,內(nèi)部的焊接點(diǎn)也少,且處于固封狀態(tài),所以對(duì)振動(dòng)的適應(yīng)性較強(qiáng)。

結(jié)果分析:

配網(wǎng)傳感器壽命評(píng)估試驗(yàn)

需求:產(chǎn)品的貯存和使用時(shí)間不小于20年;產(chǎn)品的年平均失效率為0.2%。

標(biāo)準(zhǔn)依據(jù):

(1)GB/T 2689.1-1981 恒定應(yīng)力壽命試驗(yàn)和加速壽命試驗(yàn)方法總則;

(2)GB/T 2689.2-1981 壽命試驗(yàn)和加速壽命試驗(yàn)的圖估計(jì)法(用于威布爾分布);

(3)T/ZDG 018-2018 配電網(wǎng)10kV及20kV交流傳感器技術(shù)條件。

數(shù)據(jù)分析與結(jié)果判定:

(1)統(tǒng)計(jì)累積失效率F(t);

(2) 在威布爾概率紙上描點(diǎn)作圖;

(3)利用威布爾概率紙進(jìn)行分析,可以得到:a. 確定產(chǎn)品的失效分布規(guī)律;b. 確定產(chǎn)品的壽命特征值(中位壽命、特征壽命、可靠壽命等)。

試驗(yàn)方法:利用溫度試驗(yàn)箱為被測(cè)樣品施加恒定溫度應(yīng)力環(huán)境

(1)加速應(yīng)力試驗(yàn)組數(shù)和樣品數(shù):恒定應(yīng)力加速壽命試驗(yàn)的組數(shù)選為 1組,20個(gè)樣品;試驗(yàn)樣品采用同一批次生產(chǎn)的;

(2)應(yīng)力水平:恒定溫度應(yīng)力選為90℃;加速系數(shù)取AF=25=32;

(3)將試品放入指定溫度箱并安裝固定好,上電檢查試品運(yùn)行和各項(xiàng)性能指標(biāo)是否正常,記錄相關(guān)參數(shù)跟檢測(cè)時(shí)間;

(4)試驗(yàn)從常溫開(kāi)始,緩慢增加(避免溫度沖擊)到指定溫度應(yīng)力值 (90℃),保持相應(yīng)恒定溫度應(yīng)力值,誤差不超過(guò)±5K;

(5)定時(shí)檢測(cè)試品運(yùn)行情況和各項(xiàng)性能指標(biāo)是否正常,記錄相關(guān)參數(shù) 跟檢測(cè)時(shí)間;

(6)試品出現(xiàn)失效后,記錄相關(guān)參數(shù)跟檢測(cè)時(shí)間,繼續(xù)試驗(yàn),直到失效樣品數(shù)占投入樣品的比例不小于50%,停止試驗(yàn)。

配網(wǎng)傳感器測(cè)試意義:

(1)首次引入HALT試驗(yàn)理念,快速驗(yàn)證10kV配網(wǎng)傳感器的可靠性設(shè)計(jì)水平。

(2)首次借助加速試驗(yàn)理論和壽命評(píng)估模型,驗(yàn)證10kV配網(wǎng)傳感器的壽命指標(biāo)。

(3)為建立配網(wǎng)傳感器可靠性試驗(yàn)、評(píng)估和標(biāo)準(zhǔn)體系積累數(shù)據(jù),篩選優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品及供應(yīng)商。

(4)積極探索,從可靠性領(lǐng)域?yàn)榕渚W(wǎng)一二次融合產(chǎn)品提供經(jīng)驗(yàn)支撐,助推國(guó)家在配網(wǎng)方面的戰(zhàn)略部署。

可靠性試驗(yàn)的驅(qū)動(dòng)力

(1)第一驅(qū)動(dòng)力是企業(yè);

(2)需要用戶的要求和引導(dǎo);

(3)需要行業(yè)的刺激和支撐。

正確認(rèn)識(shí)可靠性試驗(yàn)

(1)與型式試驗(yàn)相區(qū)分;

(2)對(duì)企業(yè)生存競(jìng)爭(zhēng)的意義;

(3)對(duì)行業(yè)進(jìn)步的支撐作用。

構(gòu)建可靠性體系

(1)試驗(yàn)是驗(yàn)證和提高可靠性的重要環(huán)節(jié),但試驗(yàn)不等于可靠性;

(2)可靠性是設(shè)計(jì)和管理出來(lái)的,需要用戶、企業(yè)和檢測(cè)機(jī)構(gòu)共同努力;

(3)可靠性是一個(gè)系統(tǒng)工程,需要從設(shè)計(jì)、研發(fā)、制造、運(yùn)行等各個(gè)角度入手,構(gòu)建可靠性管理體系。

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原文標(biāo)題:【光電集成】可靠性試驗(yàn)(HALT)及可靠性評(píng)估技術(shù)

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    的頭像 發(fā)表于 08-01 22:55 ?1048次閱讀
    <b class='flag-5'>可靠性</b>設(shè)計(jì)的十個(gè)重點(diǎn)

    電子產(chǎn)品環(huán)境可靠性試驗(yàn)介紹

    電子產(chǎn)品環(huán)境可靠性試驗(yàn)是指通過(guò)模擬各種環(huán)境條件(如高低溫、濕度、振動(dòng)、沖擊、鹽霧等),對(duì)電子產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試,以驗(yàn)證其在儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用全過(guò)程中的環(huán)境適應(yīng)能力和使用可靠性。這種試驗(yàn)是產(chǎn)品質(zhì)
    的頭像 發(fā)表于 07-24 15:17 ?1261次閱讀
    電子產(chǎn)品環(huán)境<b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>試驗(yàn)</b>介紹

    元器件可靠性領(lǐng)域中的 FIB 技術(shù)

    元器件可靠性領(lǐng)域中的FIB技術(shù)在當(dāng)今的科技時(shí)代,元器件的可靠性至關(guān)重要。當(dāng)前,國(guó)內(nèi)外元器件級(jí)可靠性質(zhì)量保證技術(shù)涵蓋了眾多方面,包括元器件補(bǔ)充
    的頭像 發(fā)表于 06-30 14:51 ?791次閱讀
    元器件<b class='flag-5'>可靠性</b>領(lǐng)域中的 FIB <b class='flag-5'>技術(shù)</b>

    關(guān)于LED燈具的9種可靠性測(cè)試方案

    LED燈具的可靠性試驗(yàn),與傳統(tǒng)燈具有顯著區(qū)別。作為新一代光源,LED燈具正在逐漸取代傳統(tǒng)節(jié)能燈的市場(chǎng),因此無(wú)法簡(jiǎn)單地沿用傳統(tǒng)燈具的測(cè)試方法。那么,LED燈具需要進(jìn)行哪些可靠性試驗(yàn)呢?標(biāo)
    的頭像 發(fā)表于 06-18 14:48 ?1060次閱讀
    關(guān)于LED燈具的9種<b class='flag-5'>可靠性</b>測(cè)試方案

    半導(dǎo)體測(cè)試可靠性測(cè)試設(shè)備

    在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中,可靠性測(cè)試設(shè)備如同產(chǎn)品質(zhì)量的 “守門員”,通過(guò)模擬各類嚴(yán)苛環(huán)境,對(duì)半導(dǎo)體器件的長(zhǎng)期穩(wěn)定性和可靠性進(jìn)行評(píng)估,確保其在實(shí)際使用中能穩(wěn)定運(yùn)行。以下為你詳細(xì)介紹常見(jiàn)的半導(dǎo)體測(cè)試可靠性
    的頭像 發(fā)表于 05-15 09:43 ?1260次閱讀
    半導(dǎo)體測(cè)試<b class='flag-5'>可靠性</b>測(cè)試設(shè)備

    提供半導(dǎo)體工藝可靠性測(cè)試-WLR晶圓可靠性測(cè)試

    、低成本的可靠性評(píng)估,成為工藝開(kāi)發(fā)的關(guān)鍵工具,本文分述如下: 晶圓級(jí)可靠性(WLR)技術(shù)概述 晶圓級(jí)電遷移評(píng)價(jià)技術(shù) 自加熱恒溫電遷移
    發(fā)表于 05-07 20:34

    電機(jī)微機(jī)控制系統(tǒng)可靠性分析

    針對(duì)性地研究提高電機(jī)微機(jī)控制系統(tǒng)可靠性的途徑及技術(shù)措施:硬件上,方法包括合理選擇篩選元器件、選擇合適的電源、采用保護(hù)電路以及制作可靠的印制電路板等;軟件上,則采用了固化程序和保護(hù) RAM 區(qū)重要數(shù)據(jù)等
    發(fā)表于 04-29 16:14

    IGBT的應(yīng)用可靠性與失效分析

    包括器件固有可靠性和使用可靠性。固有可靠性問(wèn)題包括安全工作區(qū)、閂鎖效應(yīng)、雪崩耐量、短路能力及功耗等,使用可靠性問(wèn)題包括并聯(lián)均流、軟關(guān)斷、電磁干擾及散熱等。
    的頭像 發(fā)表于 04-25 09:38 ?3031次閱讀
    IGBT的應(yīng)用<b class='flag-5'>可靠性</b>與失效分析

    詳解晶圓級(jí)可靠性評(píng)價(jià)技術(shù)

    隨著半導(dǎo)體工藝復(fù)雜度提升,可靠性要求與測(cè)試成本及時(shí)間之間的矛盾日益凸顯。晶圓級(jí)可靠性(Wafer Level Reliability, WLR)技術(shù)通過(guò)直接在未封裝晶圓上施加加速應(yīng)力,實(shí)現(xiàn)快速、低成本的
    的頭像 發(fā)表于 03-26 09:50 ?1851次閱讀
    詳解晶圓級(jí)<b class='flag-5'>可靠性</b>評(píng)價(jià)<b class='flag-5'>技術(shù)</b>

    半導(dǎo)體集成電路的可靠性評(píng)價(jià)

    半導(dǎo)體集成電路的可靠性評(píng)價(jià)是一個(gè)綜合的過(guò)程,涉及多個(gè)關(guān)鍵技術(shù)和層面,本文分述如下:可靠性評(píng)價(jià)技術(shù)概述、
    的頭像 發(fā)表于 03-04 09:17 ?1828次閱讀
    半導(dǎo)體集成電路的<b class='flag-5'>可靠性</b>評(píng)價(jià)