一前言

靜電（static electricity）是在生產(chǎn)、生活中普遍存在的一種自然現(xiàn)象。上個世紀50年代初歐美各國已經(jīng)開始在半導(dǎo)體器件生產(chǎn)中加以防范，我國在60年代末期才開始注意，80年代初真正用在半導(dǎo)體器件生產(chǎn)中。隨著現(xiàn)代電子信息產(chǎn)業(yè)的迅速發(fā)展，使微電子技術(shù)的發(fā)展突飛猛進，大規(guī)模集成電路和超大規(guī)模集成電路被廣泛的應(yīng)用在航天、航空、計算機、程控交換機遙控技術(shù)領(lǐng)域，對防靜電技術(shù)的要求，提出了更高的要求。除了在生產(chǎn)運輸中需要做好靜電防護，在日常使用上也需要注意靜電帶來的危害。

二靜電的產(chǎn)生方式

1.接觸起電，當兩個物體接觸時，就會使其中一個物體失去電子而帶正電，而另外一個物體得到電子而帶負電，若在分離的過程中電荷難以中和，電荷就會積累使物體帶上靜電；

2.感應(yīng)帶電：當帶電的物體接近不帶電物體時會在不帶電的物體兩端分別感應(yīng)出正電荷和負電荷；

3.熱電和壓電起電噴射起電等。

三案例分享

下圖是客戶的一款產(chǎn)品，需要過接觸±6K。

1.摸底測試:

首先選取放電位置：USB端口、網(wǎng)口、HDMI端口、音頻端口。

測試現(xiàn)象：±6KV死機。

分析原因：斷電恢復(fù)，復(fù)位沒有反應(yīng)，可能影響到主控模塊，干擾路徑未知。

2.排查測試:

（1）減小測試電壓，1KV逐級遞減直至出現(xiàn)機器可自行恢復(fù)。

（2）調(diào)整測試點位，從端口改為靠近（或遠離）主控部分的地，同時注意泄放路徑。

（3）考慮散熱金屬的影響，去掉散熱金屬和帶散熱金屬的測試對比。

3.測試結(jié)果：

（1）測試電壓減小至4KV機器可以自動恢復(fù)，現(xiàn)象等級為B級。

（2）遠離主控點測試現(xiàn)象正常，靠近主控現(xiàn)象更加嚴重，確定是主控受到干擾。

（3）拆除散熱金屬4KV無異常，6KV可自動恢復(fù)，判斷金屬散熱片影響較大。

基于上述測試結(jié)果，判斷金屬散熱片耦合到靜電產(chǎn)生較強的電磁場，導(dǎo)致芯片受到影響，產(chǎn)生死機現(xiàn)象。

4.整改措施：

如圖所示，最終的整改措施加屏蔽。把散熱金屬下方的都用銅箔屏蔽，且銅箔與芯片之間保持一定的高度（如導(dǎo)熱硅膠）。

四總結(jié)

靜電是電子產(chǎn)品的隱形殺手，它的隨機性、隱蔽性和復(fù)雜性都會加劇它整改難度，怎么排除干擾相在這個時候就顯得尤為重要。

1.根據(jù)現(xiàn)象，判斷受干擾的模塊；

2.適當減弱測試電壓，調(diào)整測試點位來鎖定問題點；

3.適當排除受干擾模塊周邊設(shè)備；

總之，對整改靜電可以大膽假設(shè)，小心求證，保證設(shè)備的完整性測試，避免打壞設(shè)備，畢竟靜電測試屬于破壞性測試。

審核編輯：劉清