在EMI認(rèn)證測(cè)試中，EMI接收機(jī)是最重要的測(cè)試測(cè)量設(shè)備，在CISPR 16-1-1（對(duì)應(yīng)國(guó)標(biāo)GB6113.101）標(biāo)準(zhǔn)中，對(duì)認(rèn)證級(jí)接收機(jī)的性能進(jìn)行了要求。

早期的接收機(jī)，受到技術(shù)條件的限制，一般采用步進(jìn)掃描的方式。隨著技術(shù)的發(fā)展，基于FFT的時(shí)域掃描模式因?yàn)槟軌蛱峁└斓臏y(cè)量速度，在大部分國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)（包括民標(biāo)和軍標(biāo)）中得到了廣泛的推廣和應(yīng)用。

羅德與施瓦茨公司的認(rèn)證級(jí)接收機(jī)全系列支持FFT模式，始終引領(lǐng)標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)展，走在技術(shù)的前沿。

從下圖的FFT時(shí)域掃描原理示意中可以看出，F(xiàn)FT模式將被測(cè)物（DUT）的測(cè)試頻率范圍劃分為若干子段，通過(guò)掃描每個(gè)子段從而得到最終的測(cè)量結(jié)果。因此，F(xiàn)FT測(cè)量帶寬的大小成為了測(cè)量的關(guān)鍵因素之一。

今天，隨著EMC測(cè)試技術(shù)的不斷發(fā)展，多樣化的DUT對(duì)于EMI測(cè)試提出了各種各樣的挑戰(zhàn)。為了應(yīng)對(duì)這些挑戰(zhàn)，羅德與施瓦茨推出了新的大帶寬測(cè)量選件R&SESW-B1000和 R&SESW-B350，該選件將 R&SESW認(rèn)證接收機(jī)的 FFT 帶寬擴(kuò)展至 970 MHz或350MHz。

以ESW-B1000選件為例，970MHz的FFT測(cè)量帶寬，一次測(cè)量即可覆蓋整個(gè)CISPR頻段C和D（30MHz – 1GHz），即使啟用CISPR檢波器也能提高測(cè)量速度。1GHz 以上頻率范圍，該選件也可執(zhí)行最高 450 MHz 的大帶寬測(cè)量。此外，還可以進(jìn)行不間斷的實(shí)時(shí)測(cè)量，這有助于在瀑布圖中分析間歇性的干擾。此功能對(duì)于短時(shí)工作狀態(tài)的測(cè)試尤為重要，例如，民用類(lèi)快速移動(dòng)產(chǎn)品（機(jī)車(chē)等）的EMI發(fā)射，軍用類(lèi)短時(shí)電子對(duì)抗?fàn)顟B(tài)下的EMI發(fā)射等。

ESW-B1000和ESW-B350選件具有以下特性和優(yōu)點(diǎn)，能夠有效的解決EMI測(cè)試中遇到的各種挑戰(zhàn)：

1.降低時(shí)間成本

在認(rèn)證測(cè)試或調(diào)試的成本和時(shí)間密切相關(guān)。該選件可以有效節(jié)省測(cè)量時(shí)間，降低測(cè)試成本。

2.捕獲偶發(fā)性和間歇性干擾信號(hào)，獲得更可靠的偶發(fā)性干擾結(jié)果。

在EMC分析和整改中，偶發(fā)性干擾信號(hào)的捕獲和分析一直是一個(gè)難題。而應(yīng)用該選件的情況下，接收機(jī)掃描次數(shù)減少，便于用戶節(jié)省時(shí)間觀察結(jié)果，同時(shí)快速進(jìn)行測(cè)試。這可以有效提高偶發(fā)性干擾的截獲概率，在民品、汽車(chē)和軍品測(cè)試中具有出色的可靠性和可重復(fù)性。

3.實(shí)時(shí)分析能力

寬帶選件可以連續(xù)不間斷的進(jìn)行實(shí)時(shí)測(cè)量。它可以檢測(cè)偶發(fā)性或快速變化的干擾以做詳盡分析。接收機(jī)在設(shè)定的頻率段上不間斷的采集信號(hào)，測(cè)量時(shí)間幾乎不受限制。

4.高動(dòng)態(tài)范圍寬帶測(cè)試

寬帶擴(kuò)展為輸入級(jí)增加了八個(gè)并行通路，每個(gè)通路覆蓋一個(gè)頻率段并配備預(yù)選濾波器，以保證頻率選擇性和出色的動(dòng)態(tài)范圍。具有高計(jì)算能力的FPGA結(jié)合八個(gè)A/D轉(zhuǎn)換器的數(shù)據(jù)流來(lái)計(jì)算頻率分量并輸出結(jié)果。

5.滿足DUT特殊要求的EMI測(cè)量

在一些特定的工業(yè)領(lǐng)域和產(chǎn)品中，EMI測(cè)試會(huì)有額外的限制。例如在進(jìn)行小衛(wèi)星測(cè)試時(shí)，某些部件不能夠長(zhǎng)時(shí)間工作，但接收機(jī)掃描整個(gè)測(cè)試頻率范圍所需時(shí)間又比較長(zhǎng)，因此使傳統(tǒng)的測(cè)試手段變得困難重重。該選件可以在很短的時(shí)間內(nèi)對(duì)該類(lèi)型DUT進(jìn)行有效測(cè)試。

審核編輯：劉清