MCU，助力物聯(lián)網(wǎng)智能化

MCU芯片是一種集成了中央處理器（CPU）、存儲(chǔ)器、輸入輸出接口和時(shí)鐘等關(guān)鍵組件的單片集成電路。它在各種嵌入式系統(tǒng)中得到廣泛應(yīng)用，按位數(shù)可分為 4/8/16/32/64 位。其中32 位應(yīng)用場(chǎng)景比較高端，主要用于智能家居、物聯(lián)網(wǎng)、電機(jī)及變頻控制、安防監(jiān)控、指紋識(shí)別等重要領(lǐng)域。

近日，廣立微（Semitronix）與中國(guó)本土領(lǐng)先的通用 32 位 MCU 產(chǎn)品及解決方案供應(yīng)商靈動(dòng)微電子 (MindMotion)在良率數(shù)據(jù)管理分析業(yè)務(wù)領(lǐng)域達(dá)成合作：廣立微DATAEXP系列產(chǎn)品作為靈動(dòng)微電子的良率數(shù)據(jù)分析管理工具，廣立微DE-YMS內(nèi)置AEC-Q100車規(guī)芯片質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)，為靈動(dòng)微MCU芯片產(chǎn)品車規(guī)級(jí)認(rèn)證分析提供助力。

01 DE-YMS為客戶業(yè)務(wù)報(bào)表搭建賦能

靈動(dòng)微電子的工程師團(tuán)隊(duì)利用廣立微DE-YMS自主搭建了WAT/CP/FT穩(wěn)定性監(jiān)測(cè)模版（良率趨勢(shì)圖、失效Bin趨勢(shì)圖、參數(shù)趨勢(shì)圖、參數(shù)CPK周期性報(bào)告OOS Summary），節(jié)約了數(shù)據(jù)清理和報(bào)告整理的時(shí)間，并可以根據(jù)自己設(shè)定的偵測(cè)規(guī)則快速定位是否有異常發(fā)生。

02 芯片全生命周期的數(shù)據(jù)管理、分析和追溯

靈動(dòng)微電子的工程師團(tuán)隊(duì)表示可利用YMS Dashboard的數(shù)據(jù)展示及分析模塊，高效地實(shí)現(xiàn)了多層面的異常分析。

例如，客訴發(fā)生時(shí)，YMS可以協(xié)助迅速找到失效樣品的所有數(shù)據(jù)信息，如批次、WAT、CP、FT等等是否有異常，實(shí)現(xiàn)全制程數(shù)據(jù)追蹤；DE-YMS可實(shí)現(xiàn)跨站關(guān)聯(lián)性分析，WAT參數(shù)與CP/FT各站點(diǎn)良率、失效Bin、參數(shù)相關(guān)性分析將幫助失效項(xiàng)原因追溯，不再是只見樹木不見森林，借助數(shù)據(jù)間的關(guān)系來對(duì)異常進(jìn)行立體化診斷；同時(shí)DE-YMS良好的交互方式使得多維度探索變得便利，可以很輕松的進(jìn)行測(cè)試廠之間，測(cè)試機(jī)之間，S2S之間的良率差異，參數(shù)差異，Bin分布差異，Map差異等比較分析。

03

用戶反饋

提升整體效益

模版定制使我們更多專注在數(shù)據(jù)分析上，省去了數(shù)據(jù)和報(bào)告整理的時(shí)間；良好的交互性使得探索更為便利，符合我們的工作習(xí)慣。

全面的數(shù)據(jù)分析

在功能方面，對(duì)參數(shù)的Sensitivity分析，非常便利地評(píng)估了參數(shù)在卡緊規(guī)格線后的良率損失。

另外，重測(cè)分析也有利評(píng)估測(cè)試效率，可以對(duì)測(cè)試質(zhì)量進(jìn)行很好的評(píng)估。

審核編輯：劉清