電源管理芯片是電子設(shè)備中非常重要的組成部分，因此對(duì)電源芯片的要求也越來(lái)越嚴(yán)格，電源管理芯片測(cè)試成為非常重要的環(huán)節(jié)。

在納米軟件與江蘇某科技公司合作的電源管理芯片產(chǎn)線測(cè)試項(xiàng)目中，需要完成單入單出、單入雙出、單入三出、單入四出系列微模塊的14個(gè)項(xiàng)目的自動(dòng)化測(cè)試。該公司之前是手動(dòng)測(cè)試，沒(méi)有自動(dòng)化測(cè)試基礎(chǔ)?？渴謩?dòng)完成電源芯片產(chǎn)線批量測(cè)試，不僅耗時(shí)長(zhǎng)、無(wú)法規(guī)范測(cè)試流程、保證測(cè)試可靠性，而且無(wú)法進(jìn)行數(shù)據(jù)統(tǒng)一管理、滿足產(chǎn)線測(cè)試對(duì)報(bào)告的需求。因此，自動(dòng)化測(cè)試是必選的測(cè)試方式。

測(cè)試項(xiàng)目：

輸入/出電壓范圍、輸出紋波、電壓調(diào)整率、負(fù)載調(diào)整率、反饋端電壓；

欠壓關(guān)斷及欠壓恢復(fù)滯后、輸入偏置電流、輸出電流、輸出電流限制；

啟動(dòng)過(guò)沖及啟動(dòng)延時(shí)、負(fù)載躍變電壓、負(fù)載躍變恢復(fù)、效率(每路)；

效率曲線、工作開(kāi)關(guān)頻率測(cè)試、SW占空比測(cè)試、輸入輸出信號(hào)相位差測(cè)試。

那么，為什么會(huì)選擇納米軟件的電源管理芯片自動(dòng)化測(cè)試解決方案呢？

1. 測(cè)試系統(tǒng)兼容標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試儀器，對(duì)接非標(biāo)設(shè)備

由于需要測(cè)量電源管理芯片的多路電壓和電流，納米軟件提出萬(wàn)用表切換箱的解決方案，不僅解決一臺(tái)萬(wàn)用表無(wú)法滿足多點(diǎn)位自動(dòng)測(cè)試難題，而且還節(jié)省了用多臺(tái)萬(wàn)用表測(cè)的儀器成本。系統(tǒng)除了與該非標(biāo)設(shè)備快速對(duì)接外，還可實(shí)現(xiàn)與直流電源、電子負(fù)載、示波器、萬(wàn)用表、測(cè)試工裝等設(shè)備通訊。

2. 滿足客戶多個(gè)產(chǎn)品數(shù)據(jù)導(dǎo)出在同一個(gè)報(bào)告的需求

由于電源管理芯片包含單入單出、單入雙出、單入三出、單入四出，為了對(duì)比、分析測(cè)試數(shù)據(jù)，需要將不同產(chǎn)品的數(shù)據(jù)導(dǎo)出在同一個(gè)報(bào)告中。

3. 滿足效率曲線分析的需求

該公司重點(diǎn)關(guān)注效率項(xiàng)目，需要分析不同條件下電源芯片的效率。ATECLOUD測(cè)試系統(tǒng)內(nèi)含數(shù)據(jù)洞察功能，支持多圖表類型、多方位分析數(shù)據(jù)，該功能可以展示電源管理芯片不同條件下的效率曲線。

ATECLOUD測(cè)試系統(tǒng)效率曲線圖

ATECLOUD以用戶需求為導(dǎo)向，突破傳統(tǒng)測(cè)試限制，功能強(qiáng)大，滿足多樣化的測(cè)試需求，助力更多用戶實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)試。

審核編輯 黃宇