隨著國(guó)產(chǎn)化電源管理芯片的普及和應(yīng)用，電源芯片測(cè)試備受關(guān)注，對(duì)其測(cè)試要求也越來(lái)越嚴(yán)格。那么，安全自主可控的國(guó)產(chǎn)化測(cè)試軟件ATECLOUD是如何測(cè)試4644芯片及其它電源管理芯片呢？

在納米軟件與某科技公司合作時(shí)，需要測(cè)試4644電源芯片和其它型號(hào)的電源管理芯片。該公司電源芯片有單入單出、單入雙出、單入三出、單入四出四種，由于需要測(cè)量多路電壓和電流，一臺(tái)萬(wàn)用表無(wú)法實(shí)現(xiàn)多點(diǎn)位自動(dòng)測(cè)試，而使用多臺(tái)萬(wàn)用表會(huì)大大增加測(cè)試成本，因此納米軟件選擇繼電器切換的方式，通過(guò)切換箱來(lái)實(shí)現(xiàn)多點(diǎn)位自動(dòng)化測(cè)試，既降低了總體成本，又提高了測(cè)試效率。

用ATECLOUD測(cè)試軟件實(shí)現(xiàn)電源管理芯片的自動(dòng)化測(cè)試，需要用到以下測(cè)試設(shè)備：

直流電源

電子負(fù)載

數(shù)字萬(wàn)用表

示波器

萬(wàn)用表自動(dòng)切換箱

ATE-AIO（測(cè)試服務(wù)一體機(jī)，用于儀器調(diào)動(dòng)及數(shù)據(jù)傳輸）

產(chǎn)品測(cè)試子板

產(chǎn)品測(cè)試公板

測(cè)試線纜

測(cè)試機(jī)柜

電源芯片測(cè)試系統(tǒng)硬件拓?fù)鋱D

ATECLOUD測(cè)試電源管理芯片的步驟

1. 登錄測(cè)試系統(tǒng)

訪問(wèn)ATECLOUD測(cè)試系統(tǒng)并登錄

2. 選擇測(cè)試方案，開(kāi)始測(cè)試

系統(tǒng)中已經(jīng)搭建好單入單出、單入雙出、單入三處、單入四出這四種電源管理芯片測(cè)試方案，用戶(hù)測(cè)試時(shí)只需在方案運(yùn)行界面選擇對(duì)應(yīng)的方案，點(diǎn)擊“運(yùn)行”開(kāi)始測(cè)試。

3. 測(cè)試結(jié)果反饋

測(cè)試結(jié)束后，面板會(huì)以Pass、Fail反饋電源管理芯片測(cè)試結(jié)果，并展示測(cè)試數(shù)據(jù)和抓取的截圖。

4. 數(shù)據(jù)報(bào)告導(dǎo)出

在記錄報(bào)告界面可以查看剛測(cè)試到的記錄報(bào)告和詳細(xì)參數(shù)，也可選擇已經(jīng)創(chuàng)建好的報(bào)告模板，導(dǎo)出數(shù)據(jù)報(bào)告。報(bào)告模板會(huì)根據(jù)用戶(hù)需求提前創(chuàng)建好，只需選擇數(shù)據(jù)一鍵導(dǎo)出。

5. 數(shù)據(jù)洞察分析

數(shù)據(jù)洞察功能支持多類(lèi)型圖表展示數(shù)據(jù)，如折線圖、柱狀圖等，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行全方位分析，幫助快速查找產(chǎn)品問(wèn)題，評(píng)估電源芯片的性能。

ATECLOUD是以用戶(hù)需求為導(dǎo)向的自動(dòng)化測(cè)試軟件，根據(jù)客戶(hù)需求不斷迭代升級(jí)，擴(kuò)展功能，為用戶(hù)帶來(lái)更好的自動(dòng)化測(cè)試服務(wù)。

審核編輯 黃宇