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我們一起揭秘ADC、相控陣天線、復(fù)雜電磁環(huán)境、高速信號完整性等測試方案

中星聯(lián)華科技(北京)有限公司 ? 2024-05-13 17:37 ? 次閱讀
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2024年中國微波2024年5月16日至5月19日(16日報(bào)到,17-18日展覽)在北京國際會議中心(北京市朝陽區(qū)北辰東路8號)舉行!

中星聯(lián)華科技(北京)有限公司作為本次大會的重要支持單位,將為大家分享多通道ADC測試、高速ADC進(jìn)階測試、相控陣天線測試、復(fù)雜電磁環(huán)境模擬系統(tǒng)等多個(gè)測試測量方案,同期將展出超低相噪微波信號源、多通道相參信號源、矢量信號源、捷變頻信號源、高速誤碼儀、射頻信號采集記錄回放系統(tǒng)、信道模擬器等產(chǎn)品。我們在309號展位期待與業(yè)內(nèi)精英企業(yè)、專家、學(xué)者共同探討微波毫米波的新發(fā)展,促進(jìn)我國微波毫米波技術(shù)與產(chǎn)業(yè)的相互交流和健康發(fā)展。

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309號展位歡迎您的蒞臨

展示方案

多通道ADC測試系統(tǒng)

多通道微波信號源,簡化多通道ADC測試

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系統(tǒng)特點(diǎn)

臺式/插卡式可擴(kuò)展的多路相參信號源

通道間嚴(yán)格相參

信號間的幅度、相位、脈沖時(shí)間精確可調(diào)可控

支持模擬/矢量/任意波信號

24小時(shí)通道間頻率漂移度≤±1°

高速ADC進(jìn)階測試系統(tǒng)

超低的相位噪聲、出色的輸出功率

輕松測量SINAD、SNR、ENOB、SFDR、IMD等

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ADC測試

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DAC測試

系統(tǒng)特點(diǎn)

單臺支持多通道輸出,集成度高

全球頂尖的超低相噪指標(biāo):<-152dBc/Hz(@100MHz,10kHz偏移,典型值),精確測量SINAD/SNR/ENOB/SFDR等參數(shù)

>70 dB的超高諧波抑制度,保證ADC真實(shí)的THD性能。

提供雙音選件,支持IM3(互調(diào)失真)測試

優(yōu)秀的信號相參性能,支持1.6GHz高頻參考

相控陣天線有源S參數(shù)測試系統(tǒng)

完全模擬相控陣天線實(shí)際掃描狀態(tài)

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系統(tǒng)特點(diǎn)

快速產(chǎn)生多通道激勵信號,精準(zhǔn)控制每一路激勵信號的幅度、相位,完全模擬相控陣天線實(shí)際掃描狀態(tài)

測試相控陣有源端口參數(shù)、靜態(tài)端口參數(shù)、各單元駐波參數(shù)

相控陣天線端口駐波調(diào)試功能

調(diào)試優(yōu)化天線陣中的互耦特性

幅度和相位自動校準(zhǔn)功能

其他應(yīng)用

復(fù)雜電磁環(huán)境產(chǎn)生

多通道接收機(jī)標(biāo)校

DBF算法測試、驗(yàn)證

Massive MlMO

復(fù)雜電磁環(huán)境模擬系統(tǒng)

基于真實(shí)環(huán)境的復(fù)雜電磁環(huán)境構(gòu)建

采集、記錄外場復(fù)雜電磁環(huán)境

真實(shí)再現(xiàn),無限回放!

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基于真實(shí)環(huán)境的復(fù)雜電磁環(huán)境模擬系統(tǒng)是利用射頻信號采集記錄回放系統(tǒng),對復(fù)雜多變的電磁環(huán)境進(jìn)行無縫采集、存儲,并在仿真實(shí)驗(yàn)實(shí)時(shí)回放出來。其構(gòu)建思路是:基于信號采集設(shè)備完成真實(shí)電磁環(huán)境中信號的采集記錄和數(shù)據(jù)的本地海量存儲,采集過程中信號分析模塊可對信號進(jìn)行實(shí)時(shí)分析與監(jiān)測。

按照復(fù)雜電磁環(huán)境生成的要求,通過信號分析軟件完成對采集信號的分類、離線分析、編輯、提取和重構(gòu),使用信號生成模擬設(shè)備完成信號的回放與模擬。

系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)從電磁環(huán)境采集到信號監(jiān)測分析、存儲、提取與重構(gòu)再到電磁信號生成的全方位功能,讓您輕松再現(xiàn)、無限回放復(fù)雜外場電磁環(huán)境。

基于半實(shí)物仿真的復(fù)雜電磁環(huán)境構(gòu)建

實(shí)驗(yàn)室構(gòu)建復(fù)雜電磁環(huán)境

自由配置,精準(zhǔn)測量!

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系統(tǒng)特點(diǎn)

可仿真實(shí)際信號、干擾信號、背景信號

可配置信號類型、頻率、功率、調(diào)制方式

采用射頻注入或者輻射方式對被測電子系統(tǒng)進(jìn)行測試

可以對模擬的復(fù)雜電磁環(huán)境的頻率、功率、相位等進(jìn)行校準(zhǔn)

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