對(duì)于SD NAND來(lái)說(shuō)，一般可以從以下幾個(gè)方面來(lái)考量：

兼容性，

功能性，

性能，

穩(wěn)定性，

對(duì)于這四個(gè)方面，我們分別展開來(lái)說(shuō)：

1.兼容性，對(duì)于SD NAND來(lái)說(shuō)，雖然協(xié)議是標(biāo)準(zhǔn)的，但是不同的主控芯片，對(duì)于協(xié)議的時(shí)序理解也會(huì)有不一樣，所以HOST端的發(fā)送信號(hào)的判定點(diǎn) 或者 發(fā)送信號(hào)的判定點(diǎn)也會(huì)有不一樣，對(duì)于這樣的情況，可以用多塊板子來(lái)跑讀寫測(cè)試，看看是否會(huì)出現(xiàn)，有的能正常識(shí)別，讀寫，有的不行的情況，或者同一個(gè)板子，有時(shí)候能正常讀寫，有時(shí)候無(wú)法正常讀寫的情況。

如果碰到這樣的情況，也可以把板子和存儲(chǔ)芯片一起寄給雷龍公司，進(jìn)行邏輯的抓取，判斷問(wèn)題發(fā)生的原因。

2.功能性，對(duì)于SD NAND來(lái)說(shuō)，就是讀和寫。存儲(chǔ)產(chǎn)品的功能就是保存數(shù)據(jù)和讀取數(shù)據(jù)。如果是raw NAND或者SPI NAND還是涉及擦除，但是SD NAND不需要擦除，如果要修改原來(lái)的數(shù)據(jù)，直接覆蓋寫就可以。

對(duì)于讀取驗(yàn)證，可以先寫滿存儲(chǔ)單元，再對(duì)于將寫入的數(shù)據(jù)，按照一定的方式讀取出來(lái)，并且跟原來(lái)寫入的數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比測(cè)試。讀取的方式可以根據(jù)客戶的具體產(chǎn)品，存儲(chǔ)的具體內(nèi)容來(lái)，類似圖片或者音頻文件，都是大段大段的數(shù)據(jù)，可以采用連續(xù)讀取的方式，如果是小文件數(shù)據(jù)，或者參數(shù)模型匹配數(shù)據(jù)等，可以采用單塊讀取的方式來(lái)測(cè)試驗(yàn)證。主要目的是驗(yàn)證，讀取的數(shù)據(jù)是否準(zhǔn)確，在傳輸過(guò)程中是否有發(fā)生變化或者翻轉(zhuǎn)。

對(duì)于寫入驗(yàn)證，可以按照時(shí)間產(chǎn)品的情況，是需要寫入大數(shù)據(jù)或者小文件數(shù)據(jù)，按照多塊寫入的方式或者單塊寫入的方式來(lái)寫入數(shù)據(jù)，并且還需要讀取數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比。來(lái)驗(yàn)證寫入的數(shù)據(jù)是正確，傳輸過(guò)程中是否出現(xiàn)了丟失數(shù)據(jù)或者翻轉(zhuǎn)的情況。

在整個(gè)測(cè)試和驗(yàn)證的過(guò)程中，如果出現(xiàn)了問(wèn)題，可以隨時(shí)聯(lián)系雷龍公司進(jìn)行溝通，或者找雷龍公司獲取SD協(xié)議，自己對(duì)照協(xié)議來(lái)進(jìn)一步分析和解決。

3.性能方面，對(duì)于SD NAND來(lái)說(shuō)，就是讀寫速度，對(duì)于讀寫速度的測(cè)試，我們可以依靠一些PC上的軟件，例如H2test ，HD tune，ATTO等，進(jìn)行SD NAND本身素質(zhì)的測(cè)試，這些測(cè)試可以評(píng)估存儲(chǔ)在連續(xù)讀寫，隨機(jī)讀寫時(shí)候的性能。這些測(cè)試的數(shù)據(jù)，可以找雷龍公司獲取。但是當(dāng)SD NAND嵌入到客戶的產(chǎn)品中時(shí)，性能的測(cè)試就是需要再客戶的板子上來(lái)進(jìn)行，根據(jù)客戶的CLK的設(shè)定頻率（最高支持50Mhz），以及寫入數(shù)據(jù)的大小來(lái)測(cè)試?？梢允褂脝螇K寫入，或者連續(xù)寫入的方式來(lái)測(cè)試。如果客戶對(duì)于寫入速度有較高要求，可以先緩存一些數(shù)據(jù)到RAM中，再按照4K大小進(jìn)行寫入。如果客戶對(duì)于讀取速度有穩(wěn)定的要求，在測(cè)試驅(qū)動(dòng)軟件層面也可以進(jìn)行一些調(diào)整，達(dá)到優(yōu)化的效果。

4.穩(wěn)定性方面，對(duì)于SD NAND來(lái)說(shuō)，就是持續(xù)穩(wěn)定工作，也就是在異常情況下也能正常工作或者恢復(fù)，這個(gè)時(shí)候可以針對(duì)產(chǎn)品的特點(diǎn)，看看可能出現(xiàn)的異常情況大概是什么樣的，進(jìn)行針對(duì)性的模擬，一般來(lái)說(shuō)可能涉及到電壓的劇烈抖動(dòng)，負(fù)載突然增大等情況，或者持續(xù)的高溫運(yùn)行等場(chǎng)景，加速老化。芯片行業(yè)有一個(gè)浴盆理論，初期的時(shí)候比較容易出問(wèn)題，中間階段會(huì)穩(wěn)定運(yùn)行，到芯片的生命末期也容易出現(xiàn)問(wèn)題。如果使測(cè)試階段有任何問(wèn)題，也歡迎客戶發(fā)給雷龍公司，希望讓客戶順利批量的使用起來(lái)。

深圳市雷龍發(fā)展專注存儲(chǔ)行業(yè)13年，專業(yè)提供小容量存儲(chǔ)解決方案。

審核編輯 黃宇