蔡司代理三本精密儀器獲悉。蔡司推出全新雙束電鏡 Crossbeam 550 Samplefab作為一款專為半導體行業(yè) TEM 樣品制備開發(fā)的高端聚焦離子束掃描電子顯微鏡(FIB-SEM)Crossbeam 550 Samplefab 提供優(yōu)異的靈活性自動化功能和用戶友好設計幫助半導體行業(yè)的樣品制備更加簡便高效

全新界面用戶友好的軟件操作體驗
配備直觀的行業(yè)標準圖形用戶界面軟件功能模塊高度整合，輕松上手無論是專家還是新手，都能擁有友好的操作體驗

配置優(yōu)化提升設備和軟件的穩(wěn)定性
專門為半導體行業(yè) TEM 樣品制備而優(yōu)化的配置方案提高了設備和軟件的穩(wěn)定性
確保樣品制備的持續(xù)穩(wěn)定工作，提高實驗室產(chǎn)出

全新體驗
全自動TEM樣品制備流程
蔡司雙束電鏡 Crossbeam 550 Samplefab
提供了全自動解決方案
實現(xiàn)無人值守的多點位TEM薄片制備
旨在優(yōu)化工作流程，一位操作員即可控制多臺設備
最大化生產(chǎn)力并確保樣品質(zhì)量

多樣制備
滿足原位/非原位樣品需求
具備強大的原位(in-situ,lift-out)與
非原位(ex-situ，pick-up)樣品全自動制備能力適應各種制樣方法的多樣需求

靈活操作
自由選擇手動/自動制樣
既支持手動操作也支持自動操作，適應用戶偏好
在手動或自動工作流程中均能提供高質(zhì)量結(jié)果

憑借其優(yōu)異的靈活性、自動化制樣功能以及用戶友好設計和穩(wěn)定性,蔡司 Crossbeam 550 Samplefab 將顯著提高半導體樣品制備的效率與精度,幫助工程師完成日常的高產(chǎn)量 TEM 薄片樣品制備。

蔡司致力于通過創(chuàng)新的技術(shù)解決方案,不斷推動半導體行業(yè)邁向更高效、更精確的樣品制備新時代。