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電子封裝微晶玻璃基板-AM

深圳市賽姆烯金科技有限公司 ? 來源:深圳市賽姆烯金科技有限 ? 2025-01-03 09:51 ? 次閱讀
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研究背景

隨著5G和6G無線通信技術(shù)的快速發(fā)展,對電子封裝基板材料的性能要求不斷提高。低溫共燒陶瓷(LTCC)因其低介電常數(shù)(K< 5)和高抗彎強度(>230 MPa)成為研究的重點。然而,實現(xiàn)低介電常數(shù)與高機械強度的協(xié)調(diào)優(yōu)化仍是一大挑戰(zhàn)。傳統(tǒng)多晶基板在這些方面的性能有限,而單晶材料憑借其優(yōu)越的結(jié)構(gòu)性能,展現(xiàn)出巨大的發(fā)展?jié)摿Α?/p>

核心創(chuàng)新成果

華東理工大學(xué)曾惠丹教授團隊聯(lián)合上海澤豐半導(dǎo)體有限公司、丹麥奧爾堡大學(xué)和武漢理工大學(xué)突破傳統(tǒng)技術(shù)瓶頸,將Al3+摻雜到鈣硼硅酸鹽(CBS)玻璃體系中來調(diào)節(jié)玻璃的短程有序(SRO)和中程有序(MRO)結(jié)構(gòu),促進了非均質(zhì)網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)的形成,使得在能量上有利于納米級β-CaSiO3和亞納米級α-CaSiO3多晶顆粒的析出。隨著燒結(jié)溫度的升高,α-CaSiO3中的[Si3O9]-環(huán)被逐漸打開,轉(zhuǎn)變?yōu)橐訹SiO3]∞鏈為特征結(jié)構(gòu)的β-CaSiO3晶體,相應(yīng)的Si-O-Si鍵角從134.76°轉(zhuǎn)變?yōu)?43.31°,加快了納米級α-CaSiO3(2-10 nm)被β-CaSiO3吸收的過程。最終,轉(zhuǎn)變?yōu)橛行驅(qū)訝罱Y(jié)構(gòu)的單晶體β-CaSiO3(1-2 μm),并且其在整個微晶玻璃中的占比可高達85%。該高單晶含量的微晶玻璃兼具低介電常數(shù)(4.04@15 GHz)和高抗彎強度(256MPa),并首次將單晶結(jié)構(gòu)應(yīng)用于封裝基板,并與銀漿共燒匹配良好。這種新型基板的性能不僅達到國際先進水平,甚至在某些關(guān)鍵指標(biāo)上表現(xiàn)更為出色。

研究團隊提出將化學(xué)摻雜、CaSiO3相變、二次再結(jié)晶結(jié)合,建立了一種設(shè)計和合成先進功能微晶玻璃的新策略。通過Al3+摻雜手段精確調(diào)控CBS玻璃網(wǎng)絡(luò)的非均質(zhì)結(jié)構(gòu),在優(yōu)化燒結(jié)條件的基礎(chǔ)上,進一步控制β-CaSiO3和α-CaSiO3的結(jié)晶動力學(xué),將多晶α-CaSiO3完全轉(zhuǎn)變?yōu)閱尉Е?CaSiO3。本團隊設(shè)計出一條獨特的制備路徑,將單晶生長與LTCC的兼容性結(jié)合。研究揭示了化學(xué)摻雜和燒結(jié)條件優(yōu)化在實現(xiàn)高性能單晶結(jié)構(gòu)中的關(guān)鍵作用,并通過前沿表征技術(shù)系統(tǒng)解析了其生長機制。這一突破性成果成功解決了微晶玻璃中多晶體到單晶體轉(zhuǎn)變的難題,同時顯著提升了材料的電學(xué)和機械性能。

圖文導(dǎo)讀

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圖1. Al3+摻雜的微晶玻璃(SC-CBSA)中單晶β-CaSiO3和未摻雜Al3+的微晶玻璃(PC-CBS)中多晶β/α-CaSiO3的形成和結(jié)構(gòu)特征。

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圖2.單晶β-CaSiO3在具有Al3+摻雜的CBS玻璃體系中的生長機理。

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圖3.具有Al3+摻雜的CBS玻璃在不同熱處理溫度下玻璃結(jié)構(gòu)的變化。

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圖4.具有Al3+摻雜的CBS玻璃中α-CaSiO3和β-CaSiO3的結(jié)晶動力學(xué)研究。

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圖5.使用Al3+摻雜的CBS玻璃粉制備的電子基板特征及性能。

意義與展望

這項研究從根本上解決了傳統(tǒng)材料在電性能與機械性能協(xié)同優(yōu)化中的難題,為低介電常數(shù)與高抗彎強度的結(jié)合提供了創(chuàng)新解決方案。其在微觀結(jié)構(gòu)調(diào)控和工藝設(shè)計上的突破,所建立的方法為未來高性能封裝基板的發(fā)展奠定堅實的理論和實踐基礎(chǔ)。

應(yīng)用與推廣

該單晶體微晶玻璃基板材料不僅在實驗室中展現(xiàn)出卓越性能,還成功通過了小試和中試推廣,并應(yīng)用于微機電系統(tǒng)(MEMS)探針卡等高端半導(dǎo)體封裝領(lǐng)域。這一成果標(biāo)志著從實驗研究到產(chǎn)業(yè)化應(yīng)用的重大跨越,為新一代無線通信和半導(dǎo)體封裝提供了全新的解決方案。

文獻發(fā)表信息

這一重要研究成果以“Creating Single-Crystalline β-CaSiO3 for High-Performance Dielectric Packaging Substrate”為題,發(fā)表在國際頂級期刊《Advanced Materials》上,充分體現(xiàn)了該工作的學(xué)術(shù)價值和產(chǎn)業(yè)影響力。論文的第一作者為華東理工大學(xué)材料科學(xué)與工程學(xué)院2021級博士研究生賈慶超,華東理工大學(xué)材料科學(xué)與工程學(xué)院曾惠丹教授、上海澤豐半導(dǎo)體有限公司董事長羅雄科和丹麥奧爾堡大學(xué)岳遠征教授為共同通訊作者。

Qingchao Jia, Wenzhi Wang, Hujun Zhang, Chunyu Chen, Ao Li, Chen Chen, Hang Yu, Liangzhu Zhang, Haizheng Tao, Huidan Zeng*, Xiongke Luo*, Yuanzheng Yue*, Creating Single-Crystalline β-CaSiO3for High-Performance Dielectric Packaging Substrate,Advanced Materials,2024,https://doi.org/10.1002/adma.202414156.

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原文標(biāo)題:電子封裝微晶玻璃基板-AM!

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