為推動(dòng)下一代固態(tài)配電系統(tǒng)的發(fā)展，英飛凌科技股份公司（FSE代碼：IFX / OTCQX代碼：IFNNY）正在擴(kuò)展其碳化硅（SiC）產(chǎn)品組合，推出了新型CoolSiC JFET產(chǎn)品系列。新系列產(chǎn)品擁有極低的導(dǎo)通損耗、出色的關(guān)斷能力和高可靠性，使其成為先進(jìn)固態(tài)保護(hù)與配電系統(tǒng)的理想之選。憑借強(qiáng)大的短路能力、線性模式下的熱穩(wěn)定性以及精確的過壓控制，CoolSiC JFET可在各種工業(yè)和汽車應(yīng)用中實(shí)現(xiàn)可靠且高效的系統(tǒng)性能，包括固態(tài)斷路器（SSCB）、AI數(shù)據(jù)中心熱插拔模塊、電子熔斷器、電機(jī)軟啟動(dòng)器、工業(yè)安全繼電器以及汽車電池隔離開關(guān)等。

Q-DPAK封裝的CoolSiC JFET G1

英飛凌科技零碳工業(yè)功率事業(yè)部總裁Peter Wawer博士表示：

市場(chǎng)需要更加智能、快速且可靠的配電系統(tǒng)，英飛凌將通過CoolSiC JFET滿足這一日益增長(zhǎng)的需求。這項(xiàng)以應(yīng)用為導(dǎo)向的功率半導(dǎo)體技術(shù)，專為賦能客戶應(yīng)對(duì)這一快速發(fā)展領(lǐng)域中的復(fù)雜挑戰(zhàn)而設(shè)計(jì)，為其提供所需的關(guān)鍵技術(shù)工具。我們自豪地推出具備業(yè)界領(lǐng)先的導(dǎo)通電阻（RDS(ON)）的產(chǎn)品，重新定義了碳化硅（SiC）性能標(biāo)桿，并進(jìn)一步鞏固了英飛凌在寬禁帶半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域的領(lǐng)導(dǎo)地位。

第一代CoolSiC JFET擁有最低值為1.5mΩ（750 VBDss）/2.3mΩ（1200 VBDss）的超低RDS(ON)，能夠大幅減少導(dǎo)通損耗。溝道經(jīng)過優(yōu)化過的SiC JFET在短路和雪崩故障條件下具有高度的可靠性。該產(chǎn)品采用Q-DPAK頂部散熱封裝，便于并聯(lián)，并具備可擴(kuò)展的電流處理能力，能夠?yàn)榫o湊型高功率系統(tǒng)提供靈活的布局和集成選項(xiàng)。其在熱應(yīng)力、過載和故障條件下?lián)碛锌深A(yù)測(cè)的開關(guān)能力，能夠在連續(xù)運(yùn)行中長(zhǎng)期保持極高的可靠性。

為應(yīng)對(duì)嚴(yán)苛應(yīng)用環(huán)境中的散熱和機(jī)械問題，CoolSiC JFET采用英飛凌先進(jìn)的.XT互連技術(shù)與擴(kuò)散焊接工藝，從而顯著降低了器件在工業(yè)電力系統(tǒng)中常見的脈沖與循環(huán)負(fù)載下的瞬態(tài)熱阻抗，并大幅提升了其可靠性。該器件基于固態(tài)功率開關(guān)的實(shí)際工況測(cè)試和驗(yàn)證，并采用符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的Q-DPAK封裝，可在工業(yè)與汽車應(yīng)用中實(shí)現(xiàn)快速、無(wú)縫的設(shè)計(jì)集成。