近期受晶圓廠委托， 季豐在執(zhí)行完SRAM芯片在中子輻射下SER測(cè)試后， 通過(guò)對(duì)SRAM芯片的深入研究，對(duì)測(cè)試失效數(shù)據(jù)的分析，將邏輯失效地址成功轉(zhuǎn)換為物理坐標(biāo)地址，最終在圖像上顯示失效位置，幫助客戶直觀地看到失效點(diǎn)分布位置。 通過(guò)多個(gè)失效芯片圖像的疊加，客戶可以看到多個(gè)芯片失效積累效果。

單個(gè)芯片失效分布區(qū)域圖

12個(gè)芯片失效分布區(qū)域疊加圖

01傳統(tǒng)測(cè)試的三大痛點(diǎn)，你中招了嗎?

1數(shù)據(jù)整合難：

多電壓(High/Low/Normal)測(cè)試數(shù)據(jù)分散在Excel，手動(dòng)整合耗時(shí)易錯(cuò)

2錯(cuò)誤定位模糊：

MCU、SBU、SEU缺陷類型混雜，肉眼難分辨

3報(bào)告不直觀：

表格堆砌數(shù)據(jù)，故障分布全靠“猜”

現(xiàn)在，用季豐工具一鍵解決：

勾選缺陷類型

導(dǎo)入數(shù)據(jù)

生成高清熱力圖

缺陷位置、類型一目了然!

02技術(shù)突破：

從“模糊區(qū)域”到“物理地址”

智能標(biāo)記，精準(zhǔn)到“像素級(jí)”

1顏色+圖形雙重區(qū)分：

? MCU錯(cuò)誤：藍(lán)色圓形標(biāo)記(邏輯單元故障)

? SBU錯(cuò)誤：紅色五角星(存儲(chǔ)單元異常)

? SEU錯(cuò)誤：藍(lán)色圓形標(biāo)記+紅色五角星(單粒子效應(yīng)問(wèn)題)

2無(wú)損高清導(dǎo)出：

PNG圖片放大至1000%仍清晰，細(xì)節(jié)不丟失

3無(wú)縫對(duì)接：

原生支持Excel/CSV測(cè)試數(shù)據(jù)導(dǎo)入，支持導(dǎo)入多個(gè)數(shù)據(jù)，保留原始數(shù)據(jù)完整性

03適用場(chǎng)景

1適用場(chǎng)景：

? 研發(fā)調(diào)試：快速驗(yàn)證不同電壓下的芯片穩(wěn)定性

? 測(cè)試數(shù)據(jù)：精準(zhǔn)定位芯片錯(cuò)誤地址，評(píng)估芯片性能

? 質(zhì)檢團(tuán)隊(duì)：批量生成報(bào)告，追溯工藝缺陷

? 故障復(fù)盤(pán)：定位高頻錯(cuò)誤區(qū)域，優(yōu)化設(shè)計(jì)或測(cè)試方案

2實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)：

? 效率提升：處理測(cè)試數(shù)據(jù)時(shí)間從2小時(shí)縮短至10分鐘

? 錯(cuò)誤檢出率：人工漏檢率從12%降至0.5%

季豐電子

季豐電子成立于2008年，是一家聚焦半導(dǎo)體領(lǐng)域，深耕集成電路檢測(cè)相關(guān)的軟硬件研發(fā)及技術(shù)服務(wù)的賦能型平臺(tái)科技公司。公司業(yè)務(wù)分為四大板塊，分別為基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)室、軟硬件開(kāi)發(fā)、測(cè)試封裝和儀器設(shè)備，可為芯片設(shè)計(jì)、晶圓制造、封裝測(cè)試、材料裝備等半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈和新能源領(lǐng)域公司提供一站式的檢測(cè)分析解決方案。

季豐電子通過(guò)國(guó)家級(jí)專精特新“小巨人”、國(guó)家高新技術(shù)企業(yè)、上海市“科技小巨人”、上海市企業(yè)技術(shù)中心、研發(fā)機(jī)構(gòu)、公共服務(wù)平臺(tái)等企業(yè)資質(zhì)認(rèn)定，通過(guò)了ISO9001、 ISO/IEC17025、CMA、CNAS、IATF16949、ISO/IEC27001、ISO14001、ISO45001、ANSI/ESD S20.20等認(rèn)證。公司員工超1000人，總部位于上海，在浙江、北京、深圳、成都等地設(shè)有子公司。