在智能電表中，結(jié)算方式已經(jīng)由原有的電量結(jié)算轉(zhuǎn)換為金額結(jié)算，并且費(fèi)率模式也較以往的電表更為復(fù)雜，這些需求對(duì)智能電表中的實(shí)時(shí)鐘（Real Time Clock，RTC）提出了更高的要求。而眾所周知，影響實(shí)時(shí)鐘精度的主要原因?yàn)榫w的溫度偏差，晶體的溫度曲線接近二次曲線，因此用二次曲線校正的方法，可修正晶體的溫度偏差，從而提升智能電表的實(shí)時(shí)鐘精度。

1 引言

在國內(nèi)使用的智能電表都具有實(shí)時(shí)時(shí)鐘，根據(jù)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，要求其在工作溫度范圍內(nèi)精度滿足小于 1 s/day（11.5 ppm），在 23 ℃ 時(shí)滿足小于 0.5 s/day（ppm）實(shí)際應(yīng)用中還要考慮到晶體的老化及校準(zhǔn)誤差等因素影響[1-6]， RTC 時(shí)鐘誤差在廠家校準(zhǔn)應(yīng)該至少做到 8 ppm 以下。

目前智能電表的 RTC 校準(zhǔn)一般有 2 種方式。

（1）采用外置帶溫度補(bǔ)償?shù)?RTC，如 EPSON 的 RX8025T，其校準(zhǔn)是由芯片廠家出廠前根據(jù)多溫度點(diǎn)測(cè)試校準(zhǔn)好的，電表廠家不需要校準(zhǔn)，這種方式由于成本因素本應(yīng)逐漸退出智能電表領(lǐng)域[7,8]。行業(yè)普遍應(yīng)用的是單溫度點(diǎn)校準(zhǔn)方法，這種方法雖然不能保證每個(gè)電表的 RTC 精度都是合格的，所以仍占有較大市場(chǎng)份額。

（2）主控制器內(nèi)置 RTC，如復(fù)旦微的 FM3318，其 RTC 的校準(zhǔn)是只進(jìn)行常溫下單點(diǎn)校準(zhǔn)，二次曲線系數(shù)是根據(jù) 32 768 Hz 晶體的批量數(shù)據(jù)預(yù)制的，每批電表都使用相同之處的系數(shù)[9-13]。

頻率為 32 768 Hz 晶體的溫度曲線如圖 1，接近二次曲線，這種單溫度點(diǎn)校準(zhǔn)相當(dāng)于β和 T0 使用固定值，只校準(zhǔn) S0[14,15]。根據(jù)晶體廠家提供的參數(shù)，β一般為 0.035±0.0012 ppm，T0 為 23±2 ℃。

根據(jù)二次曲線 ，假如β為 0.035，和預(yù)制值一致，T0 預(yù)置 23 與實(shí)際值偏差 2 ℃ 時(shí)，并且考慮到溫度誤差 0.5℃，在溫度-25 ℃ Y的偏差分別為 8.6 ppm，在工作溫度 -40 ℃ 和 85 ℃ 時(shí)達(dá)到 -11 ppm. 這幾個(gè)偏差值還不包括晶體實(shí)際曲線與二次曲線的偏差β及校準(zhǔn)偏差以及晶體本身的老化影響。

從上面數(shù)據(jù)可以看出采用單點(diǎn)校準(zhǔn)方法一定會(huì)導(dǎo)致部分 RTC 在高低溫下超差。另一個(gè)影響 RTC 運(yùn)行中精度的重要因素是晶體自身的年老化率，按照晶體廠家提供的數(shù)據(jù)，第一年晶體的最大老化率有±3 ppm，以后每年約±1ppm，按照電表能夠使用 10 年的要求，由于晶體老化的影響，智能電表 5 年后就有可能不滿足 23 ℃ 時(shí) RTC 誤差小于 0.5 s/day 的要求。而此年老化率的影響是正負(fù)都有可能，無法在生產(chǎn)校準(zhǔn)中解決。

2 通過實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)得到晶體的溫度曲線

困擾智能電表行業(yè)多年的一個(gè)難題，即采用 SoC 方案的智能電表的 RTC，如果采用單溫度點(diǎn)校準(zhǔn)法，能滿足量產(chǎn)化需求，卻無法保證每個(gè)表的 RTC 精度都合格。采用三溫度點(diǎn)校準(zhǔn)發(fā)，能保證電表 RTC 精度合格，但卻由于校準(zhǔn)時(shí)間長無法量產(chǎn)。為了更好地解決這一問題，通過實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)歸納出了RTC 的精度受晶體頻率影響的曲線，如表 1 所示。

通過測(cè)試多組 RTC 未校準(zhǔn)前的精度受溫度影響數(shù)據(jù)，根據(jù)圖 1 中的數(shù)據(jù)描出溫度與精度曲線，可以得到 1 個(gè)近似的二次曲線 y=ax3+bx2+cx+d，β為二次項(xiàng)系數(shù)，T0 為頂點(diǎn)溫度，S0 為常數(shù)。按表 1 數(shù)據(jù)擬合出的曲線中，β為 -0.0343，T0 為 23.3，S0 為 12.52。選擇不同的溫度點(diǎn)數(shù)據(jù)擬合曲線的 β 和 T0 值并不一致，且變化范圍也有所不同。采用 3 溫度點(diǎn)數(shù)據(jù)擬合二次曲線的方法得到的數(shù)據(jù)見表 2。

從數(shù)據(jù)中明顯可見：采用不同的溫度點(diǎn)數(shù)據(jù)擬合出來的二次曲線的系數(shù)明顯不同。前 4 組溫度點(diǎn)擬合出來的β值與多點(diǎn)擬合時(shí)的β值相差較小，但 T0 的變化范圍相對(duì)較大。

實(shí)測(cè) -40 ℃ 到 85 ℃ 誤差數(shù)據(jù)得到與擬合的二次曲線的差值曲線，可見溫度對(duì)頻率影響曲線還應(yīng)該包含三次或更高次項(xiàng)，因此得到根據(jù)差值曲線擬合的三次曲線 y=ax3+bx2+cx+d，或四次擬合曲線 y=hx4+ax3+bx2+cx+d

根據(jù)表 1 中的差值數(shù)據(jù)可以得到式 1。

（1）

采用不同的溫度點(diǎn)數(shù)據(jù)擬合出來的二次曲線的系數(shù)明顯不同的原因就是此三次曲線或更高次曲線影響引起的。

可見，若要實(shí)現(xiàn)全溫度范圍內(nèi)的高精度 RTC，必須要對(duì)二次曲線和三次或更高次曲線都進(jìn)行校準(zhǔn)。根據(jù)曲線公式，可以看出，若要準(zhǔn)確校準(zhǔn) RTC至少需要五個(gè)溫度點(diǎn)，這在電表批量生產(chǎn)時(shí)是不現(xiàn)實(shí)的。 可是，在三溫度點(diǎn)擬合二次曲線前，如果先把三次曲線的影響補(bǔ)償了，再進(jìn)行擬合，得到的二次曲線系數(shù)很接近，見表 2 中進(jìn)行三次修正后擬合的數(shù)據(jù)。

3 兩點(diǎn)校準(zhǔn)的數(shù)據(jù)實(shí)驗(yàn)

選擇適合的校準(zhǔn)點(diǎn)，確定溫度對(duì)頻率影響曲線中的二次項(xiàng)系數(shù) β，實(shí)現(xiàn)兩點(diǎn)校準(zhǔn)。通過實(shí)驗(yàn)總結(jié)，同一型號(hào)的晶體，從批量測(cè)試數(shù)據(jù)得到二次曲線中β的變化范圍較小，見表 3。

為此我們可以根據(jù)選定型號(hào)的晶體，選擇適合測(cè)試及校準(zhǔn)溫度點(diǎn)，固定β值，只進(jìn)行 2 溫度點(diǎn)測(cè)試及校準(zhǔn) T0 或 S0，選取的校準(zhǔn)溫度點(diǎn)需要滿足 2 個(gè)特征:此溫度點(diǎn)便于操作，且最好是正常電表生產(chǎn)工藝中使用的溫度點(diǎn)，此溫度點(diǎn)下，β的變化范圍較小，選取的溫度點(diǎn)能夠兼顧常溫和高低溫。

根據(jù)擬合的三次曲線（四次曲線或更高次曲線方法類似）。

（2）

根據(jù)對(duì)其求導(dǎo)后的公式，可以得到變化率最小的溫度點(diǎn)。

（3）

x =22.2±32.5

x1=54.7， x2=-10.3

選定溫度點(diǎn)后，在選定溫度點(diǎn)重新按擬合，擬合時(shí)數(shù)據(jù)去除偏差影響值，批量測(cè)試同一型號(hào)晶體，各晶體的β和 T0 都在表 4 范圍內(nèi)。

4 通過上述實(shí)驗(yàn)總結(jié)出的 RTC 校準(zhǔn)方法

（1）校準(zhǔn)溫度點(diǎn)的選擇，綜合考慮電表的一般生產(chǎn)工藝過程及溫度點(diǎn)與 β的關(guān)系，選擇特定校準(zhǔn)溫度點(diǎn) T1 和 T2。

（2）確定所選型號(hào)晶體的β值，選擇五溫度點(diǎn)測(cè)試 RTC 誤差，得到 4 個(gè)電表的β值，將β的平均值作為此型號(hào)晶體的固定系數(shù)，每個(gè)電表都采用此固定系數(shù)。

（3）確定所選型號(hào)晶體按照二次曲線補(bǔ)償后的頻率溫度特性實(shí)測(cè)值與二次曲線的偏差 E’，采用較二次曲線更高次項(xiàng)的曲線擬合該偏差 E’，該擬合曲線，得到各溫度點(diǎn)的曲線偏差值 E，這個(gè)值為晶體按二次曲線校準(zhǔn)后殘存的偏差值，制作偏差值 E 與溫度 X 或偏差值 E 與晶體計(jì)時(shí)誤差Y 的對(duì)應(yīng)表格。

（4）RTC 的β值與各溫度點(diǎn)的偏差值 E 通過通信接口預(yù)置到電表中，每個(gè)電表在正常生產(chǎn)中，都進(jìn)行兩溫度點(diǎn)校準(zhǔn)。

（5）每個(gè)智能電表在生產(chǎn)中，收到啟動(dòng)測(cè)量溫度點(diǎn) RTC 誤差命令后，首先關(guān)閉 RTC 的溫度補(bǔ)償功能，啟動(dòng)溫度測(cè)量。

（6）根據(jù)溫度測(cè)量值判斷電表溫度已經(jīng)進(jìn)入預(yù)定溫度的允許范圍內(nèi)后，然后進(jìn)行步驟（7）。

（7）通過主控制器的計(jì)時(shí)單元測(cè)量外部輸入的標(biāo)準(zhǔn)時(shí)鐘，計(jì)時(shí)時(shí)間 Tj 需要保證計(jì)時(shí)分辨率達(dá)到 0.1 ppm/s，由計(jì)時(shí)單元測(cè)量 Tj 得到晶體計(jì)時(shí)誤差測(cè)量值 Tb，Tb1、Tb2、Tb3。

（8）在每次計(jì)時(shí)的同時(shí)，主控制器需要測(cè)量多個(gè)溫度值。去掉最大值、最小值后取溫度平均值 W。不同時(shí)刻 Tb1、Tb2、Tb3 分別對(duì)應(yīng)平均值 W1、W2、W3，取中間一組對(duì)應(yīng)值作為后面計(jì)算用值，Tb 記為 Y1，W 記為 X1，并存儲(chǔ)到存儲(chǔ)器之中。

（9）測(cè)量高溫點(diǎn)的誤差及溫度，與常溫不同的是，判斷電表溫度已經(jīng)進(jìn)入預(yù)定溫度的允許范圍內(nèi)后，再連續(xù)判斷 3～5 分鐘，保證電表溫度進(jìn)入比較穩(wěn)定狀態(tài)。

（10）執(zhí)行步驟（7）和（8），得到高溫點(diǎn)的一組值 Y2 和 X2。

（11）由主控制器解方程計(jì)算得到 T0 、S0 ，其β為已知固定值。

Y1=β（X1- T0）×2+ S0

Y2=β（X2- T0）×2+ S0

（12）根據(jù)得到的 T0 、S0 及β，進(jìn)行 RTC 校準(zhǔn)，并啟動(dòng)溫度補(bǔ)償。

（13）根據(jù)對(duì)應(yīng)表格確定不同溫度 X 或晶體計(jì)時(shí)誤差 Y 的偏差值 E，計(jì)算得到該溫度 X 或晶體計(jì)時(shí)誤差 Y 對(duì)應(yīng)的 S0 補(bǔ)償后的值 S0’。

S0’= S0+E

（14）具體分兩類：若 RTC 為自動(dòng)補(bǔ)償將 T0 、S0 ，β數(shù)據(jù)寫到補(bǔ)償控制寄存器，RTC 不支持更高次項(xiàng)補(bǔ)償，則需要計(jì)算出高次項(xiàng)影響偏差值 E，根據(jù)此值調(diào)整 S0。若為非自動(dòng)模式的，則計(jì)算得到偏差值 E 作為補(bǔ)償值寫到補(bǔ)償控制寄存器。

（15）由主控制器測(cè)量補(bǔ)償結(jié)果，保證補(bǔ)償后的 RTC 誤差在 1 ppm 以下。

（16）未達(dá)到預(yù)定補(bǔ)償結(jié)果的在電表的 LCD 屏上顯示異常代碼，作為維修指示，補(bǔ)償成功的顯示校準(zhǔn)正常代碼。

校準(zhǔn)溫度點(diǎn) T1 和 T2 分別為常溫點(diǎn) 23 ℃ 和高溫點(diǎn) 56 ℃ 附近。晶體老化過程中還包括：逐個(gè)比較若干個(gè)時(shí)間間隔之后，平均溫度接近的 RTC 相對(duì)誤差差值 ?S0。將 ?S0 與設(shè)定門限比較，若兩個(gè)時(shí)間間隔間的?S0 超過設(shè)定門限，根據(jù) RTC 相對(duì)誤差，計(jì)算出晶體頻率變化數(shù)據(jù)，修改 S0。

擬合曲線為三次擬合曲線：

y=ax3+bx2+cx+d

采用五個(gè)溫度點(diǎn)數(shù)據(jù)對(duì) a，b，c，d 進(jìn)行標(biāo)定。

擬合曲線也可為四次擬合曲線：

y=hx4+ax3+bx2+cx+d

采用六個(gè)溫度點(diǎn)數(shù)據(jù)，對(duì) h，a，b，c，d 進(jìn)行標(biāo)定。

由管理主站讀取每個(gè)電表的補(bǔ)償系數(shù)及校準(zhǔn)后的 RTC 精度，并保存到數(shù)據(jù)庫中，對(duì)故障表提示，由維修人員進(jìn)行單獨(dú)處理。晶體計(jì)時(shí)誤差 Y 的單位為 ppm。批量生產(chǎn)中不進(jìn)行上述（1）、（2）、（3）步驟。

5 結(jié)語

通過對(duì)上述實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的分析，歸納出相應(yīng)的方法。經(jīng)過大量的驗(yàn)證，提升了原來在智能電表中實(shí)時(shí)鐘的校準(zhǔn)方法。目前這種方法已經(jīng)得到了批量推廣，由此節(jié)省了人力和物力，為智能表計(jì)的生產(chǎn)提供了有力的技術(shù)支持。

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