Texas Instruments AFE3256 256通道模擬前端數(shù)據(jù)手冊

Texas Instruments AFE3256 256通道模擬前端 (AFE) 設計用于滿足基于平板檢測器 (FPD) 的數(shù)字X射線系統(tǒng)的要求。AFE3256具有256個集成器、帶雙電源的相關雙采樣器 (CDS) 和256:2模擬多路復用器。該器件還具有兩個16位逐次逼近寄存器 (SAR) 模數(shù)轉換器 (ADC)。來自ADC的串行數(shù)據(jù)采用低壓差分信令 (LVDS) 格式。

數(shù)據(jù)手冊：*附件：Texas Instruments AFE3256 256通道模擬前端數(shù)據(jù)手冊.pdf

TI AFE3256通常也稱為讀出集成電路 (ROIC)，可使用多種功耗模式和系統(tǒng)內調試選項等特性來優(yōu)化整體系統(tǒng)性能。睡眠和待機模式能夠大幅降低功耗，這對于電池供電型系統(tǒng)至關重要。

特性

高性能：
- 噪聲：440個電子RMS（1.2pC輸入電荷范圍）
- 低相關噪聲
- 全通道積分非線性：16位時為±2LSB
- 掃描時間：<16μs至204.8μs
集成：
- 可編程滿量程輸入電荷量范圍：0.3pC至12.5pC，分辨率為0.3pC
- 內部時序發(fā)生器 (TG)
- 內置相關雙采樣器
- 軟件可編程電子或空穴積分模式
- 流水線式“集成和讀取”，用于提高集成期間的吞吐量數(shù)據(jù)讀取
- 串行LVDS輸出
- 片上溫度傳感器
256通道
片上、16位ADC
單個1.85V電源供電運行的簡單供電方案
多種功耗模式，功耗范圍為1mW/ch至2mW/ch
睡眠和待機的掉電模式
分箱模式支持
定制薄膜覆晶 (COF) 封裝