XL2417D芯片是一款低功耗、高性能和高度集成的SoC，帶有2.4G收發(fā)器。它集成了高性能2.4GHz射頻收發(fā)器、豐富的基帶功能、32位MCU和各種外圍IO。XL2417D的2.4G射頻收發(fā)性能出色,最大13 dBm輸出功率，接收靈敏度可達(dá)-99dBm。芯片支持128KB的flash和8KB的RAM，以實(shí)現(xiàn)可編程協(xié)議和配置文件，支持定制應(yīng)用程序。

本文介紹的是XL2417D無線收發(fā)芯片 UID讀取的操作流程。

一、硬件：USB轉(zhuǎn)TTL串口工具+XL2417D開發(fā)板

連接VCC，GND，TX與RX分別交叉相連

二：打開我們的官方例程

功能演示：

代碼的主要目的是展示如何初始化 SPI 閃存通信，并通過讀取設(shè)備 ID 和唯一 ID 來驗(yàn)證通信是否正常，最后根據(jù)配置執(zhí)行相應(yīng)的閃存測試。

使用步驟：

1. 編譯下載程序到MCU，并運(yùn)行；

2. 打開串口獲取打印信息。

代碼注釋：

1.首先調(diào)用xl_fmc_spi_init_oprt()初始化 FMC SPI 操作接口

2.調(diào)用xl_fmc_spi_flash_wake_up()喚醒 SPI 閃存設(shè)備（有些閃存需要喚醒操作）

3.讀取閃存的設(shè)備 ID（RDID）并通過 printf 輸出

4.讀取閃存的唯一 ID（RUID）并通過 DEBUG 宏輸出

5.根據(jù)宏定義FLASH_ALL_BIT_TEST的值，選擇執(zhí)行不同的閃存測試：

如果FLASH_ALL_BIT_TEST為 1，則執(zhí)行全位測試fmc_spi_flash_all_bit_test()

否則執(zhí)行任意地址測試fmc_spi_flash_any_addr_test()

打印信息（讀取結(jié)果）：