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一文讀懂共聚焦顯微鏡的主分光裝置

蘇州光子灣科學儀器有限公司 ? 2025-10-30 18:04 ? 次閱讀
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共聚焦顯微鏡(CLSM)是對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量的檢測儀器,其“光學切片” 能力的實現(xiàn)高度依賴光路中激發(fā)光與發(fā)射光的精準分離—— 這一功能由主分光裝置主導完成。下文,光子灣科技將系統(tǒng)梳理共聚焦顯微鏡不同主分光裝置的原理與性能,為相關(guān)領(lǐng)域研究提供設(shè)備技術(shù)應用參考。

共聚焦顯微鏡為何需要 “分光”?

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共聚焦顯微鏡的主分光裝置

共聚焦顯微鏡的照明模式,決定了“分光” 的必要性。根據(jù)光線與樣本的作用方向,可分為三類:

透射光照明:樣本處于光源與探測裝置之間,光線穿透樣本后被接收;

入射光照明:照明光源與探測裝置位于樣本同側(cè),光線經(jīng)樣本反射或散射后被探測;

自發(fā)光觀察:自發(fā)光物體作為樣本無需外部照明

共聚焦顯微鏡的熒光成像:入射光從同一側(cè)完成“激發(fā)” 與 “檢測”,若激發(fā)光與發(fā)射光混雜,會導致背景噪聲劇增、信號失真。因此,主分光裝置成為剛需—— 必須實現(xiàn)激發(fā)光與發(fā)射光的精準分離,反射激發(fā)光至樣本,同時透射發(fā)射光至探測器。


共聚焦顯微鏡的主分光裝置

1.二色鏡

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二色鏡的應用圖

傳統(tǒng)主流主分光裝置,用于解決早期灰色鏡(平均分光)的信號損失與激發(fā)光浪費,是共聚焦顯微鏡熒光成像的初代核心分光方案

工作原理

制造工藝:通過在光學玻璃基底表面沉積多層薄介質(zhì)材料(如二氧化硅、二氧化鈦),利用不同介質(zhì)的折射率差異產(chǎn)生干涉效應;

分光邏輯:按設(shè)計呈現(xiàn)“高反射激發(fā)光、高透射發(fā)射光” 的交替光譜帶 —— 對特定波長的激發(fā)光高反射,確保激光聚焦樣本,對互補波長的發(fā)射光高透射,減少信號損失,適配單一或多種熒光分子的激發(fā)/ 發(fā)射需求。

核心特性

透射效率:發(fā)射光譜區(qū)透射率接近光學玻璃理論透射極限;

反射帶寬:激發(fā)光反射帶寬通?!?5nm,單一激發(fā)波長場景下影響可忽略,多激發(fā)帶場景易與發(fā)射光譜重疊;

2.聲光光束分割器

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二色鏡(藍色曲線)和聲光光束分割器(紅色曲線)的透射,箭頭標示了激發(fā)縫隙的狹窄程度。相比窄縫,寬縫剪除了更多的熒光發(fā)射信號。

可突破傳統(tǒng)二色鏡的局限性,是共聚焦顯微鏡實現(xiàn)靈活、快速、多色成像的升級方案,也是唯一能與白光激光源耦合的主分光裝置。

工作原理

核心機制:基于聲光晶體效應,向晶體施加特定射頻信號,形成類“動態(tài)光柵” 的聲波場,使選定波長光發(fā)生布拉格偏轉(zhuǎn),分離激發(fā)光(反射至樣本)與發(fā)射光(透射至探測器);

偏振補償:針對熒光發(fā)射光(非偏振)易分裂問題,采用“雙晶體結(jié)構(gòu)”,第一晶體(C1)分裂的偏振光經(jīng)第二晶體(C2)校正后同軸出射,保障光路與成像質(zhì)量。

核心特性

透射效率:晶體覆防反射涂層,發(fā)射光平均透射率高

波長靈活性:調(diào)射頻信號可控制可見光區(qū)任意波長分光;

切換速度:電子控制適配毫秒級動態(tài)觀測;

主分光裝置作為共聚焦顯微鏡實現(xiàn)“光學切片”的核心,其技術(shù)演進始終圍繞著光信號分離的精準與效率。傳統(tǒng)的二色鏡以其高穩(wěn)定性與透射率,為基礎(chǔ)熒光成像提供了可靠保障;而創(chuàng)新的聲光光束分割器則憑借其波長靈活可調(diào)、切換極速以及與白光激光器的無縫耦合,突破多維成像的局限。理解共聚焦顯微鏡不同分光裝置的特性,是優(yōu)化成像策略、拓展科研邊界的關(guān)鍵。

光子灣3D共聚焦顯微鏡

光子灣3D共聚焦顯微鏡是一款用于對各種精密器件及材料表面,可應對多樣化測量場景,能夠快速高效完成亞微米級形貌和表面粗糙度的精準測量任務,提供值得信賴的高質(zhì)量數(shù)據(jù)。

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超寬視野范圍,高精細彩色圖像觀察

提供粗糙度、幾何輪廓、結(jié)構(gòu)、頻率、功能等五大分析技術(shù)

采用針孔共聚焦光學系統(tǒng),高穩(wěn)定性結(jié)構(gòu)設(shè)計

提供調(diào)整位置、糾正、濾波、提取四大模塊的數(shù)據(jù)處理功能

光子灣共聚焦顯微鏡以原位觀察與三維成像能力,為精密測量提供表征技術(shù)支撐,助力從表面粗糙度與性能分析的精準把控,成為推動多領(lǐng)域技術(shù)升級的重要光學測量工具。

#共聚焦顯微鏡#三維形貌表征#3d顯微鏡#表面粗糙度#三維成像

感謝您本次的閱讀光子灣將持續(xù)為您奉上更多優(yōu)質(zhì)內(nèi)容,與您共同進步。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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