“本系列將從電壓需求與隔離、電流需求與分配、功率需求與熱管理三個(gè)章節(jié)來(lái)介紹大功率 PCB 設(shè)計(jì)。”

大功率 PCB 設(shè)計(jì)不僅僅是管理電壓和電流,更是管理它們的乘積:功率,而功率最終絕大多數(shù)會(huì)轉(zhuǎn)化為熱量。同時(shí),高功率開(kāi)關(guān)電路還會(huì)產(chǎn)生強(qiáng)烈的電磁場(chǎng)。本文將探討功率設(shè)計(jì)中的場(chǎng)效應(yīng)、熱生成和材料選擇。
1. 高功率場(chǎng)效應(yīng)
高功率路徑(特別是高di/dt,即電流變化率高的路徑)會(huì)產(chǎn)生強(qiáng)大的電磁場(chǎng)。這些場(chǎng)會(huì)耦合到附近的敏感電路上,如控制電路、門極驅(qū)動(dòng)(Gate Drive)信號(hào)和溫度檢測(cè)電路。在理想情況下,高功率路徑應(yīng)與其返回路徑緊密耦合(例如在相鄰層上反向布線),以使其產(chǎn)生的場(chǎng)相互抵消。
大功率 PCB 設(shè)計(jì)需要考慮的一些通用問(wèn)題,包括:
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大功率路徑附近是否有敏感電路?
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在您的設(shè)計(jì)中,大功率路徑是否與其回流路徑緊密耦合?
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某些系統(tǒng)可能存在機(jī)械結(jié)構(gòu)限制,導(dǎo)致無(wú)法(使路徑)緊密耦合。
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電池的端子(或:接線柱)通常相距很遠(yuǎn),且兩者之間幾乎沒(méi)有空間允許緊密耦合。在這種情況下,請(qǐng)確保您有策略來(lái)保護(hù)信號(hào)免受大功率能量的干擾。
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在大功率路徑下方走信號(hào)線或電源線,會(huì)使它們面臨極大的風(fēng)險(xiǎn),容易受到來(lái)自大功率路徑瞬態(tài)能量的干擾。對(duì)于柵極驅(qū)動(dòng)信號(hào)或溫度測(cè)量電路而言,這種情況是不可避免的。在這種情況下,應(yīng)保持信號(hào)(與其回流路徑)緊密耦合,并在層疊設(shè)計(jì)中使其盡可能遠(yuǎn)離大功率(路徑)。
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信號(hào)完整性 (SI) 和電源完整性 (PI) 的設(shè)計(jì)準(zhǔn)則同樣適用于大功率設(shè)計(jì)
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隨著功率/能量等級(jí)的增加,(不良)設(shè)計(jì)所導(dǎo)致后果的嚴(yán)重程度也會(huì)隨之增加。

2. 熱量生成與管理
設(shè)計(jì)中最大的敵人是熱量。您必須準(zhǔn)確識(shí)別熱源:
您必須了解設(shè)計(jì)的熱限制:
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材料玻璃化轉(zhuǎn)變溫度 (Tg)
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元件最高溫度:所有元件(包括無(wú)源元件)的最高工作溫度。
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冷卻方式:設(shè)計(jì)是依賴自然對(duì)流(被動(dòng)冷卻)還是風(fēng)扇(主動(dòng)冷卻)?

還需要注意的一些事項(xiàng):
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您或許能夠手算出一些發(fā)熱量的值,但許多情況仍需要通過(guò)IR(紅外)/CFD(計(jì)算流體力學(xué))類型的仿真來(lái)確定溫升。
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局部的發(fā)熱區(qū)域會(huì)給 PCB層疊結(jié)構(gòu)帶來(lái)應(yīng)力。
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X/Y 軸(平面)的膨脹會(huì)受到玻璃纖維布(Glass Weave)的約束。
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Z 軸(垂直方向)將承受更大的熱膨脹。
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在熱循環(huán)過(guò)程中,電鍍通孔(Plated Through Holes, PTH) 會(huì)產(chǎn)生疲勞,如果 Z 軸膨脹不受控制,(這些通孔)可能會(huì)失效。

3. 熱機(jī)械應(yīng)力與材料 (Tg)
當(dāng) PCB 受熱時(shí),它會(huì)膨脹。這對(duì)可靠性有著致命的影響。
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Z 軸膨脹 (Z-Axis Expansion):PCB在X-Y平面(水平方向)由于有玻璃纖維布的束縛,膨脹系數(shù)(CTE)較低。但在Z軸(垂直方向),CTE要高得多。
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過(guò)孔疲勞:當(dāng) Z 軸在熱循環(huán)中反復(fù)膨脹和收縮時(shí),會(huì)對(duì)鍍通孔(PTH)的桶壁施加巨大的應(yīng)力。這會(huì)導(dǎo)致桶壁裂紋 (Barrel Cracks)或拐角裂紋 (Corner Cracks),最終導(dǎo)致過(guò)孔開(kāi)路。
解決方案:選擇正確的材料
玻璃化轉(zhuǎn)變溫度 (Tg)是 PCB 基材從堅(jiān)硬的玻璃態(tài)轉(zhuǎn)變?yōu)槿彳浀南鹉z態(tài)的溫度。
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設(shè)計(jì)規(guī)則:必須選擇Tg 高于設(shè)計(jì)最高工作溫度的材料。當(dāng) PCB 接近其 Tg 時(shí),它會(huì)軟化,Z 軸膨脹會(huì)急劇增加,極易導(dǎo)致分層和過(guò)孔失效。
材料對(duì)比 :
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不良選擇 (如標(biāo)準(zhǔn)FR-4):
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Tg: 135°C
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Z軸CTE (Tg前): 70 ppm/°C
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總膨脹 (50-260°C):4.2%
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更優(yōu)選擇 (如高Tg材料):
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Tg:200°C
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Z軸CTE (Tg前):38 ppm/°C
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總膨脹 (50-260°C):2.2%
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選擇低Z軸膨脹和高Tg的材料,是確保高功率PCB在熱循環(huán)下保持長(zhǎng)期可靠性的關(guān)鍵。
4. 層疊(Stack-up) 的挑戰(zhàn)
在高功率設(shè)計(jì)中,我們希望使用厚銅(如多層2oz)來(lái)承載電流。然而,這給需要控制阻抗的信號(hào)(如差分對(duì))帶來(lái)了巨大挑戰(zhàn)。
阻抗由走線寬度、介電常數(shù)(Dk)和介質(zhì)厚度(走線到參考平面的距離)決定。
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問(wèn)題1:如果使用厚銅(2oz)和薄介質(zhì)(例如5mil)
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假設(shè)在內(nèi)層為了實(shí)現(xiàn)差分對(duì) 75Ω 或 100Ω 阻抗,計(jì)算出的走線寬度會(huì)非常細(xì)。分別為 3.237 mil 及 0.656mil。單端的更是無(wú)法實(shí)現(xiàn)。
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這種寬度在 2oz 銅上是無(wú)法制造的。
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如果需要在外層(頂層或底層)實(shí)現(xiàn) 50Ω 阻抗,線寬需要 7.832 mil。這對(duì)于那些 pitch 比較下的器件而言又太寬了!
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問(wèn)題2:如果為了解決可制造性問(wèn)題(線寬太?。梢?/span>加厚介質(zhì)(例如 8 mil)或者增加差分對(duì)的間隙。
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比如,對(duì)于 100Ω 阻抗的差分對(duì)而言,將間隙調(diào)整為 15mil,走線寬度則可調(diào)整為 4.413 mil。但 15mil 的差分對(duì)間隙對(duì)信號(hào)完整性而言并不是一個(gè)合理的值
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增加介質(zhì)厚度是一個(gè)方案。但是,這會(huì)顯著增加PCB的總厚度(例如從0.089"增加到0.110")。
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連鎖反應(yīng):板厚的增加會(huì)惡化鉆孔的縱橫比(Aspect Ratio)。
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8mil 成孔(最終孔徑),縱橫比 0.110” / 0.008” =13.75
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10mil 成孔(最終孔徑),縱橫比 0.110” / 0.010” =11
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12mil 成孔(最終孔徑),縱橫比 0.110” / 0.012” =9.17
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高縱橫比的孔非常難以電鍍均勻,增加了過(guò)孔失效的風(fēng)險(xiǎn)。
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結(jié)論:大功率PCB的疊層設(shè)計(jì)充滿了權(quán)衡。您必須在載流能力(厚銅)、信號(hào)完整性(阻抗控制)、可制造性(走線寬度)和可靠性(鉆孔縱橫比)之間找到一個(gè)可接受的平衡點(diǎn)。
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