在零代碼開(kāi)發(fā)平臺(tái)ATECLOUD平臺(tái)上線以來(lái)，有眾多的企業(yè)與納米軟件達(dá)成了合作，以解決企業(yè)電源模塊自動(dòng)化測(cè)試的問(wèn)題。在與我們合作的用戶中，電源模塊的生產(chǎn)研發(fā)企業(yè)對(duì)于測(cè)試的痛點(diǎn)各不相同，但經(jīng)過(guò)我們統(tǒng)計(jì)在電源模塊測(cè)試行業(yè)中的痛點(diǎn)主要有以下幾類：
一、效率低下：人力密集型測(cè)試制約產(chǎn)能提升
人工操作繁瑣：傳統(tǒng)測(cè)試企業(yè)軍采用手動(dòng)測(cè)試，測(cè)試時(shí)不僅設(shè)置參數(shù)、切換設(shè)備、記錄數(shù)據(jù)，而且后續(xù)的數(shù)據(jù)分析，報(bào)告制作也需要手動(dòng)完成。單次完整測(cè)試耗時(shí)30 分鐘以上，基本很難滿足生產(chǎn)測(cè)試需求。
測(cè)試流程碎片化：電源模塊需測(cè)試輸出電壓精度、紋波噪聲、負(fù)載調(diào)整率等20 + 項(xiàng)指標(biāo)，每項(xiàng)測(cè)試需單獨(dú)配置儀器。
設(shè)備頻繁切換：從示波器到頻譜分析儀，從電子負(fù)載到可編程電源，工程師需15-20 次設(shè)備操作才能完成一套完整測(cè)試。

零代碼開(kāi)發(fā)

二、設(shè)備兼容性差：儀器孤島阻礙系統(tǒng)集成
接口協(xié)議不統(tǒng)一：有的企業(yè)會(huì)選擇傳統(tǒng)ATE測(cè)試軟件，但是不同品牌設(shè)備通信接口各異，因此這些企業(yè)在新增設(shè)備時(shí)還需要重新開(kāi)發(fā)通訊協(xié)議和驅(qū)動(dòng)，耗時(shí)耗力。
系統(tǒng)集成困難：傳統(tǒng)測(cè)試系統(tǒng)只能適配特定型號(hào)模塊，40%企業(yè)因設(shè)備兼容問(wèn)題無(wú)法實(shí)現(xiàn)跨系統(tǒng)信息共享，決策效率降低35%。
維護(hù)成本高昂：不同開(kāi)發(fā)人員編寫的軟件缺乏統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)，后期迭代和故障排查難度大。

設(shè)備指令兼容

三、數(shù)據(jù)管理混亂：信息孤島導(dǎo)致價(jià)值流失
數(shù)據(jù)分散存儲(chǔ)：研發(fā)與生產(chǎn)線數(shù)據(jù)分離，企業(yè)跨地域數(shù)據(jù)需人工導(dǎo)出、傳輸、整理，錯(cuò)誤率高達(dá)15%。
報(bào)告生成滯后：測(cè)試報(bào)告需手動(dòng)整理，面對(duì)大批量測(cè)試的，耗時(shí)制作報(bào)告容易錯(cuò)失市場(chǎng)機(jī)會(huì)。
分析能力薄弱：缺乏系統(tǒng)數(shù)據(jù)分析工具，70%企業(yè)僅做簡(jiǎn)單數(shù)據(jù)記錄，無(wú)法深度挖掘數(shù)據(jù)價(jià)值。

數(shù)據(jù)報(bào)告導(dǎo)出

四、測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)缺失：質(zhì)量波動(dòng)與合規(guī)風(fēng)險(xiǎn)
操作不規(guī)范：無(wú)統(tǒng)一測(cè)試流程，不同工程師測(cè)試結(jié)果差異達(dá)±8%，容易出現(xiàn)因測(cè)試不一致導(dǎo)致批次性問(wèn)題。
人員技能門檻高：需掌握電子、通信、自動(dòng)化等多領(lǐng)域知識(shí)，企業(yè)培養(yǎng)合格測(cè)試工程師周期達(dá)6-12 個(gè)月
以上的這些痛點(diǎn)不僅增加企業(yè)測(cè)試成本，更制約產(chǎn)品質(zhì)量提升和市場(chǎng)響應(yīng)速度。隨著電源模塊行業(yè)的快速發(fā)展，突破這些痛點(diǎn)已成為行業(yè)發(fā)展的必答題，而自動(dòng)化測(cè)試轉(zhuǎn)型則是關(guān)鍵突破口。

更多零代碼自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)ATECLOUD功能介紹，可關(guān)注：納米軟件

審核編輯 黃宇