來源：是德科技CAE

概述

在設(shè)計過程中，我們需要控制光線對特定位置上特定部件的照射，或追溯到達(dá)這些位置的光線來源。例如，在鏡頭系統(tǒng)（如相機）的設(shè)計中，往往需要快速識別意外出現(xiàn)的雜散光，判定其成因，并實現(xiàn)問題的提前預(yù)測與解決。

LightTools Raypath Analyzer 光線路徑分析儀擅長快速排查問題、便于制定對策，同時還能清晰呈現(xiàn)光路的可視化效果。

對客戶而言，這種光路可視化不僅能提升與第三方的溝通效率，還有助于提前規(guī)避潛在損失，最終實現(xiàn)降本增效。本文將介紹照明設(shè)計與分析軟件LightTools 的功能之一--光線路徑分析儀的功能。

什么是光線路徑分析儀？

光線從 LED 等光源到達(dá)測量設(shè)備（接收器）的路徑各不相同，且會在部件表面?zhèn)鬏敽头瓷洌ǚ至眩考ū砻妫┰蕉?，路徑也就越多。RayPath 功能能夠確認(rèn)（收集）這些光線的路徑信息，借助該功能不僅可以檢查所選路徑的照度分布和亮度值，還能在3D 模型中繪制出這些路徑的光線，而這一光線路徑分析儀本身就是一個用于分析和評估的功能。

利用光線路徑分析儀，您可以輕松地從成千上萬條路徑中找到滿足您所需條件的路徑，或找到包含功率為 100% 的 TIR 光線的路徑。

光線路徑分析儀的使用場景：

顧名思義，這項功能可以讓您了解 "光線"（光束）的 "路徑"。使用方法多種多樣，通常用于以下目的：

異常分析：當(dāng)檢測到意外光線時，搜索光學(xué)系統(tǒng)的路徑 。

詳細(xì)審查：在設(shè)計過程中，您希望控制光線照射到某個位置上的某個部件?；蛘?，您想知道照射到該位置的光線來自何處。

雜散光分析：無論是光學(xué)還是照明，技術(shù)的進步都會帶來新的雜散光。這種分析可用于早期檢測雜散光并考慮對策。

而且, 如何讓光線在設(shè)計空間內(nèi)傳播變得可視化，您可以考慮涉及哪些因素以及應(yīng)采取哪些措施，并光線路徑的可視化便于向管理人員和其他相關(guān)人員解釋。

如何使用光線路徑分析儀

使用 RayPath 分析儀列出路徑

設(shè)計人員能夠快速獲取雜散光的預(yù)期成因，他們可以根據(jù)經(jīng)驗等指定可預(yù)期的原因，只顯示穿過這些表面的光線信息。例如，對于由高曲率表面（S2）反射并進入接收器的光線，就可以用這樣的簡單描述來指定；同時，也可以列出曲面的名稱并指定路徑。

此外，如下圖所示，還能使用 “等號” 和 “不等號” 來指定功率和命中次數(shù)（即同一條光線命中同一表面的次數(shù)），而且邏輯類型有多種選擇，可通過“&” 或 “or” 將其組合，從而進一步說明相關(guān)信息。

使用光線路徑分析儀進行 TIR 分析

全內(nèi)反射分析 (*) 選項卡列出了從收集的光線路徑中包含全內(nèi)反射的光線路徑。需要對 TIR進行檢查，因為它可能會造成嚴(yán)重的雜散光。

結(jié)論

RayPath 的結(jié)果包含對設(shè)計和開發(fā)而言極為重要的信息，不過，光學(xué)系統(tǒng)中存在大量光線路徑（信息），這使得路徑數(shù)量極其龐大，進而導(dǎo)致很難找出重要問題的成因。

而通過使用光線路徑分析儀，您能夠有效地識別這些檢查點，比如那些需要根據(jù)經(jīng)驗確認(rèn)的路徑、在高曲率表面上且通常會產(chǎn)生顯著影響的TIR 光線，以及由入射條件產(chǎn)生的TIR 光線等。

通過了解光學(xué)系統(tǒng)，您可以獲得新的見解，敬請盡情使用RayPath Analyzer！

新征程，共未來

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