隨著數(shù)據(jù)率不斷提高，高速數(shù)字設(shè)計和組件的信號完整性變得更具挑戰(zhàn)性。在更高的數(shù)據(jù)率下，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀 (VNA) 更是逐漸取代傳統(tǒng)的時域反射計 (TDR) 裝置，以用于測試連接器、電纜和 PCB 等無源器件。VNA 有助于提高準(zhǔn)確性、速度和靜電放電 (ESD) 穩(wěn)健性，是這個領(lǐng)域的理想之選。

R&S?ZNB20 裝置可用于驗證 PCB 上高達(dá) 20 GHz 的高速差分信號線路
您的任務(wù)
驗證 PCB 上的數(shù)字高速信號結(jié)構(gòu)或執(zhí)行其他任務(wù)時，必須在特定層進(jìn)行測量，同時確保不受探頭、探頭墊、通孔、引入線和引出線的影響。因此，需要借助精確的去嵌算法計算并消除此類測量影響，確保只保留興趣區(qū)域的測量結(jié)果。
測試解決方案
以下裝置示例展示了驗證 PCB 上高達(dá) 20 GHz 的高速差分信號路線。該測試裝置基于 R&S?ZNB20 四端口 VNA。相應(yīng)去嵌工具（如 Delta-L、Delta-L+、PacketMicro 智能夾具去嵌 (SFD) 或 AtaiTec 原位去嵌 (ISD)）可直接在 R&S?ZNB20 上運行，無需使用外部電腦。
除了待測量的實際信號跡線之外，PCB 試樣通常還包括較短信號跡線以促進(jìn)去嵌操作。PacketMicro 等公司的差分 PCB 探頭可用于連接R&S?ZNB20與此類信號跡線。
測試裝置
測試程序步驟
流程自動化
為精簡測試程序并指導(dǎo)操作員完成測試步驟，通常使用軟件自動執(zhí)行測試。左側(cè)屏幕截圖顯示測試程序的三個步驟示例：
測量雙通（短）結(jié)構(gòu)以進(jìn)行去嵌，結(jié)果顯示在左側(cè)欄中
測量整體（長）結(jié)構(gòu)，結(jié)果顯示在中間欄中
根據(jù)所選去嵌方法計算興趣區(qū)域，結(jié)果顯示在右側(cè)欄中
對于雙通（短）結(jié)構(gòu)和整體（長）結(jié)構(gòu)測量，兩個探頭的阻抗變化趨勢顯示在插入損耗結(jié)果上方。這樣便于快速確定是否需要重新調(diào)整探頭。
在頻域和時域中同時顯示眼圖和測量結(jié)果
眼圖
可以使用R&S?ZNB-K20選件進(jìn)一步分析興趣區(qū)域的眼圖。此選件還可用于驗證眼圖中的加重、噪聲、抖動和均衡影響。它還可用于模板測試，并提供合格/不合格檢測與統(tǒng)計結(jié)果。
結(jié)論
R&S?ZNB具備所有必要功能，單機(jī)即可測試 PCB 上的數(shù)字高速信號結(jié)構(gòu)。該儀器上還可安裝其他去嵌工具，以便消除探頭、探頭墊、通孔、引入線和引出線的影響。
訂購信息
名稱 數(shù)量 類型 訂單號
矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀
矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，四端口，100 kHz至20 GHz，PC 3.5 連接器 1 R&S?ZNB20 1311.6010.64
時域分析 1 R&S?ZNB-K2 1316.0156.02
擴(kuò)展時域分析 1 R&S?ZNB-K20 1326.8072.02
校準(zhǔn)單元或校準(zhǔn)套件
校準(zhǔn)單元，10 MHz至24 GHz，四端口，3.5 mm（陰性） 1 R&S?ZV-Z52 1164.0521.30
校準(zhǔn)套件，50 Ω，0 Hz至24 GHz，3.5 mm（陰性/陽性） 1 R&S?ZV-Z235 5011.6542.02
您的任務(wù)
驗證 PCB 上的數(shù)字高速信號結(jié)構(gòu)或執(zhí)行其他任務(wù)時，必須在特定層進(jìn)行測量，同時確保不受探頭、探頭墊、通孔、引入線和引出線的影響。因此，需要借助精確的去嵌算法計算并消除此類測量影響，確保只保留興趣區(qū)域的測量結(jié)果。

審核編輯 黃宇