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探索 onsemi UniFET N 溝道 MOSFET:FDA16N50 - F109 的卓越性能與應(yīng)用

lhl545545 ? 2026-03-29 10:50 ? 次閱讀
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探索 onsemi UniFET N 溝道 MOSFET:FDA16N50 - F109 的卓越性能與應(yīng)用

引言

在電子工程領(lǐng)域,MOSFET(金屬 - 氧化物 - 半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管)是電源轉(zhuǎn)換和開關(guān)電路中不可或缺的元件。今天,我們來深入了解 onsemi 推出的 UniFET 系列中的一款 N 溝道 MOSFET——FDA16N50 - F109。這款 MOSFET 具備哪些獨(dú)特的特性,又能應(yīng)用于哪些場景呢?讓我們一探究竟。

文件下載:FDA16N50_F109-D.PDF

產(chǎn)品概述

技術(shù)基礎(chǔ)

UniFET MOSFET 是基于平面條紋和 DMOS 技術(shù)的高壓 MOSFET 系列。這種技術(shù)的應(yīng)用使得該 MOSFET 能夠有效降低導(dǎo)通電阻,同時提供更出色的開關(guān)性能和更高的雪崩能量強(qiáng)度。

目標(biāo)應(yīng)用

該系列適用于多種開關(guān)電源轉(zhuǎn)換器應(yīng)用,如功率因數(shù)校正(PFC)、平板顯示(FPD)電視電源、ATX 電源以及電子燈鎮(zhèn)流器等。

產(chǎn)品特性

電氣特性

參數(shù) 數(shù)值 說明
(R_{DS(on)}) 380 mΩ(最大值)@ (V{GS}=10 V),(I{D}=8.3 A) 較低的導(dǎo)通電阻,可減少功率損耗
柵極電荷 (Q_g) 典型值 32 nC 低柵極電荷有助于快速開關(guān),提高效率
反向傳輸電容 (C_{rss}) 典型值 20 pF 低 (C_{rss}) 可降低開關(guān)損耗

其他特性

  • 雪崩測試:經(jīng)過 100% 雪崩測試,確保在雪崩情況下的可靠性。
  • 無鉛設(shè)計(jì):符合環(huán)保要求。

關(guān)鍵參數(shù)與應(yīng)用

關(guān)鍵參數(shù)

參數(shù) 數(shù)值
漏源電壓 (V_{DS}) 500 V
連續(xù)漏極電流 (I_{D}) 25°C 時為 16.5 A,100°C 時為 9.9 A
脈沖漏極電流 (I_{DM}) 66 A
柵源電壓 (V_{GSS}) ± 30 V
單脈沖雪崩能量 (E_{AS}) 780 mJ
雪崩電流 (I_{AR}) 16.5 A
重復(fù)雪崩能量 (E_{AR}) 20.5 mJ
峰值二極管恢復(fù) (dv/dt) 4.5 V/ns
功率耗散 (P_{D}) 25°C 時為 205 W,25°C 以上降額系數(shù)為 2.1 W/°C
工作和儲存溫度范圍 (T{J}),(T{STG}) -55 至 +150°C

應(yīng)用場景

  • PDP 電視:為電視的電源系統(tǒng)提供高效穩(wěn)定的功率轉(zhuǎn)換。
  • 不間斷電源(UPS):在市電中斷時,確保設(shè)備的正常供電。

典型特性曲線分析

導(dǎo)通區(qū)域特性(圖 1)

展示了不同柵源電壓下,漏極電流與漏源電壓的關(guān)系。通過該曲線,工程師可以了解 MOSFET 在不同工作條件下的導(dǎo)通特性,從而優(yōu)化電路設(shè)計(jì)

轉(zhuǎn)移特性(圖 2)

體現(xiàn)了漏極電流與柵源電壓的關(guān)系。這對于確定 MOSFET 的閾值電壓和放大倍數(shù)非常重要。

導(dǎo)通電阻變化特性(圖 3)

顯示了導(dǎo)通電阻隨漏極電流和柵源電壓的變化情況。工程師可以根據(jù)實(shí)際需求,選擇合適的工作點(diǎn),以降低導(dǎo)通損耗。

體二極管正向電壓變化特性(圖 4)

反映了體二極管正向電壓隨源極電流和溫度的變化。在設(shè)計(jì)電路時,需要考慮體二極管的特性,以確保電路的穩(wěn)定性。

電容特性(圖 5)

展示了輸入電容 (C{iss})、輸出電容 (C{oss}) 和反向傳輸電容 (C_{rss}) 與漏源電壓的關(guān)系。這些電容參數(shù)會影響 MOSFET 的開關(guān)速度和損耗,因此在設(shè)計(jì)高速開關(guān)電路時需要重點(diǎn)關(guān)注。

柵極電荷特性(圖 6)

體現(xiàn)了總柵極電荷 (Q_g) 與柵源電壓的關(guān)系。低柵極電荷有助于提高開關(guān)速度,降低開關(guān)損耗。

測試電路與波形

文檔中還提供了多種測試電路和波形圖,如柵極電荷測試電路(圖 12)、電阻性開關(guān)測試電路(圖 13)、非鉗位電感開關(guān)測試電路(圖 14)和峰值二極管恢復(fù) (dv/dt) 測試電路(圖 15)。這些測試電路和波形圖可以幫助工程師更好地理解 MOSFET 的工作原理和性能,從而進(jìn)行準(zhǔn)確的電路設(shè)計(jì)和調(diào)試。

機(jī)械封裝

FDA16N50 - F109 采用 TO - 3P - 3LD 封裝,符合 EIAJ SC - 65 標(biāo)準(zhǔn),具有隔離特性。封裝尺寸的詳細(xì)信息有助于工程師在 PCB 設(shè)計(jì)時進(jìn)行合理的布局。

總結(jié)與思考

onsemi 的 FDA16N50 - F109 MOSFET 憑借其低導(dǎo)通電阻、低柵極電荷、高雪崩能量強(qiáng)度等特性,在開關(guān)電源轉(zhuǎn)換器領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用前景。作為電子工程師,我們在設(shè)計(jì)電路時,需要根據(jù)具體的應(yīng)用需求,綜合考慮 MOSFET 的各項(xiàng)參數(shù)和特性,以實(shí)現(xiàn)電路的高效、穩(wěn)定運(yùn)行。同時,我們也可以思考如何進(jìn)一步優(yōu)化電路設(shè)計(jì),充分發(fā)揮這款 MOSFET 的優(yōu)勢。你在實(shí)際應(yīng)用中是否遇到過類似的 MOSFET 選擇和設(shè)計(jì)問題呢?歡迎在評論區(qū)分享你的經(jīng)驗(yàn)和見解。

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