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FDB12N50TM N-Channel UniFET? MOSFET:特性、應用與設計要點

lhl545545 ? 2026-03-29 10:55 ? 次閱讀
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FDB12N50TM N-Channel UniFET? MOSFET:特性、應用與設計要點

引言

電子工程師的日常設計工作中,MOSFET是一種常見且關鍵的元件。今天我們要深入探討的是FDB12N50TM這款N - Channel UniFET? MOSFET,它由Fairchild Semiconductor推出,如今Fairchild已成為ON Semiconductor的一部分。這款MOSFET在諸多領域有著廣泛的應用,下面我們就來詳細了解它的各項特性、應用場景以及設計時的注意事項。

文件下載:FDB12N50TM-D.pdf

產(chǎn)品整合說明

由于Fairchild Semiconductor與ON Semiconductor的整合,部分Fairchild可訂購的零件編號需要更改以滿足ON Semiconductor的系統(tǒng)要求。因為ON Semiconductor的產(chǎn)品管理系統(tǒng)無法處理帶有下劃線()的零件命名,所以Fairchild零件編號中的下劃線()將改為破折號(-)。大家在使用時,可通過ON Semiconductor網(wǎng)站(www.onsemi.com)驗證更新后的設備編號。

FDB12N50TM MOSFET特性

基本參數(shù)

  • 電壓與電流:具有500V的漏源電壓((V{DSS})),連續(xù)漏極電流在(T{C}=25^{circ}C)時為11.5A,(T{C}=100^{circ}C)時為6.9A,脈沖漏極電流((I{DM}))可達46A。
  • 導通電阻:在(V{GS}=10V),(I{D}=6A)的典型條件下,(R_{DS(on)} = 550mOmega),這一低導通電阻特性有助于降低功率損耗。
  • 電容特性:輸入電容((C{iss}))典型值為985pF,輸出電容((C{oss}))典型值為140pF,反向傳輸電容((C_{rss}))典型值為12pF,低電容值有利于提高開關速度。
  • 門極電荷:總門極電荷((Q{g}))在(V{DS}=400V),(I{D}=11.5A),(V{GS}=10V)時典型值為22nC,低門極電荷可減少開關損耗。

其他特性

  • 雪崩測試:經(jīng)過100%雪崩測試,具有較高的雪崩能量強度,能在惡劣環(huán)境下穩(wěn)定工作。
  • 環(huán)保標準:符合RoHS標準,滿足環(huán)保要求。

應用場景

照明領域

在照明系統(tǒng)中,F(xiàn)DB12N50TM可用于驅(qū)動LED燈或其他光源,其低導通電阻和良好的開關性能有助于提高照明系統(tǒng)的效率和穩(wěn)定性。

不間斷電源(UPS)

UPS需要在市電中斷時迅速切換到備用電源,F(xiàn)DB12N50TM的快速開關特性和高耐壓能力使其能夠滿足UPS的要求,確保電源的穩(wěn)定供應。

AC - DC電源供應

在AC - DC電源轉(zhuǎn)換中,該MOSFET可用于功率因數(shù)校正(PFC)電路,提高電源的功率因數(shù),減少電能損耗。

電氣特性與參數(shù)

最大額定值

符號 參數(shù) FDB12N50TM 單位
(V_{DSS}) 漏源電壓 500 V
(V_{GSS}) 柵源電壓 ±30 V
(I_{D}) 連續(xù)漏極電流((T_{C}=25^{circ}C)) 11.5 A
(I_{D}) 連續(xù)漏極電流((T_{C}=100^{circ}C)) 6.9 A
(I_{DM}) 脈沖漏極電流 46 A
(E_{AS}) 單脈沖雪崩能量 456 mJ
(I_{AR}) 雪崩電流 11.5 A
(E_{AR}) 重復雪崩能量 16.7 mJ
(dv/dt) 峰值二極管恢復(dv/dt) 4.5 V/ns
(P_{D}) 功率耗散((T_{C}=25^{circ}C)) 165 W
(P_{D}) 25°C以上降額 1.33 W/°C
(T{J}, T{STG}) 工作和存儲溫度范圍 -55 to +150 °C
(T_{L}) 焊接時最大引腳溫度 300 °C

電氣特性

符號 參數(shù) 測試條件 最小值 典型值 最大值 單位
(BV_{DSS}) 漏源擊穿電壓 (I{D}=250mu A),(V{GS}=0V),(T_{J}=25^{circ}C) 500 - - V
(Delta BV{DSS} / Delta T{J}) 擊穿電壓溫度系數(shù) (I_{D}=250mu A),參考25°C - 0.66 - V/°C
(I_{DSS}) 零柵壓漏極電流 (V{DS}=500V),(V{GS}=0V) - - 1 (mu A)
(I_{DSS}) 零柵壓漏極電流 (V{DS}=400V),(T{C}=125^{circ}C) - - 10 (mu A)
(I_{GSS}) 柵體泄漏電流 (V{GS}=±30V),(V{DS}=0V) - - ±100 nA
(V_{GS(th)}) 閾值電壓 (V{GS}=V{DS}),(I_{D}=250mu A) 3.0 - 5.0 V
(R_{DS(on)}) 靜態(tài)漏源導通電阻 (V{GS}=10V),(I{D}=6A) - 0.55 0.65 (Omega)
(g_{FS}) 正向跨導 (V{DS}=25V),(I{D}=6A) - 11 - S
(C_{iss}) 輸入電容 (V{DS}=25V),(V{GS}=0V),(f = 1MHz) - 985 1315 pF
(C_{oss}) 輸出電容 - 140 190 pF
(C_{rss}) 反向傳輸電容 - 12 17 pF
(Q_{g}) 10V時總門極電荷 (V{DS}=400V),(I{D}=11.5A),(V_{GS}=10V) - 22 30 nC
(Q_{gs}) 柵源門極電荷 - 6 - nC
(Q_{gd}) 柵漏“米勒”電荷 - 10 - nC
(t_{d(on)}) 導通延遲時間 - - 25 60 ns
(t_{r}) 導通上升時間 (V{DD}=250V),(I{D}=11.5A) - 60 130 ns
(t_{d(off)}) 關斷延遲時間 (R_{G}=25Omega) - 45 105 ns
(t_{f}) 關斷下降時間 - - 35 85 ns
(I_{S}) 最大連續(xù)漏源二極管正向電流 - - - 11.5 A
(I_{SM}) 最大脈沖漏源二極管正向電流 - - - 46 A
(V_{SD}) 漏源二極管正向電壓 (V{GS}=0V),(I{SD}=11.5A) - - 1.4 V
(t_{rr}) 反向恢復時間 (V{GS}=0V),(I{SD}=11.5A) - 370 - ns
(Q_{rr}) 反向恢復電荷 (dI_{F}/dt = 100A/mu s) - 3.8 - (mu C)

典型特性曲線

文檔中給出了多個典型特性曲線,包括導通區(qū)域特性、傳輸特性、導通電阻隨漏極電流和柵極電壓的變化、體二極管正向電壓隨源極電流和溫度的變化、電容特性、門極電荷特性、擊穿電壓隨溫度的變化、導通電阻隨溫度的變化、最大安全工作區(qū)、最大漏極電流隨殼溫的變化以及瞬態(tài)熱響應曲線等。這些曲線能幫助工程師更好地了解該MOSFET在不同條件下的性能表現(xiàn),從而在設計中做出更合理的選擇。

設計注意事項

零件編號更改

如前文所述,由于Fairchild與ON Semiconductor的整合,要注意零件編號的變化,及時通過ON Semiconductor網(wǎng)站驗證更新后的編號。

應用限制

ON Semiconductor產(chǎn)品不設計、不打算也未獲授權用于生命支持系統(tǒng)、FDA Class 3醫(yī)療設備或具有相同或類似分類的外國醫(yī)療設備以及植入人體的設備。如果購買或使用這些產(chǎn)品用于未預期或未授權的應用,買方需承擔相應責任。

參數(shù)驗證

“典型”參數(shù)在不同應用中可能會有所變化,實際性能也可能隨時間改變。所有工作參數(shù),包括“典型值”,都必須由客戶的技術專家針對每個客戶應用進行驗證。

總結

FDB12N50TM N - Channel UniFET? MOSFET以其低導通電阻、低門極電荷、良好的開關性能和高雪崩能量強度等特性,在照明、UPS和AC - DC電源供應等領域有著廣泛的應用前景。電子工程師在設計過程中,應充分了解其各項特性和參數(shù),結合實際應用需求,合理選擇和使用該MOSFET,同時注意整合帶來的零件編號變化以及應用限制等問題。大家在實際使用中是否遇到過類似MOSFET的一些特殊問題呢?歡迎在評論區(qū)分享交流。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內(nèi)容侵權或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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