通過一次射頻連接完成全面的射頻組件表征。

您的任務

射頻組件表征通常包括測量調(diào)制精度、匹配度或完整的 S 參數(shù)。調(diào)制精度通過誤差矢量幅度 (EVM) 或誤碼率 (BER) 等參數(shù)測量設備的傳輸性能。射頻組件表征還會測量組件是否符合帶外發(fā)射和鄰道泄漏比 (ACLR) 等監(jiān)管要求。匹配測量可確保組件在系統(tǒng)中按設計運行，例如在特定天線阻抗下實現(xiàn)額定功率傳輸。測試時間是一個關鍵參數(shù)，提高測試速度可有效降低成本。

羅德與施瓦茨解決方案

調(diào)制精度測量需要使用全調(diào)制信號來激勵被測設備 (DUT)，以確保其性能與實際應用中一致。測試系統(tǒng)中的寬帶矢量信號發(fā)生器 (VSG) 為 DUT 提供輸入信號。

要測量EVM或BER等真實性能指標，需要使用寬帶矢量信號分析儀(VSA)，并搭配一個或一組符合被測設備(DUT)使用場景的測量應用(符合標準或自定義)。盡管可以基于窄帶測量結(jié)果估算EVM，但要獲得符合標準的真實EVM、BER或數(shù)字預失真(DPD)指標，通常仍需借助寬帶VSA和配套測量應用。

ACLR 等監(jiān)管測量通常只需使用具備大動態(tài)范圍的窄帶頻譜分析儀。在一些測試場景中，測試速度比動態(tài)范圍更重要。信號與頻譜分析儀組合可以平衡速度和動態(tài)范圍，滿足特定測試場景的需求。和監(jiān)管測量一樣，匹配測量和 S 參數(shù)測量通常也需要權衡動態(tài)范圍和速度。矢量網(wǎng)絡分析儀 (VNA) 提供了所需的靈活性。

應用

如前所述，射頻組件測試至少需要三種不同的測試與測量功能(EVM、ACLR 和 S 參數(shù))，而且通常具有不同的性能要求。除此之外，測試時間也是一個關鍵參數(shù)。更換射頻線纜既耗時，又需要人工操作，是導致測量誤差的常見原因。

因此，減少射頻連接次數(shù)能夠顯著降低測試成本。下圖展示了一種滿足上述所有要求的測試架構(gòu)：

單次射頻連接

VNA 適用于高度靈活的匹配測量

VSG/VSA 組合適用于真實場景測量，包括 EVM、DPD 和 BER 測量

整個測試架構(gòu)還包括兩個標準耦合器。耦合器可根據(jù)動態(tài)范圍和頻率范圍要求進行選擇。

耦合器1將VSG與其中一個VNA端口連接到被測設備(DUT)的輸入端，耦合器2將VSA與另一個VNA端口連接到DUT的輸出端。耦合器的直通端口用于進行寬帶測量，因為此類測量對信噪比(SNR)的要求極為嚴格。利用連續(xù)波(CW)激勵信號，VNA可通過減小濾波器帶寬等方式來補償降低的SNR。

VNA 測量和校準以輸入端的 3/4 校準平面和輸出端的 5/6 校準平面為參考。VSG 和 VSA 均支持去嵌(例如用于外部耦合器)。

使用三個獨立儀器可進一步提升測量架構(gòu)的靈活性：VSG 和 VSA 可以選擇具備最大帶寬與最高性能的高端儀器，而 VNA 測量只需使用中檔儀器，反之亦然。

總結(jié)

上述測試架構(gòu)能夠靈活滿足不同的測試需求，還具備一個附加優(yōu)勢，只需通過一個射頻接口連接至 DUT。

用于連續(xù)波和 EVM 矢量校準測量的測試架構(gòu)