深入解析 onsemi NVMYS3D5N04C N 溝道 MOSFET
在電子設(shè)計(jì)領(lǐng)域,MOSFET 作為關(guān)鍵的功率器件,其性能直接影響著整個(gè)電路的效率和穩(wěn)定性。今天,我們就來(lái)深入了解 onsemi 推出的 NVMYS3D5N04C 這款 N 溝道 MOSFET,看看它有哪些獨(dú)特之處。
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產(chǎn)品概述
NVMYS3D5N04C 是一款專(zhuān)為緊湊設(shè)計(jì)而打造的功率型單 N 溝道 MOSFET。它具有 40V 的耐壓能力,最大漏源導(dǎo)通電阻(RDS(ON))低至 3.3mΩ(在 10V 柵源電壓下),最大漏極電流(ID MAX)可達(dá) 102A。這些參數(shù)使得它在功率轉(zhuǎn)換、電機(jī)驅(qū)動(dòng)等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用前景。
產(chǎn)品特性
緊湊設(shè)計(jì)
該 MOSFET 采用了 5x6mm 的小尺寸封裝(LFPAK4),非常適合對(duì)空間要求較高的應(yīng)用場(chǎng)景。這種緊湊的設(shè)計(jì)不僅節(jié)省了電路板空間,還能提高整個(gè)系統(tǒng)的集成度。
低損耗特性
- 低 RDS(ON):低導(dǎo)通電阻可以有效降低導(dǎo)通損耗,提高功率轉(zhuǎn)換效率。在實(shí)際應(yīng)用中,這意味著更少的能量被轉(zhuǎn)化為熱量,從而減少了散熱需求,提高了系統(tǒng)的可靠性。
- 低 QG 和電容:低柵極電荷(QG)和電容能夠減少驅(qū)動(dòng)損耗,降低驅(qū)動(dòng)電路的功耗。這使得 MOSFET 在高頻開(kāi)關(guān)應(yīng)用中表現(xiàn)出色,能夠快速響應(yīng)開(kāi)關(guān)信號(hào),減少開(kāi)關(guān)時(shí)間和損耗。
高可靠性
- AEC - Q101 認(rèn)證:該器件通過(guò)了 AEC - Q101 認(rèn)證,這意味著它符合汽車(chē)級(jí)應(yīng)用的嚴(yán)格要求,具有較高的可靠性和穩(wěn)定性。
- Pb - Free 和 RoHS 合規(guī):符合環(huán)保標(biāo)準(zhǔn),滿足現(xiàn)代電子產(chǎn)品對(duì)環(huán)保的要求。
電氣特性
最大額定值
| 參數(shù) | 符號(hào) | 值 | 單位 |
|---|---|---|---|
| 漏源電壓 | VDSS | 40 | V |
| 柵源電壓 | VGS | ±20 | V |
| 連續(xù)漏極電流(TC = 25°C) | ID | 102 | A |
| 連續(xù)漏極電流(TC = 100°C) | ID | 72 | A |
| 功率耗散(TC = 25°C) | PD | 68 | W |
| 功率耗散(TC = 100°C) | PD | 34 | W |
| 脈沖漏極電流(TA = 25°C,tp = 10s) | IDM | 554 | A |
| 工作結(jié)溫和存儲(chǔ)溫度范圍 | TJ, Tstg | -55 至 +175 | °C |
| 源極電流(體二極管) | IS | 65 | A |
| 單脈沖漏源雪崩能量(IL(pk) = 7.0A) | EAS | 215 | mJ |
| 焊接用引腳溫度(距外殼 1/8″,10s) | TL | 260 | °C |
電氣參數(shù)
- 關(guān)斷特性:漏源擊穿電壓(V(BR)DSS)為 40V,零柵壓漏極電流(IDSS)在 TJ = 25°C 時(shí)為 10μA,在 TJ = 125°C 時(shí)為 100μA。
- 導(dǎo)通特性:柵極閾值電壓(VGS(TH))在 2.5 - 3.5V 之間,閾值溫度系數(shù)為 -7.8mV/°C。漏源導(dǎo)通電阻(RDS(on))在 VGS = 10V、ID = 50A 時(shí)為 2.7 - 3.3mΩ。
- 電荷、電容和柵極電阻:輸入電容(CISS)為 1600pF,輸出電容(COSS)為 830pF,反向傳輸電容(CRSS)為 28pF??倴艠O電荷(QG(TOT))為 23nC。
- 開(kāi)關(guān)特性:開(kāi)關(guān)特性與工作結(jié)溫?zé)o關(guān),具有較好的穩(wěn)定性。
- 漏源二極管特性:正向二極管電壓(VSD)在 TJ = 25°C、IS = 50A 時(shí)為 0.9 - 1.2V,在 TJ = 125°C 時(shí)為 0.78V。反向恢復(fù)時(shí)間(tRR)為 37ns。
典型特性曲線
文檔中提供了一系列典型特性曲線,這些曲線直觀地展示了 MOSFET 在不同條件下的性能表現(xiàn)。
- 導(dǎo)通區(qū)域特性:展示了漏極電流(ID)與漏源電壓(VDS)之間的關(guān)系,幫助工程師了解 MOSFET 在導(dǎo)通狀態(tài)下的工作特性。
- 傳輸特性:體現(xiàn)了漏極電流(ID)與柵源電壓(VGS)之間的關(guān)系,對(duì)于確定 MOSFET 的工作點(diǎn)和驅(qū)動(dòng)要求非常重要。
- 導(dǎo)通電阻與柵源電壓的關(guān)系:表明了導(dǎo)通電阻(RDS(on))隨柵源電壓(VGS)的變化情況,有助于優(yōu)化驅(qū)動(dòng)電路的設(shè)計(jì)。
- 導(dǎo)通電阻與漏極電流和柵極電壓的關(guān)系:展示了導(dǎo)通電阻在不同漏極電流和柵極電壓下的變化,為電路設(shè)計(jì)提供了更詳細(xì)的參考。
- 導(dǎo)通電阻隨溫度的變化:反映了導(dǎo)通電阻隨結(jié)溫的變化趨勢(shì),對(duì)于考慮散熱設(shè)計(jì)和溫度補(bǔ)償具有重要意義。
- 漏源泄漏電流與電壓的關(guān)系:顯示了漏源泄漏電流(IDSS)隨漏源電壓(VDS)的變化情況,有助于評(píng)估 MOSFET 的關(guān)斷性能。
- 電容變化特性:展示了輸入電容(CISS)、輸出電容(COSS)和反向傳輸電容(CRSS)隨漏源電壓(VDS)的變化,對(duì)于高頻應(yīng)用的設(shè)計(jì)非常關(guān)鍵。
- 柵源和漏源電壓與總電荷的關(guān)系:體現(xiàn)了柵源電壓(VGS)、漏源電壓(VDS)與總柵極電荷(QG)之間的關(guān)系,對(duì)于優(yōu)化驅(qū)動(dòng)電路的設(shè)計(jì)和開(kāi)關(guān)性能具有重要指導(dǎo)作用。
- 電阻性開(kāi)關(guān)時(shí)間隨柵極電阻的變化:展示了開(kāi)關(guān)時(shí)間(td(on)、td(off)、tf)隨柵極電阻(RG)的變化情況,對(duì)于選擇合適的柵極電阻和優(yōu)化開(kāi)關(guān)速度非常重要。
- 二極管正向電壓與電流的關(guān)系:顯示了二極管正向電壓(VSD)隨源極電流(IS)的變化情況,有助于評(píng)估體二極管的性能。
- 安全工作區(qū):定義了 MOSFET 在不同電壓和電流條件下能夠安全工作的區(qū)域,為電路設(shè)計(jì)提供了重要的參考。
- IPEAK 與雪崩時(shí)間的關(guān)系:展示了峰值電流(IPEAK)與雪崩時(shí)間的關(guān)系,對(duì)于評(píng)估 MOSFET 在雪崩情況下的性能非常重要。
- 熱特性:展示了熱阻(RJA)隨脈沖時(shí)間的變化情況,對(duì)于散熱設(shè)計(jì)和熱管理具有重要意義。
訂購(gòu)信息
該器件的型號(hào)為 NVMYS3D5N04CTWG,標(biāo)記為 3D5N04C,采用 LFPAK4(Pb - Free)封裝,以 3000 個(gè)/盤(pán)帶和卷軸的形式發(fā)貨。
總結(jié)
NVMYS3D5N04C 是一款性能出色的 N 溝道 MOSFET,具有緊湊設(shè)計(jì)、低損耗、高可靠性等優(yōu)點(diǎn)。其豐富的電氣特性和典型特性曲線為工程師提供了詳細(xì)的設(shè)計(jì)參考。在實(shí)際應(yīng)用中,工程師可以根據(jù)具體的需求和電路要求,合理選擇和使用這款 MOSFET,以實(shí)現(xiàn)高效、穩(wěn)定的功率轉(zhuǎn)換和控制。
大家在使用這款 MOSFET 時(shí),有沒(méi)有遇到過(guò)什么問(wèn)題或者有什么獨(dú)特的應(yīng)用經(jīng)驗(yàn)?zāi)兀繗g迎在評(píng)論區(qū)分享交流。
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電子設(shè)計(jì)
+關(guān)注
關(guān)注
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高效N溝道MOSFET:NVMYS4D5N04C的技術(shù)解析與應(yīng)用洞察
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